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HT-371高阻雙電四探針測試儀返回列表頁

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更新時間：2021-07-01 13:59:37瀏覽次數(shù)：450次

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產(chǎn)品分類品牌分類

分析儀: 分散度檢測儀電阻率測試儀

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產(chǎn)品簡介

應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

HT-371高阻雙電四探針測試儀覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電（屏蔽）布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試。

詳情介紹

HT-371高阻雙電四探針測試儀覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試。

HT-371高阻雙電四探針測試儀功能概述：

1. 可以測試到1010Ω方阻值.

2. 液晶顯示，高精度AD芯片控制.

3. 恒流輸出，四探針雙位測量.

4. 參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn).

5. 中或英文語言版本.

應(yīng)用說明：

覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試。

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等.

參數(shù)資料：

規(guī)格型號model	HT-371A	HT-371B	HT-371C
1.方塊電阻范圍sheet resistance	10-4～1×107Ω/□	10-4～1×109Ω/□	10-4～1×1010Ω/□
2.電阻率范圍resistivity	10-5～2×108Ω-cm	10-5～2×1010Ω-cm	10-5～2×1011Ω-cm
3.測試電流范圍test current	10mA ---200pA	10mA ---20pA	10mA ---2pA
4.電流精度current accuracy	±2%	±2%	±5%
5.電阻精度resistance accuracy	≤10%	≤10%	≤15%
6.顯示讀數(shù)display	液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率 LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity
7.測試方式test mode	組合雙電測試方法combined double electric test method
8.工作電源working power	輸入: AC 220V±10%.50Hz功耗：<30W
9.誤差errors	Machine uncertain≤15%
10.選購功能choose to buy	選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test platform
11.測試探頭test probe	探針間距選購： 2mm；3mm兩種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.