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植物冠層分析儀儀器介紹

時(shí)間:2018/10/23閱讀:1965
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 植物冠層分析儀300可測量葉面積指數(shù)、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數(shù)、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)等。廣泛應(yīng)用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農(nóng)林業(yè)科研工作。
  植物冠層分析儀儀器介紹
  
植物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研,為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查,測量植物冠層中光線的攔截,研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系,本儀器用于400nm-700nm波段內(nèi)的光合有效輻射(PAR)測量、記錄,測量值的單位是平方米·秒上的微摩爾(μmols㎡/秒)。由于作物冠層測量儀主要測量作物葉片對光線的攔截,所以該儀器適用于比較低矮的作物,樹木等其他較高的植物,推薦使用FS-2000植物冠層圖像分析儀。
  測量植物冠層的作用:
  作物葉面積指數(shù)是描述作物冠層結(jié)構(gòu)的一個(gè)重要參數(shù),作物冠層直接影響著作物光合作用、蒸騰等關(guān)鍵生理過程,葉面積指數(shù)是許多作物生長模型、長勢評價(jià)模型、作物估產(chǎn)模型的重要參數(shù)。所以測量作物冠層具有重要的意義。

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