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北京圣達駿業(yè)科技有限公司
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  • 薄膜厚度測量儀-膜厚儀

    薄膜厚度測量儀-膜厚儀:Filmetrics的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數(shù),通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析,幾秒鐘內(nèi)就可測...

    型號: Filmetric... 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:48:58 對比
    供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度膜厚儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
  • Herz主動式減震系統(tǒng)

    Herz主動式減震系統(tǒng)平臺為電子顯微鏡和類似的大型研究儀器提供的主動隔振性能(從0.5Hz開始)。UT-1000A平臺通過消除,干擾測量的破壞性低頻振動噪聲,幫...

    型號: UT-1000A 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:46:47 對比
    主動式減震臺主動式減震設備供應主動式減震系統(tǒng)主動式減震系統(tǒng)報價主動式防震系統(tǒng)
  • 薄膜厚度測量儀

    F54薄膜厚度測量儀的產(chǎn)品能以一個電動R-Theta 平臺自動移動到選定的測量點以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度, 樣品直徑達450毫米,可選擇數(shù)十種內(nèi)...

    型號: F54 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:45:05 對比
    供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
  • 薄膜厚度測量儀

    薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設計目標,F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM 并進行顏色分析。

    型號: F10-RT 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:42:52 對比
    供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
  • AVI-600系列 主動式防震系統(tǒng)

    AVI-600系列 主動式防震系統(tǒng)為緊湊型的主動隔振系統(tǒng),是納米技術大型儀器隔振的解決方案。對升級和整合到現(xiàn)有的需要低頻隔振功能的設備來說是不錯的選擇。

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:40:47 對比
    主動式防震臺主動式防震設備被動式防震系統(tǒng)主動式防震系統(tǒng)報價供應主動式防震系統(tǒng)
  • 多波長橢偏儀

    多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器,可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)可靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要...

    型號: Film Sens... 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:39:05 對比
    測量儀器測量設備多波長橢偏儀報價多功能橢偏儀供應多功能橢偏儀
  • 智能型多功能橢偏儀

    智能型多功能橢偏儀是一款針對單層和多層薄膜進行簡單,快速,準確表征和分析的工具。 多功能性設計,配置靈活,具備多角度測量能力,可方便實現(xiàn)在線與離線配置切換。

    型號: Smart SE 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:37:25 對比
    測量儀器測量設備自動多功能橢偏儀多功能橢偏儀價格供應多功能橢偏儀
  • Lumina AT2 薄膜缺陷檢測儀

    Lumina AT2 薄膜缺陷檢測儀:實現(xiàn)亞納米薄膜涂層、納米顆粒、劃痕、凹坑、凸起、應力點和其他缺陷的全表面掃描和成像。實用于透明、硅、化合物半導體和金屬基底...

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:35:16 對比
    錨桿質(zhì)量檢測系統(tǒng)薄膜缺陷檢測儀器薄膜缺陷檢測設備薄膜缺陷檢測儀價格供應薄膜缺陷檢測儀
  • F3-sX薄膜厚度測量儀

    F3-sX薄膜厚度測量儀利用光譜反射原理,可以測試眾多半導體及電解層的厚度,可測厚度達3毫米。此類厚膜,相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻,F(xiàn)3-sX系列配置10...

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:33:23 對比
    供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
  • 薄膜厚度測量儀

    F54-XYT-300薄膜厚度測量儀具有集成的顯微鏡和實時攝像頭,可以精確監(jiān)控膜厚測量點。小尺寸的測量光斑允許測量有圖案的樣品,并且可以改良在較粗糙的材料上的測...

    型號: F54-XYT-3... 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:31:39 對比
    供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
  • F54-XY-200薄膜厚度測量儀

    F54-XY-200薄膜厚度測量儀:借助F54-XY-200光譜反射系統(tǒng),可以輕松地測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的...

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:29:21 對比
    供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置
  • HS華山系列被動式減震臺

    HS華山系列被動式減震臺采用:半膜片式空氣彈簧、整體焊接支架、鐵磁不銹鋼臺面(同OTP臺面)的氣浮隔振光學平臺,整體高度800mm,分為氣浮式支架和臺面兩部分。

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:26:55 對比
    自動式減震臺被動式減震設備被動式減震系統(tǒng)被動式減震臺報價精密防震工作臺
  • GS岡山系列被動式減震臺

    GS岡山系列被動式減震臺是整體焊接支架、鐵磁不銹鋼臺面 (同OTP 臺面)的標準雙頻阻尼被動式隔振平 臺,整體高度800mm,分為氣浮式支架和臺面 兩部分。

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:25:08 對比
    自動式減震臺被動式減震設備被動式減震系統(tǒng)被動式減震臺報價精密防震工作臺
  • AVI-200系列 精密防震工作臺

    AVI-200系列 精密防震工作臺適合對升級和整合到現(xiàn)有的需要低頻隔振功能的設備.AVI-200 WOKSTATION這款設備允許在一定的大小范圍內(nèi)增設額外的模...

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:22:59 對比
    自動式減震臺精密防震設備精密防震系統(tǒng)精密防震工作臺報價供應精密防震工作臺
  • AVI400系列 主動式減震系統(tǒng)

    AVI400系列 主動式減震系統(tǒng):Table Stable在減震行業(yè)內(nèi)有著相當豐富的經(jīng)驗。于此同時Table Stable測量技術也取得了很大的進步,一些靈敏度...

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:21:14 對比
    自動式減震臺自動式減震設備主動式減震臺主動式減震系統(tǒng)報價供應主動式減震系統(tǒng)
  • MINI450F主動式減震臺

    MINI450F主動式減震臺空間6自由度主動減振-擁有全頻段出色的抗振動效果,同時沒有共振,LCD-加速度時間波形顯示/加速度頻譜顯示。

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:18:54 對比
    自動式減震臺自動式減震設備主動式減震系統(tǒng)主動式減震報價供應主動式減震
  • KLA iNano 納米壓痕儀

    KLA iNano 納米壓痕儀:iNano為壓痕、硬度、劃痕測試和多元化納米級測試等納米級力學測試設計。iNano能夠測試包括軟質(zhì)高聚物到硬質(zhì)涂層和薄膜等在內(nèi)的...

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:17:11 對比
    供應納米壓痕儀納米壓痕測量儀納米壓痕測量系統(tǒng)納米壓痕儀報價電阻率測量裝置
  • Profilm3D光學輪廓儀

    Profilm3D光學輪廓儀使用的垂直干涉掃描(WLI)與高精度的相位干涉(PSI)技術。以低價格實現(xiàn)次納米級的表面形貌研究。

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:15:31 對比
    測量系統(tǒng)供應輪廓儀測量儀3D光學輪廓裝置3D光學輪廓設備
  • KLA探針式臺階儀P-7

    KLA探針式臺階儀P-7:P-7支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量,其掃描可...

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:13:24 對比
    測量儀器測量儀供應探針式臺階儀探針式臺階儀報價P-7探針式臺階儀測速探針
  • F50薄膜厚度測量儀

    F50薄膜厚度測量儀:依靠F50的光譜測量系統(tǒng),可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺,可以快速的定位所需測試的點并...

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/11/20 11:11:08 對比
    供應薄膜厚度測量儀薄膜厚度測量儀測量特性分析測量儀薄膜厚度測量儀報價電阻率測量裝置

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