AW-6600能量色散X熒光光譜儀
產(chǎn)品特點
1.6.1 EDX6600可專門針對金屬鍍層厚度及成分含量進行分析。
1.6.2打破傳統(tǒng)儀器直線的設(shè)計，采用流線體的整體化設(shè)計，儀器簡潔大方。
AW-6600能量色散X熒光光譜儀
AW-6600能量色散X熒光光譜儀
2.儀器硬件主要配置
2.1 Si-pin電制冷半導體探測器
2.1.1. Si-pin電制冷半導體探測器；分辨率:149±5eV。
2.1.2. 放大電路模塊：對樣品特征X射線進行探測，將探測采集的信號進一步放大。
2.2 X光管（專用小焦點X光管）:
2.2.1 燈絲電流：最大1mA。
2.2.2 屬于半損耗型部件，設(shè)計使用壽命大于10000小時。
2.3 高低壓電源:
2.3.1.電壓最大輸出：50kV。
2.3.2.最小5kv可控調(diào)節(jié)。
2.3.3.自帶電壓過載保護。
2.4 多道分析器:
2.4.1. 將采集的模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號,并將處理結(jié)果提供給上位機軟件。
2.4.2 最大道數(shù)：4096。
2.4.3 包含信號增強處理。
2.5光路過濾模塊
2.5.1 降低X射線光路發(fā)送過程中的干擾，保證探測器接收信號準確。
2.5.2 將準直器與濾光處組合；
2.6 準直器自動切換模塊
2.6.1 多種選擇，口徑分別為8、4、2、1、0.5mm。
2.7濾光片自動切換模塊
2.7.1五種濾光片的自由選擇和切換。
2.8準直器和濾光片自由組合模塊
2.8.1多達幾十種的準直器和濾光片的自由組合。
3.金屬鍍層專用分析軟件
3.1 元素分析范圍：從硫（S）到鈾（U）。
3.2 分析檢出限可達0.01μm。
3.3 分析厚度一般為0.1μm至30μm之間。
3.4 多次測量重復性可達0.1μm（對于小于1μm的最外層鍍層）。
3.5 長期工作穩(wěn)定性為0.1μm（對于小于1μm的最外層鍍層）。
4.附件
4.1 樣品腔：開放式大樣品腔。
4.2 標準樣品：鍍層標樣。
5.產(chǎn)品保修及售后服務
5.1 免費對客戶方操作人員進行培訓。
5.2 安裝、調(diào)試、驗收、培訓及售后服務均為免費在用戶方現(xiàn)場進行。
5.3正常使用，經(jīng)本公司確認屬工藝或材質(zhì)缺陷引起的故障，且未經(jīng)拆修，儀器自驗收合格之日起保修壹年。
5.4 產(chǎn)品終身維修（客戶必須有填寫詳細、真實的有效購買憑證，發(fā)票和保修卡等）。
5.5 免費提供軟件升級。
5.6 提供技術(shù)服務，在接到用戶故障信息后，2小時內(nèi)響應，如有需要，24小時內(nèi)派人上門維修和排除故障。
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