HIOKI 3535 lcr電橋測試儀

高速LCR儀，采樣率可高至120MHz

100kHz～120MHz的寬頻帶
高速LCR測試（6ms/采樣）
拆卸式前置放大器可選擇
為比較標(biāo)準元件提供補償?shù)?ldquo;負載補償功能

基本參數(shù)
測量參數(shù) |Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)
前置放大器
決定的測量量程
前置放大器 9700-01 9700-02 9700-03
Z和R 100mΩ～1kΩ 500Ω～10kΩ 5kΩ～100kΩ
C 1.33pF～15.9μF 0.133pF～3.18nF 0.1pF～318pF
L 1nH～1.59mH 663nH～15.9mH 6.63μH～159mH
θ -180.00°～180.00°

測量頻率 量程 100kHz～120MHz
分辨率設(shè)置 4位（使用前控制板設(shè)置）
100.0kHz～1.000MHz 100Hz幅度
1.000MHz～10.00MHz 1kHz幅度
10.00MHz～100.0MHz 10kHz幅度
100.0MHz～120.0MHz 100kHz幅度
使用GP-IB或RS-232C接口時，分辨率為1Hz。
精度 最大±0.005%，相對于設(shè)置值

HIOKI 3522-50 lcr電橋測試儀特點
3522-50使用寬廣量程的測試頻率及直流來測量阻抗，以使用方便、功能完備和性價比而見長

基本參數(shù)
測量參數(shù) |Z|，|Y|，θ，Rp（DCR），Rs（ESR，DCR）, G，X，B，Cp，Cs，Lp，Ls，D（tanδ）和Q
測量方法 測量源：恒流10μ～100mA(AC/DC)，
或恒壓10mV～5V(AC/DC). 檢測： 電壓，AC或DC
測量頻率 DC或者1mHz～100kHz
測量量程 |Z|，|R|，X：10.00mΩ～200.00MΩ(視條件而定)
θ:-180.00～＋180.00°,C: 0.3200pF～1.0000F，
L: 16.000nH～750.00kH， D:0.00001～9.99999
Q: 0.01～999.99, |Y|，G，B: 5.0000nS～99.999S
基本精度 |Z|: ±0.08%rdg.，θ: ±0.05°
測量時間 |Z|的典型值 快速:5ms～慢速:828ms
顯示 最大顯示值99999，LCD背光功能
比較器功能 設(shè)定：上、下限值，百分比或絕值。
輸出：3檔（高，中，低）,開路集電極
外部打印 9442（搭配9443/9446/9593-01）
電源供應(yīng) 100～240V，AC，50/60Hz
體積及重量 313寬×125高×290厚mm，4.5kg
附件 電源線（1），保險絲（1）

LCR測試儀IM3523測量方法：連續(xù)測量不同條件
在電容的測量條件中希望以120Hz測量C-D。希望以100kHz測量ESR。這時，使用1臺告訴連續(xù)測量不同條件。

LCR測試儀IM3523測量方法：順暢的進行生產(chǎn)線的設(shè)置更改的面板讀取功能
為了使用1臺LCR測試儀測量多種產(chǎn)品，要求高效率的更改設(shè)置。
IM3523的面板保存功能更，最多保存60組測量條件，還能保存128個開路/短路補償和線長補償?shù)鹊难a償值。使用面板功能讀取所保存的測量條件。除了手動讀取以外，可以使用外部控制端口控制面板編號的讀取，因此能縮短構(gòu)筑自動化檢查產(chǎn)線的時間。

可靠的產(chǎn)線檢查：接觸檢查功能
檢查4端子測量時樣品間的接觸不良。
測量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻，如果在所設(shè)置的閾值以上時則顯示錯誤。

 基本精度±0.05％，測量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)。
● 在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，不間斷測試，速度是我司以往產(chǎn)品的10倍。
● 內(nèi)置的低阻抗高精度模式可有效測量低感應(yīng)或鋁電解電容的等效串聯(lián)電阻。
● (測量速度是以往產(chǎn)品3522-50的10倍，大大提高了反復(fù)性和穩(wěn)定性)
● 模式，用于測量變壓器線圈比率，互感系數(shù)和溫度補償DCR。
● 頻率掃描測試(僅IM3533-01)
● 除標(biāo)準0m/1m以外的2m/4m電纜設(shè)置。
● 內(nèi)置比較器和BIN功能。
● 2ms的快速測試時間