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OLED系列測試解決方案

閱讀:731        發(fā)布時間:2020-5-21
有機電致發(fā)光器件(OLED)研發(fā)與制造工程包括機小分子材料開發(fā)、真空蒸鍍、封裝、屏測試等多道工序。在OLED的研究材料開發(fā)以及品質(zhì)管理中,大塚電子研發(fā)出一系列解決各種問題的測量技術(shù)和測量裝置。

1.有機小分子材料開發(fā)

構(gòu)成有機電致發(fā)光器件的材料包括電極材料(征集材料和負極材料)、發(fā)光材料、載流子傳輸材料(電子傳輸材料和空穴傳輸材料)。有機發(fā)光材料為有機電致發(fā)光器件的核心材料,理想的有機電致發(fā)光材料在性能上具有量子效率高、載流子傳輸能力強、易于成膜、對光和熱穩(wěn)定性好、具備適宜的分子能級。其中量子效率作為有機發(fā)光材料的關(guān)鍵指標之一,量子效率測定在有機發(fā)光材料的研發(fā)階段顯得尤為重要。大塚電子的QE-2000和QE-2100量子效率測量系統(tǒng)可以在短時間內(nèi)完成粉末、液體、薄膜材料的外量子效率、內(nèi)量子效率、吸收率、透過率、反射率、發(fā)光光譜、激發(fā)光譜、色演算等指標的測量及解析。

QE-2000

QE-2100

產(chǎn)品特征

  • 可瞬間測量絶対PL量子効率

  • 去除再激發(fā)熒光発光功能,實現(xiàn)高精度測定

  • 采用積分半球單元,實現(xiàn)了更高亮度的光學系

  • 可以選配溫控機能(QE-2100)

  • Sialon標準熒光體的校正,作為性能的保証

 

2.真空蒸鍍

有機小分子薄膜可通過真空熱蒸鍍形成,真空蒸鍍過程需要對膜厚進行監(jiān)測。大塚電子的MCPD膜厚測量系統(tǒng)可以對真空腔體內(nèi)的樣品膜厚進行監(jiān)測。MCPD膜厚測量系統(tǒng)具有以下特點:

  • 高速、高感度的光譜測量

  • 使用真空光纖,可以測量腔體內(nèi)各種樣品

  • 使用光纖切換機,實現(xiàn)多點的測量檢測

實測實例一:產(chǎn)線膜厚監(jiān)控

實測實例2:in-situ吸光度監(jiān)測

  • 蒸著工程的in-situ測量

  • 通過吸光度和檢量線可以計算出膜厚

  • 從偏光角進入的p入射偏光,可以在不受多重干涉的影響情況下實現(xiàn)測量吸光度

監(jiān)測時間變化的吸光度

3.屏測試

OLED產(chǎn)品封裝完成后要對其進行一系列測試,大塚電子提供整套光學評價與檢測方案。

一、光通量測量裝置(外部量子効率測量裝置)

產(chǎn)品特點:

  • 外部量子効率測量

  • 采用積分半球?qū)崿F(xiàn)更明亮的光學系

  • 樣品発光部分以外在積分空間外,消除了吸收誤差

  • 可以樣品光源自身影子的影響,尤其適合用于大型面板的測量

二、OLED光學特性評価裝置

產(chǎn)品特點:

  • 與電源連動,可測量放射亮度

  • 亮度測量范圍廣

  • 多彩的測定評價項目多彩な測定評価項目

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