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簡單介紹：YD2511直流低電阻測量儀
單片機處理數(shù)據(jù)
高速AD轉(zhuǎn)換，測試速度快
上下限撥盤設(shè)置，簡單快速
分選指示，自動清零

簡單介紹：LK2515-X多路電阻測試儀
開創(chuàng)同步多通道測試的先河!模擬測試掃描單元采用同步插卡式的設(shè)計理念，可支持的插卡板測試單元可達6個，且在插卡板之間實現(xiàn)同步測量，大大提高掃描測量速度。每塊測量板內(nèi)包含16個測試端，測試端的組合支持用戶可自由編程，高可配置高達90路電阻/溫度掃描測量通道，每通道測量可單獨設(shè)計分選比較邊界以及輸出比較分選信號。

簡單介紹：LK2513B智能型直流低電阻測試儀
當(dāng)前主流的32bits CPU和高密度SMD貼裝工藝，觸摸功能的24位色4.3英寸彩色液晶屏，界面清爽、操作便捷；0.05%的高電阻測量精度及1uΩ小電阻分辨率在國內(nèi)，其適用于繼電器接觸電阻、接插件接插電阻、導(dǎo)線電阻、印制板線路及焊孔電阻等；溫度補償和溫度轉(zhuǎn)換功能免除環(huán)境溫度對測試工作的影響；失調(diào)電壓補償功能能夠有效消除被測件自身的電動勢以及接觸電勢差

簡單介紹：LK2513A智能型直流低電阻測試儀
當(dāng)前主流的32bits CPU和高密度SMD貼裝工藝，觸摸功能的24位色4.3英寸彩色液晶屏，界面清爽、操作便捷；0.05%的高電阻測量精度及1uΩ小電阻分辨率在國內(nèi)，其適用于繼電器接觸電阻、接插件接插電阻、導(dǎo)線電阻、印制板線路及焊孔電阻等；溫度補償和溫度轉(zhuǎn)換功能免除環(huán)境溫度對測試工作的影響；失調(diào)電壓補償功能能夠有效消除被測件自身的電動勢以及接觸電勢差

簡單介紹：LK2513智能型直流低電阻測試儀
用當(dāng)前主流的32bits CPU和高密度SMD貼裝工藝，帶觸摸功能的24位色4.3英寸彩色液晶屏，界面清爽、操作便捷;0.05%的高電阻測量精度及1uΩ小電阻分辨率在國內(nèi)，其適用于繼電器接觸電阻、接插件接插電阻、導(dǎo)線電阻、印制板線路及焊孔電阻等;溫度補償和溫度轉(zhuǎn)換功能免除環(huán)境溫度對測試工作的影響;失調(diào)電壓補償功能能夠有效消除被測件自身的電動勢以及接觸電勢

簡單介紹：HPS2526精密方塊電阻測試儀可方便地測量塑料薄膜、金屬鍍層方塊電阻（每平方厘米電阻量值）的儀器。均勻金屬薄層的厚度可用單位面積所體現(xiàn)的電阻表征，由于方阻與鍍層厚度成反比，也就可以由方阻計算出鍍層厚度。 儀器配有結(jié)構(gòu)設(shè)計的四探針探頭和面測夾具，使得測試時壓力恒定，接觸可靠，可更詳細地分析薄膜金屬化的質(zhì)量。

簡單介紹：HPS2523鍍膜方塊電阻測試儀
HPS2523是款經(jīng)濟型的鍍膜方塊電阻測試儀，可方便地測量塑料薄膜、金屬鍍層方塊電阻（每平方厘米電阻量值）的儀器。儀器配有結(jié)構(gòu)設(shè)計的四探針探頭，使得測試時壓力恒定，接觸可靠，可更詳細地分析薄膜金屬化的質(zhì)量。

簡單介紹：HPS2561四探針電阻率測試儀
測試參數(shù)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻
四探針電阻率測試儀，可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進行測量。

簡單介紹：HPS9200精密回路電阻測試儀采用200A恒流輸出。高輸出電壓達10V，可采用載面細的測試線，大大減輕了現(xiàn)場測試人員的勞動強度。測試過程全部由單片控制實施，精度高、重復(fù)性好、單按鍵操作、簡單易行、測試數(shù)據(jù)液晶顯示，適用于不同的工作環(huán)境測量接觸電阻值。

簡單介紹：HPS9100回路電阻測試儀采用100A恒流輸出。高輸出電壓達10V，可采用載面細的測試線，大大減輕了現(xiàn)場測試人員的勞動強度。測試過程全部由單片控制實施，精度高、重復(fù)性好、單按鍵操作、簡單易行、測試數(shù)據(jù)液晶顯示，適用于不同的工作環(huán)境測量接觸電阻值。

簡單介紹：HPS2541防雷元件測試儀適用于氧化鋅避雷器（壓敏電阻），金屬陶瓷二、三電極放電管、真空避lei管等過壓防護元件直流參數(shù)的測試，是一種性價比很高的寬測試范圍的防雷元件測量儀器，本儀器具有測量精度高﹑速度快﹑范圍寬等特點。在任一量程范圍內(nèi)，具有相同的測試速度；性能穩(wěn)定，達到*水平。本儀器可廣泛用于工廠、院校、研究所等，對熱敏電阻進行測量、批量分選。

簡單介紹：HPS2540精密壓敏電阻測試儀又稱為GDT測試儀，基于高性能微處理器和高密度SMD貼裝工藝，產(chǎn)生高精度恒流、恒壓源，可以快速準確地測量壓敏電阻的壓敏電壓UN、泄露電流IL、壓比Kr以及非線性系數(shù)α等各項指標。HPS2540安全可靠、精度高、測試方便，超高速的測試速度以及豐富的通訊接口，使得無論是普通的分散測試和檢驗還是高能氧化鋅壓敏電阻的實驗研究與分析以及組建自動測試系統(tǒng)或數(shù)據(jù)采集，均可輕松勝任

簡單介紹：HPS2548精密環(huán)形壓敏電阻測試儀
采用進口高性能微處理器和高密度SMD貼裝工藝，是專門用于測量環(huán)形壓敏電阻各項電氣參數(shù)的精密儀器。高精度高穩(wěn)定度的恒流源、高分辨率的A/D、優(yōu)異的取樣放大電路、軟件抗干擾算法，保證了環(huán)形壓敏電阻測試儀HPS2548的精度及穩(wěn)定性；HPS2548安全可靠、測試方便，具有分選結(jié)果信號輸出，主要用于環(huán)形壓敏電阻生產(chǎn)行業(yè)對產(chǎn)品進行人工測試分檢和配合自動分選設(shè)備測試分檢。

簡單介紹：HPS5308 PTC和NTC熱敏電阻R-T曲線測試系統(tǒng)
為實現(xiàn)PTC和NTC熱敏電阻特性自動化測試而設(shè)計的。系統(tǒng)采用與IBM-PC兼容的P4以上微機高分辨率彩顯,配以數(shù)據(jù)采集模塊和測控電路,以電阻升溫箱作為測量環(huán)境,實現(xiàn)熱敏電阻 R－T特性的自動化測試。采用新高性能ARM微處理器，可同時對多個熱敏電阻同時進行采集、顯示和存儲處理。本測試系統(tǒng)適用于實驗室、企業(yè)等單位從事熱敏電阻的科研、開發(fā)

簡單介紹：HPS2530PTC/NTC熱敏電阻測試儀
采用高性能ARM微處理器、多種測試模式和*的自動歸零電路，很好地消除了熱電電勢對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤差；溫度補償和溫度轉(zhuǎn)換功能使得儀器可在常溫下測量熱敏電阻值，免除環(huán)境溫度對測試工作的影響； HPS2535擁有超高速的測試速度以及豐富的通訊接口，廣泛應(yīng)用于PTC熱敏電阻、NTC熱敏電阻等的分散測試和生產(chǎn)線批量生產(chǎn)中，輕松組建自動化測試系統(tǒng)。

簡單介紹：HPS2535精密熱敏電阻測試儀
采用高性能ARM微處理器、多種測試模式和*的自動歸零電路，很好地消除了熱電電勢對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤差；溫度補償和溫度轉(zhuǎn)換功能使得儀器可在常溫下測量熱敏電阻值，免除環(huán)境溫度對測試工作的影響； HPS2535擁有超高速的測試速度以及豐富的通訊接口，廣泛應(yīng)用于PTC熱敏電阻、NTC熱敏電阻等的分散測試和生產(chǎn)線批量生產(chǎn)中，輕松組建自動化測試系統(tǒng)。

簡單介紹：HPS2510-128精密多路電阻測試儀
全新設(shè)計的高精度、高穩(wěn)定性的寬測試范圍的精密多路電阻測試儀，能夠同時測量6個通道電阻值，采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術(shù)，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤差；每個通道可以獨立設(shè)定上下限并可以選擇任意通道獨立測量；HPS5106擁有超高速的測試速度以及豐富的通訊接口，配合Handler接口輸出各種分選型號

簡單介紹：HPS2510-64精密多路電阻測試儀
是全新設(shè)計的高精度、高穩(wěn)定性的寬測試范圍的精密多路電阻測試儀，能夠同時測量6個通道電阻值，采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術(shù)，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤差；每個通道可以獨立設(shè)定上下限并可以選擇任意通道獨立測量；HPS5106擁有超高速的測試速度以及豐富的通訊接口，配合Handler接口輸出各種分選型號

簡單介紹：HPS2510-48精密多路電阻測試儀
是全新設(shè)計的高精度、高穩(wěn)定性的寬測試范圍的精密多路電阻測試儀，能夠同時測量6個通道電阻值，采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術(shù)，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤差；每個通道可以獨立設(shè)定上下限并可以選擇任意通道獨立測量；HPS5106擁有超高速的測試速度以及豐富的通訊接口，配合Handler接口輸出各種分選型號

簡單介紹：HPS2510-32精密多路電阻測試儀
是全新設(shè)計的高精度、高穩(wěn)定性的寬測試范圍的精密多路電阻測試儀，能夠同時測量6個通道電阻值，采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術(shù)，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤差；每個通道可以獨立設(shè)定上下限并可以選擇任意通道獨立測量；HPS5106擁有超高速的測試速度以及豐富的通訊接口，配合Handler接口輸出各種分選型號