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首頁(yè)>>蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>XRF鍍層測(cè)厚儀>>測(cè)厚光譜儀

  • EDX8000T PLUS 參考價(jià):面議

    Simply The Best微光斑垂直光路,專為鍍層厚度分析而設(shè)計(jì),可分析不規(guī)則樣品厚度高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測(cè)器 (SDD) 可實(shí)現(xiàn)快速,無(wú)損,高精度測(cè)量高分辨率...
    型號(hào): 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:蘇州市 對(duì)比
    熒光光譜儀xrf光譜儀光譜儀元素分析儀材料分析儀
    2025/1/8 15:25:47496
  • 鍍層測(cè)厚光譜儀 參考價(jià):面議

    材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過(guò)程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。英飛思開(kāi)發(fā)的EDX8000T Plus鍍層測(cè)厚儀是專門(mén)針...
    型號(hào): EDX8000T ... 廠商性質(zhì):生產(chǎn)商所在地:蘇州市 對(duì)比
    光譜儀測(cè)厚儀電鍍液檢測(cè)鍍層分析儀XRF光譜儀
    2024/10/30 9:35:081538

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