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薄膜厚度測量儀

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參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號 F10-HC
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質 代理商
  • 所在地 上海市
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更新時間:2022-06-08 18:34:49瀏覽次數:786

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產品簡介

產地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應用領域 農業(yè),石油,地礦,能源,建材
薄膜厚度測量儀以F20平臺為基礎所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng),能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測量厚度,加上F10-HC軟件的模擬演算法設計,能夠在厚膜中測量單層與多層(例如:底漆或硬涂層等)。

詳細介紹

上海桑結實業(yè)有限公司(Sumche Shanghai)是國內的高科技儀器設備供應商,自成立以來與上各大儀器公司和品牌進行強強戰(zhàn)略合作,致力于為用戶提供高精度的分析檢測儀器、環(huán)境模擬設備,以及配套的耗材、配件和優(yōu)良的售后服務。

 

薄膜厚度測量儀以F20平臺為基礎所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng),能夠快速的分析薄膜的反射光譜資料并提供測量厚度,加上F10-HC軟件的模擬演算法設計,能夠在厚膜中測量單層與多層(例如:底漆或硬涂層等)。

簡易操作界面

現在,具有新樣板模式功能的F10-HC將更容易使用,這個功能允許用戶匯入樣品的影像,并直接在影像上定義測量位置。系統(tǒng)會自動通知使用者本次測量結果是否有效,并將測量的結果顯示在匯入的影像上讓用戶分析。

不需要手動基準校正

薄膜厚度測量儀F10-HC現在能夠執(zhí)行自動化基準矯正以及設置自己的積分時間這個創(chuàng)新的方法不需要頻繁的執(zhí)行基準矯正就可以讓使用者立即的執(zhí)行樣本的測量 。

背面反射干擾

背面反射干擾對厚度測量而言是一個光學技術的挑戰(zhàn),具有F10-HC系統(tǒng)的*接觸式探頭能將背面反射干擾的影響最小化,使用者能以較高的精準度來測量涂層厚度。

選擇Filmetrics的優(yōu)勢

• 24小時電話,郵件和在線支持

• 所有系統(tǒng)皆使用直觀的標準分析軟件

附 加 特 性

• 嵌入式在線診斷方式

• 免費離線分析軟件

• 精細的歷史數據功能,幫助用戶有效地存儲,重現與繪制測試結果



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