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這款非接觸式探針臺是為高頻電子設(shè)備、IC和材料測試/表征設(shè)計(jì)的非接觸式探針測試分析系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)了整個毫米波和太赫茲波段電子設(shè)備和IC的自動S參數(shù)表征。測量范圍為55GHz-1.1THz
非接觸式探針臺還是全自動的探測試驗(yàn)臺,能夠?qū)A上的每個芯片進(jìn)行無人值守的檢查,并具有如下功能：
毫米波和太赫茲波段的片上S參數(shù)測量
無磨損，消除了接觸式微探針的主要缺點(diǎn)
亞微米對準(zhǔn)重復(fù)精度，實(shí)現(xiàn)可靠和可重復(fù)的測量
通過精確的晶圓校準(zhǔn)實(shí)現(xiàn)多端口器件和IC特性
適用于整個毫米波太赫茲波段的通用、經(jīng)濟(jì)高效的測試臺
非接觸式探針臺還可以做成材料表征系統(tǒng)使用高精度機(jī)械臂和新型校準(zhǔn)，以1000分之一的精度精確測量材料面板和薄膜的介電常數(shù)和損耗角正切。