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目錄:束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司>>三維X射線顯微鏡(XRM)>>D8>> 高分辨薄膜X射線衍射儀檢測(cè)

高分辨薄膜X射線衍射儀檢測(cè)
  • 高分辨薄膜X射線衍射儀檢測(cè)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 Bruker/布魯克
  • 型號(hào)
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市
屬性

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更新時(shí)間:2025-02-11 13:56:43瀏覽次數(shù):2919評(píng)價(jià)

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價(jià)格區(qū)間 面議 儀器種類 單晶衍射儀
應(yīng)用領(lǐng)域 生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),電子,制藥
原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化,探索材料合成條件;也可以用來探測(cè)充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化,這對(duì)探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結(jié)構(gòu)變化引起的安全問題是一種重要的手段;
科研支撐、變溫物相分析、變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動(dòng)力學(xué)分析;分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應(yīng)物相分析。高分辨薄膜 X 射線衍射儀檢測(cè)

高分辨薄膜X射線衍射儀檢測(cè)

 

項(xiàng)目

細(xì)則

收費(fèi)

說明

Rocking Curve

單一圖譜,30min 以內(nèi);若超 過 30min,延長時(shí)間按240元 /30min計(jì),不足30min 按 30min計(jì); 薄膜帶襯底材料的薄膜或帶 基材的鍍層等原始形狀,厚 度≤1mm,直徑≤2cm

240元/樣

1.長時(shí)間數(shù)據(jù)手機(jī)(大于5h)、復(fù)雜樣品等特殊測(cè)試,價(jià)格需面議;

2.原位測(cè)試需提供測(cè)試方法

2Theta/Omega Scan

對(duì)稱掃描單一圖譜,30min 以 內(nèi);掃描時(shí)間大于 30min,延 長時(shí)間按240元/30min,不足 30min 按 30min 計(jì)

240元/樣

2Theta/Omega Scan

不對(duì)稱掃描單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描時(shí)間大于 30min, 延長時(shí)間按 240元/30min計(jì),不足 30min 按 30min 計(jì)

300元/樣

Skew Scan

不對(duì)稱掃描單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描時(shí)間大于 30min, 延長時(shí)間按 240 元/30min計(jì),不足 30min 按 30min 計(jì)

300元/樣

XRR

單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描 時(shí)間大于 30min,延長時(shí)間按240 元 /30min計(jì),不足30min 按 30min 計(jì)

300元/樣

GID

單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描 時(shí)間大于 30min,延長時(shí)間按240 元 /30min計(jì),不足30min 按 30min 計(jì)

300元/樣

Phi Scan

Phi 掃描單一圖譜,30min 以 內(nèi);掃描時(shí)間大于30min,延長時(shí)間按 240元/30min計(jì),不足 30min 按 30min 計(jì)

300元/樣

RSM

單點(diǎn)倒易空間 mapping 單一圖譜,30min 以內(nèi);掃描時(shí)間 大于 30min,延長時(shí)間按240元/30min計(jì),不足30min 按 30min 計(jì)

400元/樣

低溫測(cè)試

包含 2 個(gè)溫度點(diǎn),第二點(diǎn)后, 240 元/ 測(cè)試點(diǎn);低溫測(cè)試液氮另加30元/時(shí)

900元/樣

高分辨薄膜X射線衍射儀檢測(cè)

儀器功能特點(diǎn):

1- 高效的6KW TXS-HE轉(zhuǎn)靶光源,強(qiáng)度是封閉靶的5倍;

2- 入射光路三光路自動(dòng)切換系統(tǒng):粉末衍射聚焦光路、薄膜反射、掠入射平行光路;高分辨光路:高分辨毛細(xì)管透射、反射、外延薄膜高分辨;

3- 探測(cè)器的開口大,適合測(cè)試速度快原位;配置準(zhǔn)直器后開展二維衍射實(shí)時(shí)分析,還原原位二維信息;配備的高低溫系統(tǒng)可實(shí)時(shí)檢測(cè)反應(yīng)中結(jié)構(gòu)的演變過程;

4- 原位充放電、原位電化學(xué)附件更是快速準(zhǔn)確地追溯揭示了phase transformation過程。

應(yīng)用范圍:

原位高低溫附件可以在材料合成過程中來觀察材料結(jié)構(gòu)變化,探索材料合成條件;也可以用來探測(cè)充放電到某個(gè)電位下材料隨溫度變換而產(chǎn)生的相應(yīng)的結(jié)構(gòu)變化,這對(duì)探討實(shí)際電池安全性產(chǎn)生的原因之一,即材料結(jié)構(gòu)變化引起的安全問題是一種重要的手段;

科研支撐

變溫物相分析

變溫過程中的晶粒尺寸、晶型、晶胞參數(shù)及動(dòng)力學(xué)分析

分析、電池充放電物相分析、原位電化學(xué)反應(yīng)物相分析。

產(chǎn)業(yè)支撐

藥物作用機(jī)理及動(dòng)力學(xué)分析、藥物理化性質(zhì)及穩(wěn)定性分析。

 

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