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手持式植物冠層圖像分析儀SYS-GC2000

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更新時(shí)間:2024-04-09 10:03:46瀏覽次數(shù):1342

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產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
手持式植物冠層圖像分析儀SYS-GC2000適用于生態(tài)學(xué)野外植物群體動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)的研究與教學(xué);也適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、植物群體對(duì)比與發(fā)展的研究與教學(xué)。

詳細(xì)介紹

手持式植物冠層圖像分析儀SYS-GC2000產(chǎn)品介紹

植物冠層圖像分析儀可測(cè)算植物冠層的太陽(yáng)直射光透過(guò)率、天空散射光透過(guò)率、冠層的消光系數(shù),葉面積指數(shù)和葉片平均傾角等,可用于農(nóng)作物、果樹(shù)、森林內(nèi)冠層受光狀況的測(cè)量和分析可用于不同植物群體結(jié)構(gòu)的比較;可對(duì)農(nóng)田作物群體生長(zhǎng)過(guò)程進(jìn)行動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)適用于生態(tài)學(xué)野外植物群體動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)的研究與教學(xué);也適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、植物群體對(duì)比與發(fā)展的研究與教學(xué)。

原理與方法

植物冠層圖象分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過(guò)介質(zhì)減弱的比爾定律,在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式,通過(guò)冠層孔隙率的測(cè)定,計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下, 植物冠層圖象分析儀采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測(cè)量冠層孔隙率的方法,該方法是各類方法中準(zhǔn)確和省力、省時(shí)、快捷方便的方法。

功能特點(diǎn)

非破壞性地測(cè)定冠層結(jié)構(gòu)

可以測(cè)量冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)

手持式萬(wàn)向接頭自動(dòng)水平調(diào)整探頭,無(wú)需三角架

隨身攜帶的筆記本計(jì)算機(jī)可以幫助你正確選點(diǎn)取樣,即時(shí)決定圖像的取舍

由外接鋰電池組提供電源便于觀測(cè)和長(zhǎng)時(shí)間測(cè)量,尤其適合完成野外繁重的觀測(cè)任務(wù)

圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域(天頂角可分10區(qū),方位角可分10區(qū))。對(duì) 不同方向的冠層進(jìn)行區(qū)域性分析時(shí),可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠層部分(如缺株、邊行問(wèn)題等)。對(duì)不同天頂角起始角和終止角的選擇,可以避開(kāi)不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件,通過(guò)手動(dòng)調(diào)節(jié)閾值,可以更準(zhǔn)確的測(cè)量出葉面積指數(shù)等參數(shù)

鏡頭角度:150°(或用戶自選180°鏡頭。除用戶有特殊需要,180°魚(yú)眼鏡頭經(jīng)常不適合

孔隙測(cè)量原理與方法所假設(shè)的前提條件,用于冠層結(jié)構(gòu)分析是不適宜和不經(jīng)濟(jì)的)

分辨率:768×494pix

測(cè)量范圍:天頂角由0°~75°

PAR感應(yīng)范圍:感應(yīng)光譜400nm~ 700nm  測(cè)量范圍0~2000μmol/㎡•S

分析軟件:植物冠層分析系統(tǒng)

顯示和內(nèi)存:決定于筆記本電腦的選擇。

電 源:鋰電池組

傳輸接口:USB

工作溫度:0~55℃

手持式植物冠層圖像分析儀SYS-GC2000結(jié)構(gòu)組成

植物冠層圖像分析儀由魚(yú)眼圖像捕捉探頭(由魚(yú)眼鏡頭及CCD圖像傳感器組成)、內(nèi)置25個(gè)PAR傳感器的測(cè)量桿(搖臂)、筆記本電腦、圖像采集軟件及圖像分析軟件、高容量的可充電電池組組成。魚(yú)眼探頭安裝在一個(gè)很輕的搖臂的頂端,它可以獲取150°視角的魚(yú)眼圖像。圖像的顯示和存貯由配置的筆記本計(jì)算機(jī)完成。

賽亞斯是一家生產(chǎn)制造植物生理儀器、植物冠層圖像分析儀的廠家,如有需求請(qǐng)致電我公司,我公司會(huì)提供詳細(xì)的植物冠層圖像分析儀產(chǎn)品解決方案。

 拓展資料
植物的冠層分析在生產(chǎn)和研究中有著很廣泛的應(yīng)用,直接的方法就是全株收獲法,但由于實(shí)際應(yīng)用中工作量過(guò)大和對(duì)植物會(huì)造成破壞的原因,存在一定的局限性。盡管使用掃描儀提高了工作效率,但每片葉子的掃描過(guò)程仍較繁瑣。全株收獲法是規(guī)范的葉面積測(cè)定方法,*準(zhǔn)確,因而被用來(lái)校正其它簡(jiǎn)便LAI測(cè)定方法并評(píng)判其它方法的準(zhǔn)確性。衛(wèi)星遙感法能夠確定植被的葉面積系數(shù)LAI,但小面積的斑塊景觀植被在遙感圖像中難以區(qū)分,且其測(cè)量精度不高,如對(duì)水稻冠層遙感測(cè)定LAI與現(xiàn)場(chǎng)實(shí)測(cè)相關(guān)系數(shù)僅為0.6859;對(duì)城市森林遙感與實(shí)測(cè)LAI相關(guān)系數(shù)大為0.66 。法國(guó)airphen植物冠層分析儀有較可靠的分析模型研究基礎(chǔ),在農(nóng)林植物均勻冠層分析中得到了廣泛的應(yīng)用。它可以很好地測(cè)得葉面積指數(shù)LAI、平均葉傾角MTA、DIFN等參數(shù)。這些參數(shù)能很好地描述均勻植物冠層的狀態(tài),并應(yīng)用于農(nóng)田、作物冠層、人工林木、種苗、苗圃等生產(chǎn)和研究中。但不利于均勻植物冠層,如防護(hù)林帶、果農(nóng)間作以及植物個(gè)體態(tài)演替研究等領(lǐng)域。太陽(yáng)輻射的測(cè)定先選取一個(gè)荊條叢樣株,在測(cè)試點(diǎn)水平安裝一個(gè)傳感器,并在附近的開(kāi)闊地面安裝另一個(gè)傳感器,同時(shí)測(cè)定透過(guò)荊條冠層前后的太陽(yáng)輻射強(qiáng)度,計(jì)算冠層透射率。傳感器是通過(guò)數(shù)據(jù)采集器自動(dòng)采集數(shù)據(jù)的,將數(shù)據(jù)采集器設(shè)置每分鐘采樣一次,每株荊條灌叢樣株采樣5min,然后選下一荊條灌叢樣株,重復(fù)以上測(cè)點(diǎn)的傳感器布置和采樣。直至所有的樣株全部采樣完成。從數(shù)據(jù)采集器上下載輻射測(cè)定數(shù)據(jù),進(jìn)行冠層透光率計(jì)算。

LAI的測(cè)量
LAI測(cè)量分為直接測(cè)量和間接測(cè)量,直接測(cè)量對(duì)葉片具有破壞性,如格點(diǎn)法、方格法、落葉收集法和分層收割法等。間接測(cè)量方法主要是通過(guò)光學(xué)儀器測(cè)量相關(guān)參數(shù)直接或間接推算得到LAI。應(yīng)用比較多的就是間接測(cè)量方法。間接測(cè)量方法按照測(cè)量原理可分為兩種,一種是基于冠層空隙大小的分布來(lái)確定的,如植物冠層分析儀和魚(yú)眼鏡頭等。一種是基于冠層空隙率來(lái)確定的,如植被冠層分析儀。測(cè)量原理基于貝爾定律,結(jié)合Norman和Campbell線性小二乘理論,可以反演出對(duì)應(yīng)LAD區(qū)間的LAI分布,定量確定LAI和LAD的關(guān)系。Campbell橢球分布函數(shù)則可以擬合出不同樹(shù)種分布參數(shù),以LAD為紐帶,對(duì)比分析兩種理論可判斷測(cè)量的準(zhǔn)確性。 Norman和Campbell線性小二乘理論所需要的已知參數(shù)包括:太陽(yáng)天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數(shù),計(jì)算出冠層的有效LAI,結(jié)合聚集指數(shù)推算出真正的有效LAI。太陽(yáng)方位角即太陽(yáng)所在的方位,指太陽(yáng)光線在地平面上的投影與當(dāng)?shù)刈游缇€的夾角,可近似地看作是豎立在地面上的直線在陽(yáng)光下的陰影與正南方的夾角。反演的過(guò)程其實(shí)就是求解多元方程組,因太陽(yáng)天頂角的個(gè)數(shù)必須大于葉傾角在0°到90°內(nèi)所分的區(qū)間個(gè)數(shù),方程組才能解。后根據(jù)反演得到的各個(gè)葉傾角區(qū)間內(nèi)的有效LAI,可以得出對(duì)應(yīng)區(qū)間的葉傾角概率密度分布情況,當(dāng)葉傾角區(qū)間的個(gè)數(shù)越多葉傾角概率密度曲線就越平滑,但還需要通過(guò)線性回歸分析來(lái)確定葉傾角區(qū)間個(gè)數(shù)是多少時(shí)。事實(shí)上葉傾角概率密度分布曲線屬于單峰型曲線,無(wú)論區(qū)間個(gè)數(shù)多少,實(shí)測(cè)結(jié)果的葉傾角概率分布曲線介于線性小二乘理論反演結(jié)果和Campbell函數(shù)擬合結(jié)果曲線之間。Campbell函數(shù)擬合的概率密度要比實(shí)測(cè)的要偏小,線性小二乘理論由于得到的是對(duì)應(yīng)葉傾角區(qū)間中值的離散結(jié)果,反演結(jié)果偏大在其他葉傾角區(qū)間時(shí),兩者存在一種互補(bǔ)關(guān)系。

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