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透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)?,同時集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊,可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進(jìn)行定量的力學(xué)測量。MEMS芯片模塊上可以選擇加熱芯...
原位MEMS-STM-TEM樣品桿多場測量系統(tǒng)是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境(包括力、熱、光、電...
原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng),該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng),使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境(包括力、熱、光、...
透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量,并可在電學(xué)測量的同時,動態(tài)、...
透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量,并可在電學(xué)測量的同時,動...
透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量,并可在電學(xué)測量的同時,動...
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