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當(dāng)前位置：深圳市嘉士達(dá)精密儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>薄膜分析設(shè)備>>薄膜電阻測(cè)試儀
2020SR非接觸式單點(diǎn)薄層電阻測(cè)試儀是一種非接觸式單點(diǎn)薄層電阻測(cè)量系統(tǒng)。該設(shè)備包含一個(gè)渦流傳感器組，可將微弱電流感應(yīng)到導(dǎo)電薄膜和材料中。樣本中的感應(yīng)電流會(huì)產(chǎn)生...
TF lab 2020非接觸式渦流薄膜電阻測(cè)試儀允許在非接觸模式下對(duì)導(dǎo)電薄膜進(jìn)行手動(dòng)單點(diǎn)測(cè)量和薄金屬層的層厚測(cè)量。 緊湊的臺(tái)式設(shè)備非常適合快速準(zhǔn)確地測(cè)量最大 2...
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