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EVG®620NT在小的占位面積（大150 mm晶圓尺寸）上提供了的掩模對(duì)準(zhǔn)技術(shù)。

EVG®610是一款緊湊的多功能研發(fā)系統(tǒng)，可處理200mm以下的小基板片和晶圓。

MFM1200設(shè)備是多功能推拉力測(cè)試機(jī)，可應(yīng)用于鉤針拉線；焊球推力；芯片推力；鑷子拉力等工作。具有友好的操作界面：**的軟件包括操作者的相關(guān)設(shè)置；

Royce 650拉力測(cè)試系統(tǒng)：Royce已有20多年研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，產(chǎn)品的升級(jí)創(chuàng)新一直處于，是目前業(yè)界拉力測(cè)試儀中精度高的一款設(shè)備。

高 準(zhǔn) 確 性 及 可 重 復(fù) 性，底座、夾具、校驗(yàn)治具、砝碼和測(cè)試工具可適用于各種不同尺寸的樣品。測(cè)試數(shù)據(jù)能與4000以及高性能的4000 Optima和40...

DAGE4000 Bond tester是一種多功能焊接強(qiáng)度測(cè)試儀，可執(zhí)行所有拉力和剪切力測(cè)試應(yīng)用。DAGE4000推拉力測(cè)試機(jī)可配置為簡單焊線拉力測(cè)試儀，也可...

Hys代ron® TS 77 Selec產(chǎn)自動(dòng)臺(tái)式納米力學(xué)和納米摩擦測(cè)試系統(tǒng)提供了同級(jí)別儀器中高的測(cè)試性能，功能性和易用性?；Р剪斂酥腡ribo...

海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克先進(jìn)的納米力學(xué)測(cè)試設(shè)備，同時(shí)具有高的性能、靈活性、可信度、實(shí)用性和速度。Bruker納米力學(xué)和納...

海思創(chuàng)TI 950 TriboIndenter納米壓痕儀是布魯克一臺(tái)用于多種納米力學(xué)和納米摩擦學(xué)表征的自動(dòng)化、高通量測(cè)試設(shè)備；納米力學(xué)測(cè)試設(shè)備 TI 950 T...

Bruker臺(tái)階儀Dektak XT也叫探針式表面輪廓儀（臺(tái)階儀）；實(shí)現(xiàn)了更高的重復(fù)性和分辨率，垂直高度重復(fù)性。實(shí)現(xiàn)了納米尺度的表面輪廓測(cè)量，在微電子、半導(dǎo)體、...

PICOSUN原子層沉積系統(tǒng)ALD R-300高級(jí)版；Picosun 300mm生產(chǎn)線上的產(chǎn)品是300mm以下晶圓的自動(dòng)化、高產(chǎn)量的工業(yè)ALD加工設(shè)備。

PICOSUN 原子層沉積系統(tǒng)ALD R-200 Pro；PICOSUN R-200 Advanced ALD系統(tǒng)適用于數(shù)十種應(yīng)用的研發(fā)，例如IC組件，MEMS...

PICOSUN原子層沉積系統(tǒng)ALD R-200高級(jí)版；系統(tǒng)適用于數(shù)十種應(yīng)用的研發(fā)，例如IC組件，MEMS器件，顯示器，LED，激光和3D對(duì)象，例如透鏡，光學(xué)器件...

PICOSUN®R-200標(biāo)準(zhǔn)ALD系統(tǒng)適用于數(shù)十種應(yīng)用的研發(fā)，例如IC組件，MEMS器件，顯示器，LED，激光和3D對(duì)象，例如透鏡，光學(xué)器件，珠寶，...

美國MARCH AP-1000等離子清洗系統(tǒng)在微電子加工過程中，特別是在芯片貼裝和絲線鍵合的過程中，需要對(duì)表面輕微有機(jī)污染或氧化物進(jìn)行清洗，在這種場(chǎng)合下，需要用...

美國MARCH AP-600等離子系統(tǒng)，具有易操作性強(qiáng)、可靠性高、低成本的優(yōu)點(diǎn)。*獨(dú)立的系統(tǒng)，需要很小的空間。等離子腔體、控制設(shè)備、13.56MHz的等離子發(fā)生...

D9600是現(xiàn)代聲學(xué)成像的標(biāo)準(zhǔn)，和上一代產(chǎn)品一樣提供了無以倫比的精度和穩(wěn)健性，增加了一個(gè)合并了PolyGate技術(shù)和Sonolytics的改進(jìn)型的電子與軟件平臺(tái)...

DAGE4000 Bond tester是一種多功能焊接強(qiáng)度測(cè)試儀，可執(zhí)行所有拉力和剪切力測(cè)試應(yīng)用。DAGE4000推拉力測(cè)試機(jī)可配置為簡單焊線拉力測(cè)試儀，也可...

SEMILAB-SE2000 全光譜橢偏測(cè)試平臺(tái)基于橢圓偏振測(cè)試技術(shù)，采用良好的旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器，結(jié)合光纖專li技術(shù)將偏振光信號(hào)傳輸至分段光譜優(yōu)化的高分辨率單色儀或陣...

SEMILAB-全光譜橢偏儀GES5E 基于橢圓偏振測(cè)試技術(shù)，采用良好的旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器，結(jié)合光纖技術(shù)將偏振光信號(hào)傳輸至分段光譜優(yōu)化的高分辨率單色儀或陣列式多通道攝譜...