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上海首立智慧科技有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第3年

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當(dāng)前位置:上海首立智慧科技有限公司>>HORIBA(理科學(xué))>>X射線熒光光譜儀>> XGT-9000HORIBA堀場(chǎng)微區(qū)X射線熒光分析儀

HORIBA堀場(chǎng)微區(qū)X射線熒光分析儀

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)XGT-9000

品       牌HORIBA/堀場(chǎng)

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地上海市

更新時(shí)間:2023-08-10 13:47:50瀏覽次數(shù):997次

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價(jià)格區(qū)間 面議 行業(yè)專用類型 其它
儀器種類 臺(tái)式/落地式 應(yīng)用領(lǐng)域 生物產(chǎn)業(yè),地礦,能源,制藥
HORIBA堀場(chǎng)微區(qū)X射線熒光分析儀
型號(hào)XGT-9000
XGT-9000 樣品倉(cāng)可容納各種樣品,包括微型碎片、印刷電路板、硬幣、薄片、粉末、液體、晶圓等,并根據(jù)需求提供樣品架。

HORIBA堀場(chǎng)微區(qū)X射線熒光分析儀

XGT-9000

速度和靈活性兼?zhèn)涫俏^(qū) X 射線熒光光譜的發(fā)展方向

   

<15µm高強(qiáng)度X射線頭,兼具高靈敏度和高空間分辨率

高分辨相機(jī)和多種照明模式成像

雙檢測(cè)器,熒光X射線檢測(cè)器和透射X射線檢測(cè)器

輕元素檢測(cè)器使元素檢測(cè)范圍下延到C元素

HORIBA堀場(chǎng)微區(qū)X射線熒光分析儀

技術(shù)參數(shù)

型號(hào)

XGT-9000

XGT-9000SL

基本信息

儀器

微區(qū)X射線熒光分析儀

樣品類型

固體、液體、顆粒

檢測(cè)元素

輕元素檢測(cè)器:C* – Am
(常規(guī)檢測(cè)器:F – Am)

樣品倉(cāng)尺寸

450(W) x 500(D) x 80(H)

1030(W) x 950(D) x 500(H)

樣品尺寸

300(W) x 250(D) x 80(H)

500(W) x 500(D) x 500(H)

樣品質(zhì)量

1 kg

10 kg

光學(xué)觀察

兩個(gè)帶物鏡的高分辨率相機(jī)

光學(xué)設(shè)計(jì)

垂直同軸 X 射線和光學(xué)觀察

樣品照明/觀察

頂部、底部和側(cè)向照明/明場(chǎng)和暗場(chǎng)

X-射線管

功率

50 W

電壓

50 kV以下

電流

1 mA以內(nèi)

靶材

Rh

X射線光光學(xué)系統(tǒng)

X射線頭數(shù)量

多達(dá)配置四個(gè)

光譜優(yōu)化初級(jí)X-射線濾光片  

5個(gè)位置

檢測(cè)器

熒光X-射線檢測(cè)器

硅漂移檢測(cè)器(SDD)

透射X射線檢測(cè)器

NaI(Tl)

掃描分析

掃描范圍

100 mm x 100 mm

350 mm x 350 mm

步進(jìn)尺寸

2 mm

4 mm

Operating mode

樣品環(huán)境

全真空/局部真空/大氣環(huán)境/He吹掃(選配)

局部真空/大氣環(huán)境/He吹掃(選配)*He吹掃條件對(duì)于兩個(gè)檢測(cè)器都檢測(cè)到C和F是必要的。



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