FeRAM鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
內(nèi)存窗口信息是基于對(duì)器件*集成后進(jìn)行模擬電滯回線測(cè)量后得出的。應(yīng)用領(lǐng)域：鐵電存儲(chǔ)器的生產(chǎn)生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制，以便不會(huì)影響到CMOS生產(chǎn)過(guò)程在MHz的操作速度下...
鐵電遲豫電流測(cè)試儀 aixPES-RX 參考價(jià)：面議
本設(shè)備主要用來(lái)研究電子陶瓷材料的遲豫性能，也就是介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開(kāi)，并可記錄...
雙光束激光干涉儀 aixDBLI 參考價(jià)：面議
雙光束激光干涉儀專門(mén)用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數(shù)d33的測(cè)試。這一臺(tái)適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。半自動(dòng)的系統(tǒng)用于8“晶圓上的M...
熱釋電性能測(cè)試儀 aixPYM 參考價(jià)：面議
熱釋電性能測(cè)試儀 aixPYM(Pyroelectric Measurement)本系統(tǒng)主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。薄膜材料變溫范圍：-196℃...
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC 參考價(jià)：面議
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)本系統(tǒng)除了可以測(cè)...
熱電性能測(cè)試儀 COMTESSE 參考價(jià)：面議
熱電性能測(cè)試儀 COMTESSE(Thermoelectric Measurement)本系統(tǒng)主要用于熱電性能測(cè)試。包括：熱導(dǎo)率thermal conducti...
機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB 參考價(jià)：面議
機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB(Electromechanical thin film e31 analyzer )薄膜材料的機(jī)電性能是MEMS器件設(shè)計(jì)的關(guān)...
高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800 參考價(jià)：面議
高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800本系統(tǒng)主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到室溫到600℃或室溫到8...
多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀 aixPES-MR 參考價(jià)：面議
多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀 aixPES-MR(MagnetoResistive Measurement)本系統(tǒng)主要用于研究磁阻和鐵性材料。本系統(tǒng)提供連續(xù)電流激勵(lì)和...
低溫塊體壓電分析儀 aixPES-Cryo 參考價(jià)：面議
低溫塊體壓電分析儀 aixPES-Cryo本系統(tǒng)主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到-100℃到+600℃。大信...
Keithley DMM6500 6位觸摸屏數(shù)字萬(wàn)用表 參考價(jià)：面議
Keithley DMM6500 6位半圖形觸摸屏數(shù)字萬(wàn)用表Keithley DMMDMM6500 6位半圖形觸摸屏數(shù)字萬(wàn)用表觸摸屏工作
KEITHLEY 2450型數(shù)字源表 參考價(jià)：面議
KEITHLEY2450型觸摸屏數(shù)字源表是吉時(shí)利新一代數(shù)字源表(SMU)儀器。新型的圖表化用戶界面(GUI)和電容觸摸屏技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了直觀使用和學(xué)習(xí)曲線簡(jiǎn)便化，支...
GWYDR-500型高溫高壓電容測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
GWYDR-500型高溫高壓電容測(cè)試系統(tǒng)是一款專為實(shí)驗(yàn)室研制的高精度高溫高壓壓電容測(cè)試系統(tǒng)，突破了傳統(tǒng)的測(cè)量方式，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)...
YDZ-01壓電材料電阻率綜合測(cè)試儀（常溫） 參考價(jià)：面議
YDZ-01壓電材料電阻率測(cè)試儀（常溫）儀器適用于工礦企業(yè)、科研院壓電材料及絕緣材料電阻測(cè)量。也可用于微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。該儀器采用環(huán)形三電...
DLTB-600型地質(zhì)流體包裹體C測(cè)試裝置 參考價(jià)：面議
DLTB-600型地質(zhì)流體包裹體冷熱臺(tái)測(cè)試裝置DLTB-600測(cè)量地質(zhì)流體包裹體的均一化溫度和冰點(diǎn)溫度是地質(zhì)流體包裹體研究中一項(xiàng)重要的內(nèi)容。巖礦鑒定，包裹體均一...
WGDX-150型實(shí)驗(yàn)室微型壓電陶瓷高低試驗(yàn)箱 參考價(jià)：面議
WGDX-150型實(shí)驗(yàn)室微型壓電陶瓷高低試驗(yàn)箱關(guān)鍵詞：微型，實(shí)驗(yàn)級(jí)，高低溫，壓電陶瓷
BWGP-2000型變溫光譜測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
BWGP-2000型變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)（高低溫光譜系統(tǒng)）BWGP-2000變溫光譜測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)試樣品在低溫和高溫下光譜發(fā)射的變化情況，該儀器配置不同系能得光譜可...
GTC-700梯溫析晶測(cè)定儀，梯度爐 參考價(jià)：面議
GTC-700梯溫析晶測(cè)定儀，梯度爐是具有一定溫度梯度的熱處理爐，將玻璃試樣放在梯溫爐內(nèi)保溫一定時(shí)間，隨后在空氣中冷卻，通過(guò)確定析晶位置和對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)梯溫曲線，測(cè)定...
FJSRH-100型非金屬熔接焊機(jī)檢測(cè)校準(zhǔn)裝置 參考價(jià)：面議
非金屬壓力管道屬于特種設(shè)備。其安裝、維修的質(zhì)量對(duì)于工程安全至關(guān)重要。在非金屬壓力管道無(wú)損檢測(cè)技術(shù)尚不健全的現(xiàn)在，對(duì)非金屬壓力管道焊接設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)校準(zhǔn)，是控制非金...
FSR-600材料高溫雙波段發(fā)射率測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
SR-600材料雙波段發(fā)射率測(cè)量系統(tǒng)是儀器主要用于軍事裝備的紅外隱身、紅外烘烤、建材、紙張、紡織等行業(yè)對(duì)材料紅外輻射特性的測(cè)量研究。對(duì)紅外材料而言,輻射率是它的...
PZT-FJH02型高壓粉末極化裝置 參考價(jià)：面議
PZT-FJH02高壓極化裝置高壓極化裝置主要用于10KV/20KV以下粉末或其它壓電材料的極化處理，廣泛應(yīng)用于高校及從事壓電材料研究或生產(chǎn)的科研及生產(chǎn)單位。
PZT-JL03型壓電陶瓷居里點(diǎn)溫度測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
壓電陶瓷的居里溫度是指壓電材料從鐵電相轉(zhuǎn)變成順電相的相變溫度，對(duì)于所有的壓電陶瓷產(chǎn)品來(lái)說(shuō)，壓電材料都具有一個(gè)臨界溫度Tc即居里溫度，在臨界溫度以下壓電陶瓷表現(xiàn)出...
GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測(cè)量系統(tǒng)是國(guó)內(nèi)符合LXI標(biāo)準(zhǔn)的新一代高溫壓電阻抗測(cè)試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材...
TSDC/TSC--400 型熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
TSDC/TSC--400 型熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)（thermally stimulated depolarization currents, 簡(jiǎn)寫(xiě)為T(mén)SD...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
10