德國LANGER單通道探頭

普索貿(mào)易

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LANGER LWL Ø 2.2 mm 6 m,Lichtwellenleiter einfach 6 m 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER A200-1 SET 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER A300-1 SET 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER LF-R 50,H-Feldsonde 100 KHz bis 50 MHz 28.20.02

LANGER LF-R 3,H-Feldsonde 100 KHz bis 50 MHz 28.20.01

LANGER LF1 set,Nahfeldsonden 100 kHz bis 50 MHz 28.10.00

LANGER RF4-E set,Nahfeldsonden E-Feld 30 MHz bis 3 GHz 26.00.00

LANGER RF3 mini set,Nahfeldsonden 30 MHz bis 3 GHz 25.00.00

LANGER RF2 set,Nahfeldsonden 30 MHz bis 3 GHz 24.00.00

LANGER RF1 set,Nahfeldsonden 30 MHz bis 3 GHz 23.00.00

LANGER PA 303 N set,Vorverstärker 100 kHz bis 3 GHz 29.30.00

LANGER N-BNC,Adapter 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER Case 4,Systemkoffer Nahfeldsonden 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER SMB-BNC 1 m,Messkabel SMB-BNC 00.00.11

LANGER LF-K 7,H-Feldsonde 100 KHz bis 50 MHz 28.20.03

LANGER PA303N set 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER LF opt set 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER LF1 set 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER RF4 set 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER RF 3 mini 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER RF2 set 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER RF1 set 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

LANGER A300-2 SET 放大器,掃描探頭,掃描儀,探測頭

Langer主要型號：BD06B、BD01B、BD01E、BD11、MFA 01、XF 1、SX、MFA01、MFA02、SX1、XF1、XF、RF1、RF2、RF3、RF4-E、RF-E、LF1、LF、PA203、PA303、RFS、VM251

光纖探頭的作用是傳輸受試設(shè)備在電快速瞬變/猝發(fā)序列脈沖干擾的影響下發(fā)出的模擬信號。

A100-1 set, 單通道光纖探頭（25KHz）

A100-1 set

單通道光纖探頭（25KHz）

A100-1把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設(shè)備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時(shí)，該系統(tǒng)特別適合于檢測模擬信號。 對電磁場進(jìn)行給定的調(diào)制時(shí)會對模擬信號產(chǎn)生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統(tǒng)能夠快速識別到這些影響。 該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉(zhuǎn)化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號轉(zhuǎn)化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設(shè)備。

A100-2 set, 雙通道光纖探頭（25KHz）

A100-2 set

雙通道光纖探頭（25KHz）

A100-2把在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號顯示到示波器上。在檢測電力或電子設(shè)備對高頻電磁場（IEC 61000-4-3到IEC 61000 -4-6）的抗干擾性時(shí)，該系統(tǒng)特別適合于檢測模擬信號。 對電磁場進(jìn)行給定的調(diào)制時(shí)會對模擬信號產(chǎn)生影響，A100，A200和A300系列模擬信號測量系統(tǒng)能夠快速識別到這些影響。 該探頭包含一個傳感器，這個傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉(zhuǎn)化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號轉(zhuǎn)化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設(shè)備。

A200-1 set, 單通道光纖探頭（500KHz）

A200-1 set

單通道光纖探頭（500KHz）

在EFT/ESD/高頻干擾影響下的模擬信號，可以借助A200-1零電勢地顯示到示波器上，A200-1探頭包含一個傳感器，能夠快速識別到受干擾的信號。該傳感器測量受測物中的模擬信號，并把測得的模擬信號轉(zhuǎn)化為光信號。光信號通過光纖傳到示波器的光學(xué)輸入端；光學(xué)輸入端再把光信號轉(zhuǎn)化為電子模擬信號。示波器可以顯示這些信號，或用它們來控制其他設(shè)備。該系統(tǒng)適合在吸收室內(nèi)監(jiān)測試樣，或用于優(yōu)化軟硬件的 電磁兼容性。

A200-2 set

A200-2 set

A300-1 set

Langer EMV - 模擬信號

A300-1 set

A300-2 set

A300-2 set

德國LANGER單通道探頭

在認(rèn)證機(jī)構(gòu)中，使用經(jīng)過各類校準(zhǔn)的天線進(jìn)行輻射泄露測試，都是進(jìn)行的遠(yuǎn)場測量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場輻射泄漏測試，可以準(zhǔn)確定量的告訴我們被測件是否符合相應(yīng)的 EMI 標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場測試無法告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。在認(rèn)證機(jī)構(gòu)中，使用經(jīng)過各類校準(zhǔn)的天線進(jìn)行輻射泄露測試，都是進(jìn)行的遠(yuǎn)場測量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場輻射泄漏測試，可以準(zhǔn)確定量的告訴我們被測件是否符合相應(yīng)的 EMI 標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場測試無法告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。在認(rèn)證機(jī)構(gòu)中，使用經(jīng)過各類校準(zhǔn)的天線進(jìn)行輻射泄露測試，都是進(jìn)行的遠(yuǎn)場測量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場輻射泄漏測試，可以準(zhǔn)確定量的告訴我們被測件是否符合相應(yīng)的 EMI 標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場測試無法告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。在認(rèn)證機(jī)構(gòu)中，使用經(jīng)過各類校準(zhǔn)的天線進(jìn)行輻射泄露測試，都是進(jìn)行的遠(yuǎn)場測量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場輻射泄漏測試，可以準(zhǔn)確定量的告訴我們被測件是否符合相應(yīng)的 EMI 標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場測試無法告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。在認(rèn)證機(jī)構(gòu)中，使用經(jīng)過各類校準(zhǔn)的天線進(jìn)行輻射泄露測試，都是進(jìn)行的遠(yuǎn)場測量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場輻射泄漏測試，可以準(zhǔn)確定量的告訴我們被測件是否符合相應(yīng)的 EMI 標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場測試無法告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。在認(rèn)證機(jī)構(gòu)中，使用經(jīng)過各類校準(zhǔn)的天線進(jìn)行輻射泄露測試，都是進(jìn)行的遠(yuǎn)場測量。標(biāo)準(zhǔn)的遠(yuǎn)場輻射泄漏測試，可以準(zhǔn)確定量的告訴我們被測件是否符合相應(yīng)的 EMI 標(biāo)準(zhǔn)。但是遠(yuǎn)場測試無法告訴工程師，嚴(yán)重的輻射問題到底是來自于殼體的縫隙，還是來自連接的電纜，或USB ，LAN 之類的通信接口。在這種情況下，我們可以通過近場測試的方法來定位輻射的真正來源。近場 EMI 測量的問題在于使用近場探頭的測量結(jié)果和使用天線進(jìn)行遠(yuǎn)場測量的結(jié)果無法直接進(jìn)行數(shù)學(xué)轉(zhuǎn)換。但是存在一個基本原理：近場的輻射越大，遠(yuǎn)場的輻射也必然越大。所以使用近場探頭測量，實(shí)際上是一個相對量的測量，而不是精確的量測量。使用近場探頭進(jìn)行 EMI 預(yù)兼容測試時(shí)，我們常常把新被測件測試結(jié)果和一個已知合格被測件的近場探頭測試（近場測試）結(jié)果進(jìn)行比較，來預(yù)測EMI 輻射泄漏測試（遠(yuǎn)場測試）的結(jié)果，而不是直接和符合EMI兼容標(biāo)準(zhǔn)的限制線進(jìn)行比較。同時(shí)，測試的數(shù)值意義也不大，因?yàn)檫@個測試結(jié)果和諸多變量，包括探頭的位置方向、被測件的形狀等會密切相關(guān)。電磁場是由電場和磁場構(gòu)成。在近場，電場和磁場共同存在，其強(qiáng)度不構(gòu)成固定關(guān)系。以電場為主還是磁場為主，主要是由發(fā)射源的類型決定的。簡而言之，在高電壓，低電流的區(qū)域，電場大于磁場。高電流，低電壓的區(qū)域，磁場大于電場。同時(shí)在主要的EMI 測試頻段，磁場隨著距離的變化要快于電場。