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GUT-6000B桌上型數(shù)位IC測(cè)試器
閱讀：899 發(fā)布時(shí)間：2020-6-11GUT-6000B桌上型數(shù)位IC測(cè)試器
產(chǎn)品特點(diǎn)
Loop 測(cè)試
自動(dòng)搜尋IC 編號(hào)功能
開機(jī)自我偵測(cè)診斷功能
過(guò)載保護(hù)功能
可量測(cè)之IC 種類超過(guò)1800 種
54/74 系列TTL
4000 及4500 系列CMOS
大可測(cè)Pin 數(shù): 28 Pin
產(chǎn)品敘述
桌上型數(shù)位IC測(cè)試器
GUT-6000B是一款桌上型IC測(cè)試儀。鑒于使測(cè)試任務(wù)自動(dòng)化，GUT-6000B包含自動(dòng)搜索功能和回圈測(cè)試功能等高級(jí)功能。并提供智慧化連續(xù)偵測(cè)壞損的IC的功能。自我診斷功能和超載保護(hù)功能使GUT-6000B更接近零維護(hù)，減少了使用者不必要的爭(zhēng)議。測(cè)試器件大1800多種常見的TTL和COMS器件，真正在數(shù)位IC測(cè)試領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)一個(gè)機(jī)型測(cè)量所有器件的解決方案。
產(chǎn)品規(guī)格
規(guī)格 | |
測(cè)試范圍 | |
| 54/74 系列 TTL;4000 及 4500 系列 CMOS;DRIVE |
量測(cè)種類 | |
| 約 1800 種 |
測(cè)試電壓 | |
| 2.5/3.0/3.3/5V DC |
測(cè)試時(shí)間 | |
| 高測(cè)試速度，平均 0.6 秒可完成一個(gè) IC |
使用電源 | |
| 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz |
尺寸及重量 | |
| 335(寬) x 105(高) x 300(長(zhǎng)) mm,約 1.5 公斤 |