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目錄:上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>半導(dǎo)體材料測(cè)試>>CV測(cè)試>> 汞CV測(cè)試系統(tǒng)

汞CV測(cè)試系統(tǒng)
  • 汞CV測(cè)試系統(tǒng)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 波銘科儀
  • 型號(hào)
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 產(chǎn)品資料 查看pdf文檔
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時(shí)間：2025-01-23 12:47:03瀏覽次數(shù)：332評(píng)價(jià)

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汞CV測(cè)試系統(tǒng)，用于對(duì)外延或前道工藝中的non-pattemed晶片做汞C-V測(cè)試;

MCV-530L可測(cè)最大200mm的樣品。

Capability:

  • Epi layer characterization
    -Dopant Profile-N(x)
    -Resistivity Profile-p(x)

  • Gate metrology
    -Oxide thickness-EOT
    -Flatland, threshold voltage-VFB,VT
    Effective oxide charge-QEFF
    -Dielectric constant-k
    -Interface state density-Dit

  • IV measurements of low-k dielectricsStepped voltage, stepped current,
    .Constant current modes
    -Leakage current-lL
    -VBDfor HMET
    -Field-to-breakdown-FBD
    -KSB, tsb,QBD, Vmax

汞CV測(cè)試系統(tǒng) 汞CV測(cè)試系統(tǒng)









上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。

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