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當前位置:上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>分析儀器>>色譜、質(zhì)譜、光譜、波譜>> 02美國PHI 高性能飛行時間二次離子質(zhì)譜儀
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號02
品 牌ULVAC-PHI
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時間:2024-11-05 13:46:03瀏覽次數(shù):148次
聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)賽默飛LCQ Fleet 離子阱液質(zhì)聯(lián)用儀
產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
TOF-SIMS 中,根據(jù)分子結(jié)構(gòu)反映的質(zhì)譜,能更詳細的對化學結(jié)構(gòu)進行分析。
產(chǎn)品介紹:
01. TRIFTTM 三次聚焦分析儀適用於無論是平面或非平面及形狀復(fù)雜的樣品
02. 革新的離子以實現(xiàn)高精度的測量
03. 多種濺射離子實現(xiàn)三維成像的深度分析
04. SmartSoft™-TOF 軟件,使得樣品分析操作更簡單容易
05. 多功能樣晶處理
06. 雙束電荷中和
化學結(jié)構(gòu)進行分析。
測量之后,任伺區(qū)域的質(zhì)譜都可以在後數(shù)據(jù)處理時提取出來。
TOF-SIMS 中,經(jīng)過反復(fù)測量和濺射,得到深層的結(jié)構(gòu)。
這段期間內(nèi),所有的質(zhì)譜都會被保存,完成測量后,任意深度的質(zhì)譜都可以在後數(shù)據(jù)處理時提取出來。
深度概況的數(shù)據(jù)源于在深度改變時樣品結(jié)構(gòu)的變化,在進行完深度分析後不僅可以擁有內(nèi)部的信息,
三維構(gòu)筑的信息也可以得到。
提供了兩種類型的標準樣晶托,有直徑25mm ,樣晶在樣晶托背面安裝并固定( Back-mount) ,
能放個樣品的樣品托,方便對準樣晶高度。也有直接在樣晶托正面安裝樣晶,可放置和樣晶托一般
用液氮冷卻和用加熱器加熱樣晶臺,在-150t 200t 之間可控。樣晶托上配有溫度感應(yīng)裝置,當樣晶
在進樣室開始,軟件即馬上顯示實時溫度回讀。另外也可以選配比較高可達600t只做加熱的樣晶托。
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