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德國韋氏納米系統(tǒng)(香港)有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第9年

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First-Nano
薄膜測(cè)量系統(tǒng)
半自動(dòng)引線鍵合機(jī)
Etching刻蝕系統(tǒng)
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    Model 308 便攜式光功率計(jì) ●精確性 ●可靠性 ●可重復(fù)性 ●數(shù)顯直讀 ●便捷性

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    紫外光功率計(jì)UV meter
  • 光刻曝光分析儀

    45年來,OAI始終是紫外能量測(cè)試儀器領(lǐng)域的*應(yīng)用商,其儀器用于半導(dǎo)體、微機(jī)電系統(tǒng)、晶圓封裝和晶圓植球行業(yè)中光刻工藝的可靠,精確校準(zhǔn)控制。Model 659是一...

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    光刻曝光曝光分析儀

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