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首頁(yè)>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>光譜系統(tǒng)>>半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀

  • 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議

    半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀利用亮場(chǎng)和暗場(chǎng)顯微成像技術(shù)，通過(guò)自動(dòng)化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測(cè)提供了快速且高效的解決方案。
    型號(hào)： 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：上海市 對(duì)比
    晶圓缺陷檢測(cè)儀半導(dǎo)體晶圓缺陷晶圓半導(dǎo)體晶圓缺陷
    2025/1/23 10:32:116339
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