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安賽斯(北京)科技有限公司
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  • 三維云紋干涉儀

    三維云紋干涉儀:該設(shè)備用于測量試件在機械或熱載荷作用下的三維熱機械變形場(面內(nèi)的U,V場和離面的W場)。在電子封裝領(lǐng)域,該設(shè)備是重要的失效分析手段。

    型號: 所在地:香港特別行政區(qū)參考價: 面議更新時間:2024/12/31 13:25:45 對比
    干涉儀安賽斯
  • 計算機斷層掃描系統(tǒng)

    FF35 CT 計算機斷層掃描系統(tǒng)非常適合檢查您的中小型產(chǎn)品:電子元件如SMD,導體封裝,材料探針(如金屬,塑料,CFRP),系統(tǒng),MEMS,MOEMS,療器械...

    型號: FF35 CT 所在地:國外參考價: 面議更新時間:2024/12/16 15:08:03 對比
    高分辨率微焦點CT系統(tǒng)X射線檢測微焦點X光機無損檢測射線檢測
  • 掌上聲發(fā)射系統(tǒng)Pocket-AE

    PocketAE-PowerTM(PAP)為基于30年的超聲儀器研發(fā)、生產(chǎn)經(jīng)驗及多年的與美國EPRI及美國多家電力公司合作研究、應(yīng)用成果上開發(fā)的,具有自創(chuàng)知識產(chǎn)...

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/12/16 15:07:49 對比
    聲發(fā)射系統(tǒng)石油化工檢測橋梁混凝土檢測巖石檢測
  • Express8聲發(fā)射系統(tǒng)

    Express8是公司新研發(fā)的基于PCI-Express總線的聲發(fā)射采集卡。采用全新的Express總線技術(shù),遠高于PCI、VMI及USB總線處理速度。

    型號: -- 所在地:香港特別行政區(qū)參考價: 面議更新時間:2024/12/16 15:05:47 對比
    聲發(fā)射系統(tǒng)無損檢測巖石檢測橋梁檢測能源檢測
  • 高分辨三維X射線檢測系統(tǒng)

    FF65 CL 高分辨三維X射線檢測系統(tǒng)用于對三維集成電路、微機電系統(tǒng)和傳感器中最小和苛刻的功能進行自動分析。

    型號: FF65 CL 所在地:香港特別行政區(qū)參考價: 面議更新時間:2024/12/16 15:05:38 對比
    高分辨三維X射線 FF65 CLIC包裝缺陷檢查
  • SAMOS聲發(fā)射系統(tǒng)

    SAMOS聲發(fā)射系統(tǒng)是第三代全數(shù)字化系統(tǒng),其核心是并行處理PCI總線的聲發(fā)射功能卡-PCI-8板,在一塊板上具有8個通道的實時聲發(fā)射特征提取、波形采集及處理的能...

    型號: 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/12/16 15:03:29 對比
    聲發(fā)射系統(tǒng)無損檢測
  • 高分辨率X射線三維檢測系統(tǒng)

    FF70 CL 高分辨率X射線三維檢測系統(tǒng)適用于全自動分析最小缺陷的高分辨率二維和三維X射線系統(tǒng)。

    型號: FF70 CL 所在地:香港特別行政區(qū)參考價: 面議更新時間:2024/12/16 15:03:27 對比
    高分辨率三維X射線 FF70 CL高分辨率二維X射線
  • 超聲波探傷儀

    V-700E超聲波探傷儀應(yīng)用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…等)

    型號: V-700E 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/12/16 15:01:34 對比
    超聲波掃描顯微鏡失效分析超聲探傷無損檢測分層缺陷
  • PCI-2聲發(fā)射系統(tǒng)

    PCI-2聲發(fā)射系統(tǒng)是新研制的適用于大學等聲發(fā)射研究的高性能/低價位聲發(fā)射采集卡(系統(tǒng))

    型號: -- 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/12/16 15:01:13 對比
    聲發(fā)射檢測無損檢測
  • 平板式超聲系統(tǒng)

    應(yīng)用:材料測厚、焊縫檢測、TOFD成像、管道內(nèi)腐蝕檢測、儲罐內(nèi)腐蝕檢測、A-UT焊縫檢測

    型號: Tablet-UT 所在地:香港特別行政區(qū)參考價: 面議更新時間:2024/12/16 14:55:11 對比
    超聲波掃描顯微鏡失效分析超聲探傷無損檢測分層缺陷
  • 中小型水浸式超聲C掃描系統(tǒng)

    中小型水浸式超聲C掃描系統(tǒng),是新一代數(shù)字化、模塊化、計算機插卡式的超聲探傷及A/B/C掃描成像系統(tǒng)。具有高速、高精度、高清晰圖像分辨率及大頻寬等特性。主要用于高...

    型號: UPK-T36 所在地:香港特別行政區(qū)參考價: 面議更新時間:2024/12/16 14:52:49 對比
    超聲波掃描顯微鏡失效分析超聲探傷無損檢測分層缺陷
  • 水浸式超聲C掃描系統(tǒng)

    水浸超聲C掃描系統(tǒng),是新一代數(shù)字化、模塊化、計算機插卡式的超聲探傷及A/B/C掃描成像系統(tǒng)。具有高速、高精度、高清晰圖像分辨率及大頻寬等特性。主要用于高分子材料...

    型號: UPK-T10 所在地:香港特別行政區(qū)參考價: 面議更新時間:2024/12/16 14:52:45 對比
    超聲波掃描顯微鏡失效分析超聲探傷無損檢測分層缺陷
  • 德國超聲波掃描顯微鏡

    名稱:德國超聲波掃描顯微鏡型號:V-400E 產(chǎn)地:德國應(yīng)用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…...

    型號: V 400E 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/12/16 14:51:05 對比
    超聲波掃描顯微鏡失效分析超聲探傷無損檢測分層缺陷
  • 微焦點X射線實時成像系統(tǒng)

    名稱:德國微焦點X射線檢測系統(tǒng)Y Cheetah EVO型號:Y Cheetah EVO系列產(chǎn)地:德國應(yīng)用:主要用于檢測電子線路板,半導體產(chǎn)品、微電子元件及電路...

    型號: Y Cheetah... 所在地:國外參考價: 面議更新時間:2024/12/16 14:49:11 對比
    X射線實時成像系統(tǒng)X射線檢測微焦點X光機無損檢測射線檢測
  • 德國超聲波掃描顯微鏡

    名稱:德國超聲波掃描顯微鏡型號:V-700E 產(chǎn)地:德國應(yīng)用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…...

    型號: V-700E 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/12/16 14:46:58 對比
    超聲波掃描顯微鏡失效分析超聲探傷無損檢測分層缺陷
  • 德國X射線及工業(yè)CT系統(tǒng)Y. CT Precision

    名稱: 德國X射線及工業(yè)CT系統(tǒng)Y. CT Precision型號:Y. CT Precision產(chǎn)地:德國應(yīng)用: Y. CT Precision是一款適用于中...

    型號: Y. CT Pre... 所在地:國外參考價: 面議更新時間:2024/12/16 14:44:52 對比
    高分辨率工業(yè)CTX射線檢測微焦點X光機無損檢測射線檢測
  • 高分辨率微焦點CT系統(tǒng) FF35 CT

    名稱: 高分辨率微焦點CT系統(tǒng) FF35 CT型號:FF35CT產(chǎn)地:德國應(yīng)用:FF35CT是一款緊湊型高分辨率計算機斷層掃描系統(tǒng),非常適合檢查您的中小型產(chǎn)品:...

    型號: FF35CT 所在地:國外參考價: 面議更新時間:2024/12/16 14:42:44 對比
    FF35 CTX射線檢測微焦點X光機無損檢測射線檢測
  • 德國微焦點X射線及工業(yè)CT FF20 CT

    名稱: 德國微焦點X射線及工業(yè)CT FF20 CT型號:FF20 CT產(chǎn)地:德國應(yīng)用:FF20 CT是一款緊湊型高分辨率計算機斷層掃描系統(tǒng),非常適合檢查您的小物...

    型號: FF20 CT 所在地:國外參考價: 面議更新時間:2024/12/16 14:41:09 對比
    FF20 CTX射線檢測微焦點X光機無損檢測射線檢測
  • 德國微焦點X射線檢測系統(tǒng)Y Cougar EVO系列

    名稱:德國微焦點X射線檢測系統(tǒng)Y Cougar EVO系列型號:Y Cougar EVO系列產(chǎn)地:德國應(yīng)用:主要用于檢測電子線路板,半導體產(chǎn)品、微電子元件及電路...

    型號: Y Cougar ... 所在地:國外參考價: 面議更新時間:2024/12/16 14:38:55 對比
    X射線實時成像系統(tǒng)X射線檢測微焦點X光機無損檢測射線檢測
  • 德國超聲波掃描顯微鏡

    名稱:德國超聲波掃描顯微鏡型號:V-1000E產(chǎn)地:德國應(yīng)用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…...

    型號: V-1000E 所在地:北京市參考價: 面議更新時間:2024/12/16 14:37:18 對比
    超聲波掃描顯微鏡失效分析超聲探傷無損檢測分層缺陷

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