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LC193F/10nm ML390/1640mm海德漢光柵尺簡介
閱讀：206 發(fā)布時間：2022-7-4LC193F/10nm ML390/1640mm海德漢光柵尺
LC193F/10nm ML390/1640mm海德漢光柵尺優(yōu)勢折扣供應(yīng)，常年備有現(xiàn)貨海德漢光柵尺，角度圓光柵編碼器，位移長度計，掃描讀數(shù)頭等常規(guī)系列海德漢全系價格有優(yōu)勢，保證HEIDENHAIN原廠原裝。
其他優(yōu)勢品牌：
HEIDENHAIN海德漢（SUMTAK）；HENGSTLER亨士樂；GEMU蓋米；WURTH伍爾特；BD SENSORS博德；SCHMERSAL施邁賽；安沃馳；DOLD多德；G.BEE閥門；BOFA過濾；Bihl+Wiedemann必威；COAX閥門；LENORD+BAUER蘭寶；ROEMHELD羅姆希特；HBM；SCHMALZ施邁茨；DUPLOMATIC迪普馬；SCHNEIDER施耐德（進口傳感器驅(qū)動器系列產(chǎn)品）；寶德BURKERT；普羅名特PROMINENT；REXROTH(擰緊槍，模塊系列)等歐美工業(yè)備品備件。
光柵尺安裝位置的防護非常重要
(1) 在現(xiàn)代機床中，用戶一般都要求大流量冷卻，而在大流量沖洗時，會有切削液飛濺到光柵尺上，光柵尺的工作環(huán)境也充滿了潮濕、帶有冷卻噴霧的空氣，在這種環(huán)境下光柵容易產(chǎn)生冷凝現(xiàn)象，掃瞄頭上易結(jié)下一層薄膜。這樣以來，就會導(dǎo)致光柵尺的光線投射不佳，再加上光柵容易留下水跡，嚴(yán)重影響光柵的測量。如果加工后的切屑在光柵附近堆積造成排屑、排水不暢，會致使光柵尺浸泡在切削液和雜質(zhì)中，有從而影響到光柵的使用，更嚴(yán)重的會使光柵尺損壞，使整機處于癱瘓狀態(tài)。
(2)如果光柵尺處于很強的冷卻噴霧或粉塵中，可通過壓縮空氣處理，但壓縮空氣必須經(jīng)過過濾器凈化，并按ISO 8573—1符合下列雜質(zhì)質(zhì)量等級要求
LC193F/10nm ML390/1640mm海德漢光柵尺
海德漢公司用于數(shù)控機床的直線光柵尺幾乎可以適應(yīng)大部分應(yīng)用。它是所有進給軸為伺服控制環(huán)控制的機器和設(shè)備的不錯之選，例如銑床、加工中心、鏜床、車床和磨床。直線光柵尺的動態(tài)性能優(yōu)點，允許的運動速度高，沿測量方向的加速性能使其不僅能滿足常規(guī)軸高動態(tài)性能要求，也能滿足直接驅(qū)動電機的高動態(tài)性能要求。
HEIDENHAIN也提供其它應(yīng)用所需的直線光柵尺，例如
• 手動操作機床
• 沖壓機和彎板機
• 自動化生產(chǎn)設(shè)備
直線光柵尺優(yōu)點
直線光柵尺測量直線軸位置過程期間沒有任何其它機械傳動件。用直線光柵尺的位置控制環(huán)中包括全部進給機構(gòu)。機械運動誤差被滑板中的直線光柵尺檢測和被控制系統(tǒng)電路修正。因此它能消除潛在多項誤差源。
• 滾珠絲杠溫度特性導(dǎo)致的定位誤差
• 反向誤差
• 滾珠絲杠螺距誤差導(dǎo)致的運動特性誤差
因此，直線光柵尺是高精度定位和高速加工機床很好的基礎(chǔ)技術(shù)手段。
LC193F/10nm ML390/1640mm海德漢光柵尺
用于數(shù)控機床的直線光柵尺為封閉式結(jié)構(gòu)：鋁殼保護光柵尺、讀數(shù)頭和導(dǎo)軌，避免灰塵、切屑和切削液進入。自動向下壓
的彈性密封條保持外殼密封。讀數(shù)頭沿光柵尺的小摩擦力導(dǎo)軌運動。連接器將讀數(shù)頭與安裝塊連接在一起并補償
光柵尺與機床導(dǎo)軌間的不對正誤差。光柵尺和安裝板間的橫向和軸向誤差允許為± 0.2 mm至± 0.3 mm，具體數(shù)值與光
柵尺型號有關(guān)。
LC 1x5特點是密封性能好，用兩對并排密封條。如果在直線光柵尺殼中接入干凈的壓縮空氣，更能有效發(fā)揮密封條密封作
用，避免環(huán)境空氣進入。保護直線光柵尺內(nèi)部不被污染。
LC100系列標(biāo)準(zhǔn)外殼絕對式直線光柵尺
• 抗振性能好
• 允許水平安裝
• 雙密封條設(shè)計，高可靠性
• 尺寸同LC 115/LC 185/LC 195
NC數(shù)控機床用直線光柵尺
用于數(shù)控機床的海德漢直線光柵尺幾乎適用于任何應(yīng)用。它是所有進給軸為伺服控制環(huán)模式的機器和設(shè)備的不錯之選，例如銑床、加工中心、鏜床、車床和磨床。 直線光柵尺的動態(tài)性能優(yōu)點，允許的運動速度高，沿測量方向的加速性能使其不僅能滿足常規(guī)軸高動態(tài)性能要求，也能滿足直接驅(qū)動電機的高動態(tài)性能要求。
緊湊外殼直線光柵尺
緊湊外殼的直線光柵尺設(shè)計用于安裝空間有限的地方。 如果測量長度較大和加速負(fù)荷較大，可能需要使用安裝板或固定件。
| 精度等級 | 測量長度 ML | 增量信號 信號周期 | 絕對位置值 | 型號 | |
| 高安全性應(yīng)用的絕對式直線光柵尺 | ±5 μm ±3 μm | 70 mm至2040 mm | - | EnDat 2.2/22 DQ 01 | LC 415 LC 495 S |
| 絕對式位置測量 • 玻璃光柵尺 | ±5 μm ±3 μm | 70 mm至2040 mm | - 1 Vpp; 20 μm | EnDat 2.2/22 EnDat 2.2/02 DQ 01 Fanuc 05 Mit 03-04 | LC 415 LC 485 LC 495 S |
| 高重復(fù)精度的增量式直線測量 • 鋼帶光柵尺 • 小信號周期 | ±5 μm ±3 μm | 50 mm至1220 mm | 1 Vpp; 4 μm | - | LF 485 |
| 增量式直線測量 • 玻璃光柵尺 | ±5 μm ±3 μm | 70 mm至2040 mm | 1 Vpp; 20 μm TTL; 至 1 μm | - - | LS 487 LS 477 |
標(biāo)準(zhǔn)外殼直線光柵尺
標(biāo)準(zhǔn)外殼直線光柵尺突出特點是結(jié)構(gòu)堅固、抗振能力強和測量長度大。讀數(shù)頭通過一個斜板連接安裝架，因此允許垂直安裝和水平安裝，并具有相同的防護等級。
| 精度等級 | 測量長度 ML | 增量信號 信號周期 | 絕對位置值 | 型號 | |
| 高安全性應(yīng)用的絕對式直線光柵尺 | ±5 μm ±3 μm | 140 mm至4240 mm | - | EnDat 2.2/22 DQ 01 | LC 115 LC 195 S |
| 絕對式位置測量 • 玻璃光柵尺 | ±5 μm ±3 μm | 140 mm至4240 mm | - 1 Vpp; 20 μm | EnDat 2.2/22 EnDat 2.2/02 DQ 01 Fanuc 05 Mit 03-04 | LC 115 LC 185 LC 195 S LC 195 F LC 195 M |
| 大測量長度的絕對式位置測量 • 鋼光柵尺帶 | ±5 μm | 440 mm至28040 mm | - 1 Vpp; 40 μm | EnDat 2.2/22 EnDat 2.2/02 | LC 201 -single-section LC 201parts kits LC 201 scanning unit |
| 高重復(fù)精度的增量式直線測量 • 鋼光柵尺帶 • 小信號周期 | ±3 μm ±2 μm | 140 mm至1240 mm | 1 Vpp; 4 μm | - | LF 185 |
| 增量式直線測量 • 玻璃光柵尺 | ±5 μm ±3 μm | 140 mm至3040 mm | 1 Vpp; 20 μm TTL; 至 1 μm | - - | LS 187 LS 177 |
| 大測量長度的增量式直線測量 • 鋼光柵尺帶 | ±5 μm | 440 mm至30040 mm 如果需要測量長度至72040 mm，可按要求提供 | 1 Vpp; 40 μm | - | LB 382 - single-section LB 382 parts kit LB 382 scanning unit |
LC193F/10nm ML390/1640mm海德漢光柵尺
應(yīng)用領(lǐng)域
海德漢光柵尺廣泛應(yīng)用于：數(shù)控加工中心，機床，磨床，銑床，自動卸貨機，金屬板壓制和焊接機，機器人和自動化科技，生產(chǎn)過程測量機器，線性產(chǎn)品, 直線馬達, 直線導(dǎo)軌定位等領(lǐng)域。
安裝海德漢封閉式直線光柵尺非常簡單：只需將光柵尺的多點對正機床導(dǎo)軌。也可用限位面或定位銷對正光柵尺。安裝輔件已將光柵尺與讀數(shù)頭間的間隙調(diào)整正確。安裝期間需要調(diào)整橫向間隙。如果安裝空間有限，安裝光柵尺前必須先拆下安裝輔件，然后用安裝量規(guī)方便地和準(zhǔn)確地調(diào)整光柵尺與讀數(shù)頭間的間隙。也必須確保橫向公差。
海德漢光柵尺LC 195S240 5.0 DQ0110.000 D I 0MS14 .. .. TS 01 .. .. AE 1
海德漢光柵尺LC 195S 1740 5.0 DQ01FS 10.0000 I0MS14-TS .. ..
海德漢直線光柵尺LC 193F/50nm ML 1140mmID 557676-11 HEIDENHAIN光柵尺
海德漢光柵尺LC 195S 1740 3.0 DQ01.. 1.0000 I0MS14-TS .. ..
海德漢直線光柵尺LC195FID 760908-12 HEIDENHAIN光柵尺
海德漢直線光柵尺LC193FID 557661-28 HEIDENHAIN光柵尺
海德漢直線光柵尺LC 195F Fanuc05 ML 1440mmID 760907-14 HEIDENHAIN光柵尺
海德漢直線光柵尺LC195FID 760905-10 HEIDENHAIN光柵尺
海德漢直線光柵尺LC 193F/50nm ML 940mmID 557676-09 HEIDENHAIN光柵尺
海德漢光柵尺LC 195S 1640 3.0 DQ01FS 1.0000 I0MS14-TS .. ..
海德漢直線光柵尺LC 193F/100nm ML 940mmID 557661-09 HEIDENHAIN光柵尺
海德漢直線光柵尺LC 193F/10nm ML 2040mmID 557677-20 HEIDENHAIN光柵尺
海德漢光柵尺LC 195S 3040 5.0 DQ0110.000 D I 0MS14 .. .. TS 01 .. .. AE 1760912-24
LC193F/10nm ML390/1640mm海德漢光柵尺
干涉掃描原理
干涉掃描原理是利用精細光柵的衍射和干涉形成位移的測量信號。
階梯狀光柵用作測量基準(zhǔn)：高度0.2 µm的反光線刻在平反光面中。光柵尺前方是掃描掩膜，其柵距與光柵尺柵距相同，是透射相位光柵。
光波照射到掃描掩膜時，光波被衍射為三束光強近似的光：-1、0和+1。光柵尺衍射的光波中，反射的衍射光的光強*光束為+1和-1。這兩束光在掃描掩膜的相位光柵處再次相遇，又一次被衍射和干涉。它也形成三束光，并以不同的角度離開掃描掩膜。光電池將這些交變的光強信號轉(zhuǎn)化成電信號。
掃描掩膜與光柵尺的相對運動使第一級的衍射光產(chǎn)生相位移：當(dāng)光柵移過一個柵距時，前一級的+1衍射光在正方向上移過一個光波波長，-1衍射光在負(fù)方向上移過一個光波波長。由于這兩個光波在離開掃描光柵時將發(fā)生干涉，光波將彼此相對移動兩個光波波長。也就是說，相對移動一個柵距可以得到兩個信號周期。例如，干涉光柵尺的柵距一般為8 µm、4 µm甚至更小。其掃描信號基本沒有高次諧波，能進行高倍頻細分。因此，這些光柵尺特別適用于高分辨率和高精度應(yīng)用。LF系列光柵尺是采用干涉掃描原理的封閉式直線光柵尺。
海德漢光柵尺LC 195S 2240 3.0 DQ011.0000 D I 0MS14 .. .. TS 01 .. .. AE 1760910-20
海德漢光柵尺LC 195S 1140 5.0 DQ01.. 10.0000 I0MS14-TS .. ..
海德漢光柵尺LC 195M 1440 5.0 Mit03-4 .. 50.0000 I 0MS14-LY .. ..01 .. AE 1 32760922-14
海德漢直線光柵尺LC195FID 760908-05 HEIDENHAIN光柵尺
海德漢光柵尺LC 195S140 5.0 DQ0110.000 D I 0MS14 .. .. TS 01 .. .. AE 1
海德漢光柵尺LC 195S 2840 5.0 DQ01.. 10.0000 I0MS14-TS .. ..
海德漢光柵尺LC 195S440 5.0 DQ0110.000 D I 0MS14 .. .. TS 01 .. .. AE 1
海德漢直線光柵尺LC 193F/10nm ML 2840mmID 557677-23 HEIDENHAIN光柵尺
海德漢光柵尺LC 195S 1040 3.0 DQ01FS 1.0000 I0MS14-TS .. ..
海德漢直線光柵尺LC 195F Fanuc05 ML 440mmID 760909-04 HEIDENHAIN光柵尺
海德漢直線光柵尺LC195FID 760907-09 HEIDENHAIN光柵尺
海德漢光柵尺LC 195S 2240 3.0 DQ01FS 1.0000 I0MS14-TS .. ..
我司HEIDENHAIN海德漢光柵尺庫存現(xiàn)貨實拍：
LC193F/10nm ML390/1640mm海德漢光柵尺
大多數(shù)海德漢公司光柵尺或編碼器都用光電掃描原理。對測量基準(zhǔn)的光電掃描為非接觸掃描，因此無磨損。這種光電掃描方法能檢測到非常細的線條，通常不超過幾微米寬，而且能生成信號周期很小的輸出信號。
測量基準(zhǔn)的柵距越小，光電掃描的衍射現(xiàn)象越嚴(yán)重。海德漢公司的直線光柵尺采用兩種掃描原理：
• 成像掃描原理用于20 µm至大約40 µm的柵距。
• 干涉掃描原理用于更小柵距光柵，，例如， 8 µm。
成像掃描原理
簡單的說，成像掃描原理是采用透射光生成信號：兩個具有相同或相近柵距的光柵尺光柵和掃描掩模彼此相對運動。掃描掩膜的基體是透明的，而作為測量基準(zhǔn)的光柵尺可以是透明的也可以是反射的。當(dāng)平行光穿過一個光柵時，在一定距離處形成明/暗區(qū)，掃描掩膜就在這個位置處。當(dāng)兩個光柵相對運動時，穿過光柵尺的光得到調(diào)制。如果狹縫對齊，則光線穿過。如果一個光柵的刻線與另一個光柵的狹縫對齊，光線無法通過。光電池組將這些光強變化轉(zhuǎn)化成電信號。特殊結(jié)構(gòu)的掃描掩膜將光強調(diào)制為近正弦輸出信號。柵距越小，掃描掩膜和光柵尺間的間距越小，公差越嚴(yán)。LC、LS和LB直線光柵尺采用成像掃描原理。