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Cell Gap測(cè)定原理與位相差（Retardation）的定義
因?yàn)橐壕Ь哂信湎蛱匦?所以它在平面XY方向的折射率存有差異（no －ne）。
正因?yàn)槿绱?當(dāng)光透過液晶層時(shí),顏色（分光,Spectrum）將有變化。因?yàn)镃ell Gap変化量與顏色變化量之間存有關(guān)系,所以用分光器對(duì)透過光進(jìn)行測(cè)試的話,Cell Gap值就可求得。
2.相位差(Retardation)的定義
光在折射率大的物質(zhì)里的傳播速度較慢。就液晶這樣的在XY方向存在折射率差物質(zhì)來說,在XY方向光的行進(jìn)距離會(huì)產(chǎn)生差異。這個(gè)差值就是所謂的相位差(Retardation)。相位差(Retardation)也是光相位差,利用分光測(cè)試能夠求出其值。在Retardation和CellGap之間,存在下述比例關(guān)系：
因?yàn)楱Sn是由液晶材料所決定之值,所以只要測(cè)試出Retardation值的話,Cell gap值就可求得。
Retardation位相差 ＝ Δnｘ Cell Gap
Δn ： ne－no
在Retardation和CellGap之間,存在下述比例關(guān)系：
因?yàn)楱Sn是由液晶材料所決定之值,所以只要測(cè)試出Retardation值的話,Cell gap值就可求得。
Retardation位相差 ＝ Δnｘ Cell Gap
Δn ： ne－no
在Retardation和CellGap之間,存在下述比例關(guān)系：
因?yàn)楱Sn是由液晶材料所決定之值,所以只要測(cè)試出Retardation值的話,Cell gap值就可求得。
Retardation位相差 ＝ Δnｘ Cell Gap
Δn ： ne－no
3.大塚電子RETS 系列Cell Gap測(cè)定解決方案
RETS系列光學(xué)材料檢測(cè)系統(tǒng)在上下兩側(cè)各配有旋轉(zhuǎn)偏光板。下側(cè)的偏光板被稱為偏光子,上側(cè)的偏光板被稱為檢光子。偏光子將測(cè)試光轉(zhuǎn)換為線偏振光。直線偏振光通過液晶后將轉(zhuǎn)變?yōu)闄E圓偏振光。通過檢光子和分光器,對(duì)橢圓偏振光進(jìn)行測(cè)試,借以求出Retardation。
大塚電子提供了由小型樣品到大尺寸物料的多種cell gap 檢測(cè)解決方案。以RETS-1200為例，測(cè)量時(shí)間僅需2~3秒即可完成，波長(zhǎng)分辨率可達(dá)0.9nm，再現(xiàn)性為±0.1nm；既滿足了量產(chǎn)高效率的要求，又具有可靠的穩(wěn)定性與高精度。