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上海波銘科學(xué)儀器有限公司

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半導(dǎo)體材料測試

體微缺陷測試

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SIRM紅外體微缺陷分析儀參考價：面議
SIRM是非接觸和非破壞型光學(xué)檢測設(shè)備，對體微缺陷，如氧化物和金屬沉淀，位錯、堆垛層錯，體材料中的滑線和空隙等進(jìn)行測試。這個技術(shù)也可對GaAs 和 InP等復(fù)合...
型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：上海市對比

體微缺陷測試

2025/1/23 13:07:39336
LST體微缺陷測試設(shè)備參考價：面議
LST是檢測半導(dǎo)體材料的體微缺陷有力工具，通過CCD相機，對入射光在樣品邊沿的散射進(jìn)行掃描，獲得體微缺陷分布信息。
型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：上海市對比

體微缺陷測試

2025/1/23 13:06:03339

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