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目錄:賽非特科學(xué)儀器(蘇州)有限公司>>透射電子顯微鏡>> JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡

JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡
  • JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 蘇州市
屬性

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更新時(shí)間:2024-09-01 20:57:34瀏覽次數(shù):784評價(jià)

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JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強(qiáng),外觀設(shè)計(jì)精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。
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  • 以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強(qiáng),外觀設(shè)計(jì)精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗(yàn)。


  • JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡外觀設(shè)計(jì)精煉

  • 精煉的外型,全新的視覺感受。
    為分析型電鏡全新設(shè)計(jì)的GUI,使操作更加直觀方便。
    JEOL長年積累的豐富經(jīng)驗(yàn)在設(shè)計(jì)上得到了充分的體現(xiàn),與舊機(jī)型相比,電鏡的機(jī)械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高。

  • JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡四級聚光鏡系統(tǒng)

  • 現(xiàn)在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術(shù)--- 從明場/暗場的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術(shù)。 該設(shè)備采用新型四級聚光鏡照射光學(xué)系統(tǒng)-“Quad-Lens condenser system",通過分別控制電子束強(qiáng)度和匯聚角,能滿足各種研究的需求。

  • 掃描系統(tǒng)

  • JEM-F200可以實(shí)現(xiàn)大視野的STEM-EELS分析,該設(shè)備在常規(guī)的照明系統(tǒng)的電子束掃描功能之上,增加了新的掃描系統(tǒng)-“Advanced Scan System" 即成像系統(tǒng)的電子束掃描功能(選配)。

  • 皮米樣品臺(tái)驅(qū)動(dòng)

  • JEM-F200 采用能以皮米級步長移動(dòng)樣品臺(tái)的Pico stage drive(不用壓電驅(qū)動(dòng)),能在寬動(dòng)態(tài)范圍移動(dòng)視野-從樣品的整個(gè)柵網(wǎng)視野移動(dòng)到原子級圖像視野移動(dòng)都能進(jìn)行。

  • SpecPorter(自動(dòng)插入和拔出樣品桿的裝置)

  • 插入和拔出樣品桿,對電鏡初學(xué)者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter,即使新手也能輕松掌握,將樣品桿安裝在位置上,只用一個(gè)按鈕即能安全地插入或拔出

  • 改進(jìn)的冷場發(fā)射電子槍

  • JEM-F200能安裝高穩(wěn)定性、高亮度和高能量分辨率的冷場發(fā)射電子槍(選配),該槍的利用可以進(jìn)行EELS化學(xué)結(jié)合狀態(tài)分析,高亮度的電子束縮短了分析時(shí)間,并且還降低了來自光源的色差,實(shí)現(xiàn)了高分辨率的觀察。

  • 雙能譜(SDD)

  • JEM-F200能同時(shí)安裝兩個(gè)大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器(SDD)(選配件)。 憑借更高的靈敏度,EDS分析速度更快,對樣品的損傷更小。

  • 環(huán)保節(jié)能

  • JEM-F200是第一個(gè)標(biāo)配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統(tǒng)能將能源消耗降低到正常模式時(shí)的1/5,可以在裝置不運(yùn)行時(shí),以最小的能耗保持著電鏡的最佳條件。該設(shè)備具有排程功能,能在時(shí)間將電鏡從ECO模式恢復(fù)到工作狀態(tài)。


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