FISCHERSCOPE XDLM X射線熒光測(cè)厚儀

        用于對(duì)電路板、電子元件和批量零件的涂層厚度進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)測(cè)量，也適用于小型結(jié)構(gòu)
        X射線熒光測(cè)試儀，可在微小樣品上，手動(dòng)或全自動(dòng)測(cè)量印刷線路板、電子元件和大規(guī)模生產(chǎn)零部件上的鍍層厚度。包括鎳層測(cè)厚、化鎳厚度等。

FISCHERSCOPE XDLM X射線熒光測(cè)厚儀特點(diǎn)

• 通用性極廣，因?yàn)榕鋫淞宋⒕劢构堋?個(gè)可切換準(zhǔn)直器和 3 個(gè)基本濾片
• 適用于微小結(jié)構(gòu)，如接插件或線路板
• 還適用于遠(yuǎn)距離測(cè)量（DCM方法，范圍0-80 mm）
• 底部C型開(kāi)槽的大容量測(cè)量艙
• 可編程的臺(tái)式設(shè)備，用于自動(dòng)測(cè)量 

典型應(yīng)用領(lǐng)域

•  測(cè)量印刷線路板工業(yè)中，薄金、鈀和鎳鍍層。鎳層測(cè)厚、化鎳厚度

• 測(cè)量接插件鍍層和觸點(diǎn)鍍層。

• 在電子和半導(dǎo)體行業(yè)中測(cè)量功能性鍍層。

• 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)。

　　X射線測(cè)厚儀原理

　　XRAY測(cè)厚儀原理是根據(jù)XRAY穿透被測(cè)物時(shí)的強(qiáng)度衰減來(lái)進(jìn)行轉(zhuǎn)換測(cè)量厚度的，即測(cè)量被測(cè)鋼板所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過(guò)前置放大器放大，再由測(cè)厚儀操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為顯示給人們以直觀的實(shí)際厚度信號(hào)。

　　X射線測(cè)厚儀適用范圍

　　XRAY測(cè)厚儀適用于生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，XRAY測(cè)厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。

　　菲希爾電解測(cè)厚儀 - 用于庫(kù)侖電量分析的涂層厚度測(cè)量?jī)x器。