失效分析服務(wù)

失效分析實(shí)驗(yàn)室擁有場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡、X射線能譜儀、紅外光譜儀、便攜式金相顯微鏡以及樣品處理設(shè)備（噴金設(shè)備、超聲波清洗儀等）等，依托中心的力學(xué)性能、化學(xué)分析、金相分析、無(wú)損檢測(cè)等檢測(cè)能力，可面向材料及結(jié)構(gòu)（包括金屬材料、非金屬材料、復(fù)合材料、緊固件等）開(kāi)展系統(tǒng)的失效分析工作，包括缺陷分析、裂紋分析、斷裂失效分析、環(huán)境介質(zhì)作用下的失效分析、磨損失效分析等，同時(shí)可針對(duì)航天器表面的有機(jī)/無(wú)機(jī)污染物、多余物成分進(jìn)行快速分析檢測(cè)，通過(guò)失效分析工作為查找失效原因，發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)，為型號(hào)產(chǎn)品質(zhì)量歸零、產(chǎn)品工藝過(guò)程改進(jìn)提供技術(shù)依據(jù)。

實(shí)驗(yàn)室擁有一批專業(yè)的失效分析人員，現(xiàn)有獲得資質(zhì)認(rèn)定的高級(jí)失效分析師2人，中級(jí)失效分析師3人，多年來(lái)面向院內(nèi)各型號(hào)開(kāi)展了百余起失效分析工作，積累了豐富的失效分析經(jīng)驗(yàn)。

可提供的失效分析服務(wù)：

• 各種材料/構(gòu)件表面、斷口微觀形貌觀察；
• 能譜成分半定量分析（原子序數(shù)Z≥11）；
• 有機(jī)物成分紅外光譜定性檢測(cè)；
• 高分子材料的結(jié)構(gòu)分析；
• 材料及結(jié)構(gòu)斷口分析；
• 材料及結(jié)構(gòu)缺陷分析；
• 材料及結(jié)構(gòu)裂紋分析；
• 材料及結(jié)構(gòu)磨損失效分析
• 材料及結(jié)構(gòu)環(huán)境介質(zhì)作用下的失效分析；
• 航天器表面污染物/多余物成分分析。

儀器設(shè)備

1、場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

功能：微觀形貌觀察

參數(shù)：

a. 分辨率：0.8 nm 在30 kV (STEM)

1.0 nm 在 15 kV，WD = 2 mm

1.7 nm 在  1 kV，WD = 2 mm 

b .加速電壓0.1 – 30 kV，以10 V為一級(jí)連續(xù)可變

c. 探針電流穩(wěn)定度優(yōu)于0.2%/h

d. 放大倍數(shù)范圍：12 – 1,000,000 x，以粗調(diào)或細(xì)調(diào)方式連續(xù)可變。

e. 樣品臺(tái)行程：X = 130 mm

       Y = 130 mm

       Z =  50 mm

       T = -3?到70?

       R = 360?連續(xù)

f. 探頭包括CCD、SE、ASB、In-lens四種探頭

g. 附件包括：K550X濺射儀、超聲波清洗儀

2、X射線能譜儀：

功能：元素成分半定量檢測(cè)（僅針對(duì)原子序數(shù)Z≥11的元素）

參數(shù)：

a. 制冷方式：液氮制冷；

b .能譜儀分辨率：優(yōu)于129 eV；

c. 1000～40000CPS平均元素定量誤差小于0.5％；

d.能譜儀峰漂移：Mn Kα峰譜峰漂移小于1eV；

3、便攜式金相顯微鏡

功能：金相組織的觀察

參數(shù)：

0~30倍連續(xù)觀察；

200倍、500倍高倍觀察； 

4、傅立葉紅外光譜儀

功能：可用于研究分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)鍵，可以作為表征和鑒別有機(jī)材料類別

參數(shù)：

a. 光譜范圍：400-4000cm-1;；

b .光譜分辨率：0.4-64 cm-1；

c. 附件：透射、衰減全反射；

d. 樣品類型：固體、液體、粉末；