OmniScan X3 64奧林巴斯OLYMPUS相控陣探傷儀

提前確認(rèn)TFM（全聚焦方式）聲波覆蓋范圍

聲學(xué)影響圖（AIM）工具可以基于您的TFM（全聚焦方式）模式、探頭、設(shè)置和模擬反射體，即時(shí)提供靈敏度的可視化模型。

聲學(xué)影響圖（AIM）工具消除了掃查計(jì)劃創(chuàng)建過(guò)程中的猜測(cè)因素，因?yàn)槠聊簧蠒?huì)顯示某個(gè)聲波組（TFM模式）的效果圖，使您看到靈敏度消失的位置，并對(duì)掃查計(jì)劃進(jìn)行相應(yīng)的調(diào)整。

最多顯示4種TFM模式，方便了缺陷的解讀和定量

在同一個(gè)檢測(cè)中使用不同的TFM（全聚焦方式）模式（聲波組），使您更有希望探測(cè)到方向不規(guī)則的缺陷指示。OmniScan X3探傷儀可以最多同時(shí)顯示4種模式的全聚焦方式（TFM）圖像，從而使您看到從不同角度生成的圖像。來(lái)自每種模式的響應(yīng)和特征，如：端部衍射、圓角凹陷和缺陷剖面，可被綜合在一起進(jìn)行分析，從而可以確認(rèn)缺陷類型，并提高缺陷定量性能。

使用內(nèi)置工具簡(jiǎn)化您的NDT（無(wú)損檢測(cè)）工作流程

1. 掃查計(jì)劃

執(zhí)行步驟 1、2、3，在儀器上設(shè)置您的檢測(cè)

2. 校準(zhǔn)

使用內(nèi)置工具進(jìn)行*合規(guī)的校準(zhǔn)

3. 采集

在檢測(cè)過(guò)程中查看實(shí)時(shí)掃查結(jié)果

4. 分析

快速而自信地解讀您的數(shù)據(jù)

實(shí)時(shí)TFM（全聚焦方式）包絡(luò)處理

簡(jiǎn)化了缺陷的表征和定量

儀器*的包絡(luò)處理功能可以生成高分辨率的TFM（全聚焦方式）圖像。圖中的信號(hào)指示干凈、清晰，在背景噪聲的襯托下，顯得更加鮮明突出。最多可顯示4種TFM（全聚焦方式）圖像，有助于缺陷的解讀和定量。

當(dāng)精確度至關(guān)重要時(shí)

在更低的頻率和更寬的帶寬上清晰地觀察

1. 與32通道型號(hào)相比，64通道型號(hào)可在更寬的帶寬上為更高和更低的頻率提供更高的信噪比（SNR）。

2. OmniScan X3 64探傷儀能夠使用更大的脈沖寬度驅(qū)動(dòng)更低的頻率，可為復(fù)合材料等衰減性較強(qiáng)的材料提供更好的信號(hào)分辨率。

3. 在C掃描中，64通道型號(hào)的更高分辨率和信噪比能夠更精細(xì)地顯示更多的特征，可使您在需要時(shí)獲得更高的精確度。

OmniScan X3 64奧林巴斯OLYMPUS相控陣探傷儀技術(shù)參數(shù)：