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    薄膜應(yīng)力測(cè)試儀晶元彎曲測(cè)試儀基底翹曲分析儀薄膜裂紋測(cè)試儀半導(dǎo)體薄膜分析
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    型號(hào): FSM 500TC 所在地:上海市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/5/22 10:32:36 對(duì)比
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    薄膜應(yīng)力及基底翹曲測(cè)試設(shè)備 FSM推出基于商業(yè)化應(yīng)用的激光掃描光學(xué)杠桿(Optilever)技術(shù),主要應(yīng)用于薄膜應(yīng)力和晶圓彎曲測(cè)量。該設(shè)備頻繁使用在分析解決諸如...

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