完整的SECM電化學(xué)顯微鏡解決方案

    布魯克*的PeakForce SECM™ 模塊是完備商用解決方案，在基于原子力顯微鏡的掃描電化學(xué)顯微鏡上實(shí)現(xiàn)了小于100納米的空間分辨率。通過(guò)創(chuàng)新性探針設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)納米級(jí)分辨率的基于原子力顯微鏡的掃描電化學(xué)顯微鏡目前已廣泛應(yīng)用于新興研究領(lǐng)域，如化學(xué)動(dòng)力學(xué)，生物化學(xué)信號(hào)傳導(dǎo)和環(huán)境化學(xué)等。此外，此技術(shù)可以納米級(jí)橫向分辨同時(shí)獲取形貌、電化學(xué)、電學(xué)和機(jī)械性能等圖譜。PeakForce SECM™充分利用峰值力模式的優(yōu)勢(shì)從根本上重新定義了在液下能實(shí)現(xiàn)哪些電學(xué)和化學(xué)過(guò)程的納米尺度的觀察。 

PeakForce SECM*實(shí)現(xiàn)了:

（1）以往無(wú)法獲得的<100 nm 空間分辨率的電化學(xué)信息

（2）同時(shí)實(shí)現(xiàn)液相下電化學(xué)、電學(xué)和機(jī)械性能等圖譜

（3）專為SECM設(shè)計(jì)的可靠而簡(jiǎn)單易用的商用原子力探針

（4）在Dimension Icon^®原子力顯微鏡上實(shí)現(xiàn)高分辨的SECM和原子力顯微成像

Au上的一個(gè)甜甜圈型圖案，使用PeakForce SECM在微壓印SAM（自組裝）樣品上成像。(A) 形貌圖中高度差僅幾個(gè)納米；(B) 黏附力圖清晰地顯示出兩種化學(xué)性質(zhì)不同的區(qū)域； (C) 電流圖顯示出SAM因其絕緣特性降低了針尖的法拉第電流。 Image courtesy of A. Mark and S. G?drich, University of Bayreuth.