菲希爾FISCHERSCOPE XDV-μ鍍層厚度測(cè)量?jī)x：X 射線熒光測(cè)試儀，配有多毛細(xì)孔 X 射線光學(xué)系統(tǒng)，可自動(dòng)測(cè)量和分析微小部件及結(jié)構(gòu)上鍍層厚度和成分。FISCHERSCOPE XDV-u鍍層厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)：優(yōu)化的微區(qū)分析測(cè)試儀器；根據(jù)X射線光學(xué)系統(tǒng)，可以對(duì)100 μm或更小的結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析；*的能量強(qiáng)度，從而實(shí)現(xiàn)出色的精度。

菲希爾FISCHERSCOPE XDV-μ鍍層厚度測(cè)量?jī)x

        X 射線熒光測(cè)試儀，配有多毛細(xì)孔 X 射線光學(xué)系統(tǒng)，可自動(dòng)測(cè)量和分析微小部件及結(jié)構(gòu)上鍍層厚度和成分。

FISCHERSCOPE XDV-u鍍層厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)

• 優(yōu)化的微區(qū)分析測(cè)試儀器
• 根據(jù)X射線光學(xué)系統(tǒng)，可以對(duì)100 μm或更小的結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析
• *的能量強(qiáng)度，從而實(shí)現(xiàn)出色的精度
• 即使對(duì)于薄鍍層，測(cè)量的不確定度也有可能做到 < 1 nm
• 只適用于平面的或是接近平面的樣品
• 底部C型開(kāi)槽的大容量測(cè)量艙
• 通過(guò)快速、可編程的 XY 工作臺(tái)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量

FISCHER XDV-u鍍層厚度測(cè)量?jī)x典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 測(cè)量印刷線路板、引線框架和芯片上的鍍層系統(tǒng)
• 測(cè)量細(xì)小部件和細(xì)電線上的鍍層系統(tǒng)
• 分析微小結(jié)構(gòu)和微小部件的材料成分

X射線測(cè)厚儀原理

　　XRAY測(cè)厚儀原理是根據(jù)XRAY穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來(lái)進(jìn)行轉(zhuǎn)換測(cè)量厚度的，即測(cè)量被測(cè)鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過(guò)前置放大器放大，再由測(cè)厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號(hào)。

　　X射線測(cè)厚儀適用范圍

　　XRAY測(cè)厚儀適用于生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，XRAY測(cè)厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。

　　菲希爾電解測(cè)厚儀 - 用于庫(kù)侖電量分析的涂層厚度測(cè)量?jī)x器。