怡信SPM-3020T（探針）全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x詳細(xì)參數(shù)：

測(cè)量行程：300mm×200mm (X×Y)

工件限高：200mm (Z)

玻璃臺(tái)尺寸：340 mm×240 mm

示值系統(tǒng)：怡信Easson

分辨率：0.01μm

示值精度：E = （2.0+4L/1000） μm    (L單位:mm)

重復(fù)精度：± 2μm

載物臺(tái)尺寸：460 mm×360 mm

機(jī)臺(tái)承重：30kg

整機(jī)重量：280 kg

整機(jī)尺寸：1350 mm×800 mm×1700 mm

怡信SPM-3020T（探針）全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)：伺服馬達(dá)

控制系統(tǒng)：網(wǎng)路接口主板及伺服電機(jī)以及驅(qū)動(dòng)做了全方面升級(jí)，Z軸帶剎車系統(tǒng)，保證機(jī)器的平穩(wěn)安全，定位更準(zhǔn)

傳動(dòng)方式：三個(gè)軸采用PMI中國(guó)臺(tái)灣精密級(jí)滾珠絲桿，速度有大提升，而且運(yùn)作平穩(wěn)。

操作方式：搖控手柄、鼠標(biāo)拖運(yùn)、程序檢測(cè)

影像系統(tǒng)：日本SONY芯片高解析彩色攝影機(jī)

影像擷取卡：怡信Easson自主設(shè)計(jì)影像測(cè)量?jī)x卡

物鏡：怡信Easson自主設(shè)計(jì)TC精密多段定倍遠(yuǎn)心鏡頭

光學(xué)放大倍率：0.7×-4.5×，（0.5X，1.5X，2.0X附加鏡片）。

實(shí)際倍率：20-130X

照明系統(tǒng)：USB控制40路上光源，直軸可調(diào)下光源

量測(cè)軟件：怡信Easson自主開發(fā)Easson 2D自動(dòng)版光學(xué)視覺量測(cè)軟件

工作機(jī)臺(tái)：高精度花崗巖平臺(tái)

電源：AC 220±5V、50Hz

使用環(huán)境：溫度 18-22℃、±1℃；濕度30%-80%；震動(dòng)15Hz以下＜0.001g。

其他內(nèi)容：

1.測(cè)針工作原理：

測(cè)針是測(cè)量系統(tǒng)的組成部分，當(dāng)測(cè)針的測(cè)針頭與被測(cè)工件接觸時(shí)，測(cè)針頭變化帶動(dòng)測(cè)頭機(jī)構(gòu)產(chǎn)生信號(hào)，在經(jīng)過處理得出測(cè)量結(jié)果，達(dá)到檢測(cè)目的。

2.測(cè)針測(cè)量誤差來源

環(huán)境溫濕度，測(cè)針組成材料的剛度，測(cè)針頭的精度，測(cè)針頭與測(cè)針柄部螺紋同軸度，測(cè)針柄螺紋的精度，測(cè)針頭與被測(cè)工件接觸位置。

建議在精密測(cè)量時(shí)，應(yīng)對(duì)測(cè)針進(jìn)行標(biāo)定，否則將降低測(cè)量精度。

3.測(cè)針選擇原則

1.測(cè)球直徑盡量大，已減少被測(cè)工件表面粗糙度對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。

2.測(cè)針盡量短，測(cè)針超短其彎曲或變形量越少，精度越高。

3.接頭盡量減少，每增加一個(gè)連接點(diǎn)，便增加了一個(gè)潛在的彎曲和變形點(diǎn)。

4.測(cè)針連接形式

螺紋或直柄連接

5.球形螺紋連接直測(cè)針的基本機(jī)構(gòu)

測(cè)針頭、測(cè)針桿、測(cè)針柄、加長(zhǎng)桿、防撞保護(hù)座等。

探針測(cè)量包含 2 個(gè)菜單，分別為 “探針測(cè)量" 和 “三維輔助測(cè)量"。

“探針測(cè)量" 菜單主要用于進(jìn)行物體的單一測(cè)量，包含以下命令：

探針設(shè)置：進(jìn)行探針的一些常規(guī)設(shè)置，包括探針的校正等。

水平線測(cè)量：用于測(cè)量與水平面平行的直線。

水平圓測(cè)量：用于測(cè)量與水平面平行的圓。

空間點(diǎn)測(cè)量：用于測(cè)量空間上任意一點(diǎn)，此命令須設(shè)置基準(zhǔn)平面。

空間線測(cè)量：用于測(cè)量空間上任意直線，此命令須設(shè)置基準(zhǔn)平面。

空間圓測(cè)量：用于測(cè)量空間上任意圓，此命令須設(shè)置基準(zhǔn)平面。

解法設(shè)定：用于設(shè)定空間點(diǎn)、線、圓的補(bǔ)償方式，如是否投影到基準(zhǔn)面等等。

高度測(cè)量：用于測(cè)量物體在 Z 方向上的距離。