Keithley4200A-SC參數(shù)分析儀半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)是一種可以量身定制、全面集成 的參數(shù)分析儀，可以同步查看電流電壓（I-V）、電容電壓（C-V） 和超快速脈沖式I-V 特性。作為性能高的參數(shù)分析儀， 4200A-SCS 加快了半導(dǎo)體、材料和工藝開發(fā)速度。

Keithley4200A-SC參數(shù)分析儀半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品技術(shù)資料	型號(hào)	說(shuō)明	價(jià)格
查看規(guī)格書	4200A-SCS-PK1  高分辨率 IV 套件	210V/100mA，0.1 fA 分辨率  對(duì)于兩端和三端設(shè)備，MOSFET、CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK1 包括： 4200A-SCS 參數(shù)分析儀 (2) 4200-SMU 模塊 (1) 4200-PA 前置放大器 (1) 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備	索取報(bào)價(jià)
查看規(guī)格書	4200A-SCS-PK2  高分辨率 IV 和 CV 套件	210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz  對(duì)于高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 檢定套件 4200A-SCS-PK2 包括： 4200A-SCS 參數(shù)分析儀 (2) 4200-SMU 模塊 (1) 4200-PA 前置放大器 (1) 4210-CVU 電容-電壓模塊 (1) 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備	索取報(bào)價(jià)
查看規(guī)格書	4200A-SCS-PK3  高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件	210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz  對(duì)于功率設(shè)備、高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 設(shè)備檢定套件 4200A-SCS-PK3 包括： 4200A-SCS 參數(shù)分析儀 (2) 4200-SMU 模塊 (2) 4210-SMU (1) 4200-PA 前置放大器 (1) 4210-CVU 電容-電壓模塊 (1) 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備	索取報(bào)價(jià)
查看規(guī)格書	4200-BTI-A  超快 NBTI/PBTI 套件	用于使用* CMOS 技術(shù)套件進(jìn)行復(fù)雜的 NBTI 和 PBTI 測(cè)量 4200-BTI-A 包括： (1) 4225-PMU 超快 I-V 模塊 (2) 4225-RPM 遠(yuǎn)程前置放大器/開關(guān)模塊 自動(dòng)化檢定套件 (ACS) 軟件 超快 BTI 測(cè)試項(xiàng)目模塊 電纜	索取報(bào)價(jià)

 

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