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薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品品牌:Frontier Semiconductor產(chǎn)品型號(hào):薄膜應(yīng)力和硅片翹曲檢測(cè)儀產(chǎn)品描述:光學(xué)設(shè)計(jì)減少圖形襯底對(duì)激光的干涉。
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備 FSM 500TC 200mm 高溫應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)可以幫助研發(fā)和工藝工程師評(píng)估薄膜的熱力學(xué)性能和穩(wěn)定性特性,主要應(yīng)用于半導(dǎo)體,三-五族...
薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備 FSM推出基于商業(yè)化應(yīng)用的激光掃描光學(xué)杠桿(Optilever)技術(shù),主要應(yīng)用于薄膜應(yīng)力和晶圓彎曲測(cè)量。該設(shè)備頻繁使用在分析解決諸如...
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