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TESCAN VEGA 鎢燈絲掃描電鏡

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 冠乾科技(上海)有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間 2023/8/18 11:56:48
  • 訪問次數(shù) 1242

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冠乾科技Grant Technology 有限公司創(chuàng)立于中國(guó)上海。 公司為用戶提供先進(jìn)可靠的設(shè)備及、

儀器技術(shù),為客戶把握工藝過程,得到優(yōu)質(zhì)的結(jié)果而服務(wù)。
Grant是“授予”的意思,希望公司能夠成為一個(gè)平臺(tái),以用戶能夠得到上更新更快的技術(shù)資訊,技術(shù)方案為企業(yè)目標(biāo)。

冠乾科技追求品質(zhì)產(chǎn)品、專業(yè)的應(yīng)用和完善的售后服務(wù),我們是您可以信賴的合作伙伴。

工藝設(shè)備:真空鍍膜機(jī);離子束刻蝕機(jī),ICP刻蝕機(jī),等

產(chǎn)品線豐富,元素分析:原子吸收,氣相色譜,液相色譜,氣質(zhì)聯(lián)用,紫外分光光度計(jì)等; 熱分析:材料表面分析:原子力顯微鏡,光學(xué)輪廓儀,摩擦磨損等;  通用分析:掃描電鏡,

實(shí)驗(yàn)室儀器
原子吸收光譜儀
近紅外光譜儀
紫外分光光度計(jì)
電化學(xué)工作站
紅外光譜儀
鍍層測(cè)厚儀
數(shù)字顯微鏡
影像測(cè)量?jī)x
Wafer 粗糙度檢測(cè)
3D 輪廓儀
超景深顯微鏡
TTV 測(cè)試
掃描探針顯微鏡
臺(tái)式掃描電鏡

其他儀器:
四探針測(cè)試
離子減薄機(jī)

 

原子力顯微鏡,摩擦磨損試驗(yàn)機(jī),超景深顯微鏡,鍍膜機(jī)

背散射電子圖像分辨率 3.5 nm @ 30 keV 產(chǎn)地類別 進(jìn)口
二次電子圖象分辨率 3.0 nm @ 30 keVnm 放大倍數(shù) 2~1,000,000xx
加速電壓 200V~30KV,連續(xù)可調(diào)kV 價(jià)格區(qū)間 面議
儀器種類 鎢燈絲 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子,航天,電氣

 TESCANVEGA第四代鎢燈絲掃描電子顯微鏡,采用全新的Essence™電鏡操控軟件系統(tǒng),將掃描形貌圖像與元素實(shí)時(shí)分析集成于同一個(gè)掃描窗口中。這種組合大大簡(jiǎn)化了樣品表面形貌的采集及所含元素的數(shù)據(jù)分析工作,使得全新的第四代VEGASEM成為質(zhì)量控制、故障分析和研究實(shí)驗(yàn)室中常規(guī)材料等檢測(cè)提供更高效的分析的解決方案。  

TESCANVEGA采用創(chuàng)新的電子光學(xué)設(shè)計(jì),確保在需要時(shí)即時(shí)、無縫地選擇成像或分析條件,無需對(duì)任何電子光學(xué)鏡筒內(nèi)的元件進(jìn)行機(jī)械對(duì)中。可以配置真空緩沖節(jié)能單元,使用后可顯著縮短機(jī)械泵的運(yùn)行時(shí)間,從而達(dá)到節(jié)能、環(huán)保的要求。  


TESCANVEGA鎢燈絲掃描電鏡主要特點(diǎn):  

集成的TESCANEssence™EDS分析平臺(tái),在Essence™電鏡操控軟件的單一窗口中即可實(shí)現(xiàn)SEM成像和元素成分分析。  

TESCAN采用*的無機(jī)械光闌設(shè)計(jì),采用實(shí)時(shí)電子束追蹤(InFlightBeamTracing™)的技術(shù),可幫助用戶快速獲得電鏡合適的成像及分析條件。  

大視野光路(WideFieldOptics™)設(shè)計(jì),低至2倍的放大倍數(shù),無需額外的光學(xué)導(dǎo)航攝像頭即可輕松、精確地實(shí)現(xiàn)SEM導(dǎo)航。  

直觀、模塊化的Essence™軟件設(shè)計(jì),不同經(jīng)驗(yàn)等級(jí)的用戶均可輕松操作。  

在樣品臺(tái)及裝置的樣品運(yùn)動(dòng)過程中,Essence™3D防碰撞模塊可以直觀的顯示安裝樣品室內(nèi)的探測(cè)器及樣品臺(tái)的位置信息,提供安全性的保護(hù)。  

SingleVac™模式作為標(biāo)準(zhǔn)配置,為觀測(cè)不導(dǎo)電樣品和電子束敏感的樣品提供便利的分析利器。  

可選配的真空緩沖節(jié)能單元可顯著縮短機(jī)械泵的運(yùn)行時(shí)間,提供環(huán)保、高經(jīng)濟(jì)效益的電子顯微鏡。  

模塊化分析平臺(tái),可選配集成最多種類的探測(cè)器和附件(如陰極熒光探測(cè)器,水冷背散射電子探測(cè)器或拉曼光譜儀等)。  


TESCANVEGA鎢燈絲掃描電鏡大視野設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)低倍精確導(dǎo)航 

利用大視野光路(WideFieldOptics™)技術(shù),用戶可通過掃描窗口實(shí)時(shí)觀察樣品,直接實(shí)現(xiàn)感興趣位置的精確導(dǎo)航。大視野光路技術(shù)取代了傳統(tǒng)的CCD導(dǎo)航相機(jī),提供大景深,同時(shí)也提供樣品實(shí)際形貌的圖像,實(shí)現(xiàn)更直觀、*進(jìn)的樣品導(dǎo)航過程。在SEM觀測(cè)窗口中,最小2倍的放大倍率保證了大視野無畸變的圖像實(shí)時(shí)觀測(cè),可連續(xù)放大感興趣的區(qū)域,無需光學(xué)導(dǎo)航相機(jī)。實(shí)時(shí)的SEM窗口同樣可與預(yù)傾斜樣品臺(tái)(如EBSD預(yù)傾臺(tái))配合使用,對(duì)于需要傾斜分析的樣品,支持掃描傾斜校正,從而實(shí)現(xiàn)更精確的導(dǎo)航。  

自動(dòng)操作  

通過一次點(diǎn)擊就可以進(jìn)行自動(dòng)燈絲加熱和電子槍對(duì)中。眾多的自動(dòng)程序減少了用戶的操作時(shí)間,并提供了操作的自動(dòng)導(dǎo)航與自動(dòng)化分析。通過內(nèi)置腳本語言(Python)用戶可以進(jìn)入軟件大多數(shù)功能,包括電鏡控制、樣品臺(tái)導(dǎo)航、圖像采集、處理與分析。通過腳本語言用戶也可以自定義軟件的自動(dòng)操作。  

全新的EssenceTM電鏡控制軟件  

用戶界面有各種語言版本。  

集成的Essence™EDS能譜軟件,輕松快捷地實(shí)現(xiàn)從成像切換到元素分析,通過軟件一鍵即可實(shí)現(xiàn)所有設(shè)置參數(shù)的更改。  

具備快速搜索功能、命令撤消及參數(shù)預(yù)設(shè)等多種功能,幫助用戶高效、快捷地完成分析工作。  

允許用戶設(shè)定符合其自身體驗(yàn)水平或特定應(yīng)用的工作流程。  

Essence™防碰撞模型軟件能夠直觀的模擬出樣品室內(nèi)情況,有效避免碰撞的發(fā)生。  

內(nèi)置的自動(dòng)系統(tǒng)檢查。  

通過局域網(wǎng)或互聯(lián)網(wǎng)可實(shí)現(xiàn)電鏡遠(yuǎn)程診斷。  

模塊化軟件體系結(jié)構(gòu)。  

標(biāo)準(zhǔn)的軟件模塊包括了:光電聯(lián)用、測(cè)量工具、圖像處理、對(duì)象區(qū)域等。  

選配軟件包括了:顆粒度分析、三維表面重構(gòu)等。  


軟件:  

測(cè)量軟件,公差測(cè)量軟件  

圖像處理  

預(yù)設(shè)參數(shù)  

直方圖及LUT  

SharkSEM™基礎(chǔ)版(遠(yuǎn)程控制)  

3D防碰撞模型軟件  

對(duì)象區(qū)域  

光電聯(lián)用  

定時(shí)關(guān)機(jī)  

CORAL™(用于生命科學(xué)的電鏡模塊)  

自動(dòng)拼圖軟件  

樣品觀察  

TESCANFlow™(離線處理軟件)  

根據(jù)實(shí)際配置和需求  


探測(cè)器和附件:  

皮安計(jì),包含防碰撞報(bào)警功能  

樣品室內(nèi)Everhart-Thornley式二次電子探測(cè)器(SE)  

用于觀察樣品室內(nèi)部情況的紅外攝像機(jī)  

可伸縮-閃爍體式背散射電子探測(cè)器  

陰極熒光探測(cè)器  

共聚焦拉曼光譜  

其它各種附件可供選擇

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