日本Otsuka大塚FHS-1000高靈敏度光譜儀
- 公司名稱(chēng) 成都藤田科技有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號(hào)
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時(shí)間 2025/2/22 11:23:31
- 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 29
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進(jìn)出口業(yè)務(wù),日本武藏點(diǎn)膠機(jī),日本豪雅檢測(cè)光源,??狄曈X(jué)成像,安泰信焊錫設(shè)備
產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
日本Otsuka大塚FHS-1000高靈敏度光譜儀-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特長(zhǎng)
采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵),
0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m2的高亮度都可測(cè)量,
對(duì)應(yīng)CIE推薦的寬波長(zhǎng)范圍(355nm至835 nm)
光學(xué)系統(tǒng)降低了偏振誤差(<1%),
并且像LCD一樣具有偏振特性的樣品也可以進(jìn)行高精度測(cè)量
可以執(zhí)行最短1秒的高速測(cè)量,包括通信時(shí)間。
(在連續(xù)測(cè)量的情況下,可以更快的進(jìn)行測(cè)量,最短約20毫秒/次)
可在不改變測(cè)量角度下測(cè)量的廣泛的亮度范圍。
(測(cè)量角度2°時(shí),0.005cd / m2~4,000cd / m2)
可以對(duì)頻率照明光源執(zhí)行高精度的穩(wěn)定測(cè)量。
(輸入照明頻率自動(dòng)將曝光時(shí)間設(shè)置為照明周期的整數(shù)倍)
搭載了對(duì)應(yīng)響應(yīng)測(cè)量的產(chǎn)品?!?br/>也可能對(duì)應(yīng)人眼可視顏色外觀模型“CIECAM 02標(biāo)準(zhǔn)“的輸出?!?br/>考慮到眼睛薄度(浦肯野現(xiàn)象現(xiàn)象),也可對(duì)應(yīng)“CIE 200:2011標(biāo)準(zhǔn)“的輸出?!?br/>
測(cè)定項(xiàng)目
-輻射率(W / sr / m 2)
- 亮度(cd / m 2)
- 色度坐標(biāo)xy [符合CIE 1931]
- 色度坐標(biāo)U'V'[CIE 1976兼容]
- 色度坐標(biāo)U'V'[符合CIE 1976]
- 相關(guān)色溫 - 色度(C)* 3
- CIE顏色系統(tǒng)2°/ 10°
- 三刺激值XYZ - 等效亮度值* 4
- 偏差
- 光譜數(shù)據(jù)的算術(shù)運(yùn)算
- 光譜數(shù)據(jù)的功能處理
- 色域(NTSC比率)* 1
- 響應(yīng)速度* 2
- 明度(J)* 3
- 亮度(Q)* 3
- 飽和度(s)* 3
- 色度(C)* 3
- 色彩(M)* 3
* 1選項(xiàng)
* 2使用HS-1000 RT
* 3符合CIECAM 02標(biāo)準(zhǔn)時(shí)
* 4 CIE 200:符合2011標(biāo)準(zhǔn)時(shí)
用途:
LCD、PDP、有機(jī)EL,大屏幕LED等的視覺(jué)光譜數(shù)據(jù)•亮度•色度•相關(guān)色溫測(cè)量
照明光源的光譜數(shù)據(jù),例如燈•亮度•色度•相關(guān)色溫測(cè)量
作為各種亮度/色度測(cè)量?jī)x器的參考設(shè)備
對(duì)非接觸式物體的顏色測(cè)量
規(guī)格式樣
HS-1000 | |
---|---|
測(cè)色方式 | 分光方式 |
波長(zhǎng)范圍 | 355 nm ~ 835 nm / 330 nm ~ 1100 nm |
量測(cè)角 | 0.1°、0.2°、1°、2° |
測(cè)量距離※ | 24 0mm ~ ∞ |
測(cè)量面積直徑 | 約10.0m m以下 |
測(cè)量面積直徑 | 約5.0mm 以下 |
測(cè)量面積直徑 | 約1.0mm 以下 |
測(cè)量面積直徑 | 約0.5mm 以下 |
輝度精度 | ±2% |
色度精度 | ±0.002 以下 |
尺寸 | 187(W) x 249(H) x 400(D) mm 以下 |
重量 | 約7.5kg 以下 |
※以接物鏡頭之前端為起始
系統(tǒng)架構(gòu)圖
核心特點(diǎn):
超大基板全覆蓋:專(zhuān)為下一代尺寸玻璃基板設(shè)計(jì)(支持超長(zhǎng)/超寬規(guī)格),可高效測(cè)量LCD、TFT、有機(jī)EL等大型面板,兼容PI、ITO、SiN、介電層等復(fù)雜膜層結(jié)構(gòu)。
納米級(jí)精度與秒級(jí)速度:采用分光干涉+AI算法技術(shù),單點(diǎn)測(cè)量時(shí)間<1秒,膜厚精度±0.1nm,光學(xué)常數(shù)(n/k)解析<0.5%,滿(mǎn)足量產(chǎn)級(jí)質(zhì)量控制需求。
全場(chǎng)景適配性:從研發(fā)實(shí)驗(yàn)室到自動(dòng)化產(chǎn)線(xiàn),支持在線(xiàn)(inline)集成,可定制XYZ多軸平臺(tái),實(shí)現(xiàn)基板全域厚度分布映射與缺陷快速篩查。
高速量產(chǎn)優(yōu)化:每小時(shí)可檢測(cè)超3000點(diǎn),支持多探頭并行測(cè)量,大幅提升玻璃基板(如G8/G10)產(chǎn)線(xiàn)效率,降低設(shè)備綜合成本(CoO)。
超薄與超厚膜通吃:量程覆蓋1nm至200μm,適用于OC(光學(xué)膠)、Resist(光刻膠)等軟膜與硬質(zhì)涂層的精準(zhǔn)厚度控制。
低維護(hù):非接觸式測(cè)量設(shè)計(jì),無(wú)探針損耗,長(zhǎng)期使用穩(wěn)定性達(dá)99.8%,搭配遠(yuǎn)程診斷功能,減少停機(jī)風(fēng)險(xiǎn)。
日本Otsuka大塚FHS-1000高靈敏度光譜儀-成都藤田科技提供
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