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宇航志達(dá)試驗(yàn)裝備（東莞市）有限公司
主營產(chǎn)品： 兩箱式高低溫沖擊箱,高低溫實(shí)驗(yàn)試驗(yàn)箱,恒定高低溫試驗(yàn)箱 |
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宇航志達(dá)試驗(yàn)裝備（東莞市）有限公司
主營產(chǎn)品： 兩箱式高低溫沖擊箱,高低溫實(shí)驗(yàn)試驗(yàn)箱,恒定高低溫試驗(yàn)箱 |
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| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱 | |||
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PCT高壓壽命加速老化箱/試驗(yàn)箱 簡單介紹：PCT高壓壽命加速老化箱/試驗(yàn)箱武漢廠家外箱均采用304不銹鋼板，圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì) 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-13 |
參考價(jià):¥58600 詢價(jià)留言 | ||
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非飽和高壓PCT加速壽命老化箱/試驗(yàn)箱 簡單介紹：非飽和高壓PCT加速壽命老化箱/試驗(yàn)箱 控制器運(yùn)算采用模糊算法，技術(shù)控制，精度高，使之達(dá)到效果；7″TFT真彩LCD觸摸屏，比其它屏更大?？刂破魅藱C(jī)界面互動(dòng)友好形式設(shè)計(jì)，操作方便，運(yùn)行更可靠。具有USB接口直接拷貝記錄功能，包括歷史曲線，歷史數(shù)據(jù)等，直接拷貝到計(jì)算機(jī)查看分析及存盤?？蛇xRS-232或RS-485通訊接口,可雙向操控機(jī)器及計(jì)算機(jī)硬盤儲(chǔ)存數(shù)據(jù)。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-13 |
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言 | ||
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PCT高壓加速老化箱/試驗(yàn)箱 簡單介紹：PCT高壓加速老化箱/試驗(yàn)箱用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗(yàn)。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-13 |
參考價(jià):¥61500 詢價(jià)留言 | ||
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PCT高溫高壓蒸煮加速耐老化試驗(yàn)箱/機(jī) 簡單介紹：PCT高溫高壓蒸煮加速耐老化試驗(yàn)箱/機(jī)加速老化試驗(yàn)雙重過熱保護(hù)裝置，當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時(shí)，機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動(dòng)切斷加熱電源。采用進(jìn)口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-13 |
參考價(jià):¥65200 詢價(jià)留言 | ||
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PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱 簡單介紹：PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗(yàn)。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-13 |
參考價(jià):¥68500 詢價(jià)留言 | ||
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YH-HAST-450非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱 簡單介紹：非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱 控制器運(yùn)算采用模糊算法，技術(shù)控制，精度高，使之達(dá)到效果；7″TFT真彩LCD觸摸屏，比其它屏更大?？刂破魅藱C(jī)界面互動(dòng)友好形式設(shè)計(jì)，操作方便，運(yùn)行更可靠。具有USB接口直接拷貝記錄功能，包括歷史曲線，歷史數(shù)據(jù)等，直接拷貝到計(jì)算機(jī)查看分析及存盤?？蛇xRS-232或RS-485通訊接口,可雙向操控機(jī)器及計(jì)算機(jī)硬盤儲(chǔ)存數(shù)據(jù)。 產(chǎn)品型號(hào)：YH-HAST-450 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-13 |
參考價(jià):¥126800 詢價(jià)留言 | ||
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PCT高壓加速壽命加老化測試試驗(yàn)箱 簡單介紹：PCT高壓加速壽命加老化測試試驗(yàn)箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-13 |
參考價(jià):¥56800 詢價(jià)留言 | ||
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YH-PCT中山PCT氣候高壓加速老化試驗(yàn)箱 簡單介紹：中山PCT氣候高壓加速老化試驗(yàn)箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產(chǎn)品型號(hào)：YH-PCT 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-13 |
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言 | ||
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首頁-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗(yàn)儀 簡單介紹：首頁-高壓壽命加速老化箱|高溫蒸煮試驗(yàn)儀主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-12 |
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言 | ||
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首頁高溫蒸煮儀高壓加壓加速老化壽命試驗(yàn)機(jī) 簡單介紹：首頁高溫蒸煮儀高壓加壓加速老化壽命試驗(yàn)機(jī)主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-12 |
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言 | ||
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PCT高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱/hast加速老化箱 簡單介紹：PCT高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱/hast加速老化箱用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LED、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、循環(huán)試驗(yàn)。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-12 |
參考價(jià):¥56900 詢價(jià)留言 | ||
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PCT高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱 簡單介紹：PCT高壓加速壽命老化試驗(yàn)箱高壓加速老化試驗(yàn)雙重過熱保護(hù)裝置，當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時(shí)，機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動(dòng)切斷加熱電源。采用進(jìn)口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-12 |
參考價(jià):¥59800 詢價(jià)留言 | ||
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線路板高壓濕熱加速老化試驗(yàn)機(jī)通電測試箱廠 簡單介紹：線路板高壓濕熱加速老化試驗(yàn)機(jī)通電測試箱廠 PCT試驗(yàn)箱 高壓加速老化試驗(yàn)雙重過熱保護(hù)裝置，當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時(shí)，機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動(dòng)切斷加熱電源。采用進(jìn)口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動(dòng)演算控制飽和蒸氣溫度 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-12 |
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言 | ||
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IC半導(dǎo)體通電測試高壓加速老化濕熱試驗(yàn)箱 簡單介紹：IC半導(dǎo)體通電測試高壓加速老化濕熱試驗(yàn)箱 高壓加速老化試驗(yàn)箱武漢廠家外箱均采用304不銹鋼板，圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗(yàn)內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)容器標(biāo)準(zhǔn)，可防止試驗(yàn)中結(jié)露滴水設(shè)計(jì) 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-12 |
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高壓加速老化試驗(yàn)箱（PCT）/精密高溫高壓老化 簡單介紹：高壓加速老化試驗(yàn)箱（PCT）/精密高溫高壓老化主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-12 |
參考價(jià):面議 詢價(jià)留言 | ||
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高溫高壓環(huán)境加速試驗(yàn)箱/高壓加速測試箱 簡單介紹：高溫高壓環(huán)境加速試驗(yàn)箱/高壓加速測試箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-12 |
參考價(jià):¥61800 詢價(jià)留言 | ||
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可程式高壓加速老化箱/hast高壓壽命試驗(yàn)機(jī) 簡單介紹：可程式高壓加速老化箱/hast高壓壽命試驗(yàn)機(jī)主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-12 |
參考價(jià):¥56900 詢價(jià)留言 | ||
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Pct高壓加壓加速老化壽命試驗(yàn)機(jī)/高壓測試箱 簡單介紹：Pct高壓加壓加速老化壽命試驗(yàn)機(jī)/高壓測試箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-12 |
參考價(jià):¥52900 詢價(jià)留言 | ||
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高溫高壓蒸煮儀/非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱 簡單介紹：高溫高壓蒸煮儀/非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：東莞市 更新時(shí)間：2025-01-12 |
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