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上海樹信儀器儀表有限公司

涂層測(cè)厚儀，超聲波測(cè)厚儀，光澤度儀，哈納、羅威邦、哈希水質(zhì)分析儀

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Elektrophysik德國EPK MiniTest7400高精度涂層測(cè)厚儀

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  • 上海樹信儀器儀表有限公司
  • 2024-08-30 14:24:01
  • 上海市
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【簡單介紹】

品牌 ElektroPhysik/德國EPK 價(jià)格區(qū)間 2萬-5萬
產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 電子,冶金,航天,汽車,電氣
德國EPK MiniTest7400高精度涂層測(cè)厚儀（Elektrophysik）
特點(diǎn)
- 高精度涂層測(cè)厚儀
- 所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量
- 多種圖形顯示選項(xiàng)
- 菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理
- 用于簡易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件
- 測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭
- SIDSP技術(shù)提升JING確度和重現(xiàn)性

【詳細(xì)說明】

德國EPK

德國ElektroPhysik(簡稱EPK)公司是一家專門生產(chǎn)測(cè)厚儀的專業(yè)公司，自1954年以來一直致力于測(cè)厚類產(chǎn)品的開發(fā)和研究工作，是世界上生產(chǎn)測(cè)厚類產(chǎn)品的公司之一。

半個(gè)多世紀(jì)以來，EPK公司作為測(cè)厚領(lǐng)域的公司，在這個(gè)領(lǐng)域取得很高的聲譽(yù)，有著不可替代的地位。EPK產(chǎn)品包括：MikroTest麥考特系列機(jī)械型涂鍍層測(cè)厚儀，MiniTest 70系列口袋式便攜式涂鍍層測(cè)厚儀，MiniTest 700系列創(chuàng)新型SIDSP涂鍍層測(cè)厚儀，MiniTest 1100-2100-3100-4100系列/MiniTest 7400高精度涂鍍層測(cè)厚儀，MiniTest 600系列電子型涂鍍層測(cè)厚儀，QUINTSONIC超聲波涂層測(cè)厚儀，GALVANOTEST庫侖鍍層測(cè)厚儀，MiniTest 7200/7400 FH壁厚測(cè)厚儀，MiniTest 400系列超聲波測(cè)厚儀，CTM-S連續(xù)厚度測(cè)量系統(tǒng)，StratoTest 4100路面測(cè)厚儀，StratoTest 4100 C爐壁測(cè)厚儀，PoroTest 7涂層針孔檢測(cè)儀等。

主機(jī)參數(shù)

  型號(hào)MiniTest7400
  數(shù)據(jù)記憶組數(shù)500
  存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量約250000個(gè)讀數(shù)
  統(tǒng)計(jì)值(每批組)讀數(shù)個(gè)數(shù)，Z大值，Z小值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)偏差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)，過程能力指數(shù)CP和CPK，直方圖，趨勢(shì)圖
  校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)
  校準(zhǔn)模式多5點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值
  極限值監(jiān)控聲音、視覺報(bào)警提示超過極限值
  測(cè)量單位μm，mm，cm，mils，inch，thou
  操作/存放溫度-10℃~60℃/-20℃~70℃
  數(shù)據(jù)接口IrDA®1.0紅外接口，可選USB和RS232適配器
  電源4節(jié)AA(LR06型)電池，或可選外接電源(90－240V～/48－62Hz)
  規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn)DIN EN ISO 1461, 2064, 2178, 2360, 2808, 3882, 19840, AS3894; SS 1841 60,
SSPC-PA 2, IMO-PSPC, ASTM B 244, B 499, D 7091, E376
  顯示160x160像素LCD帶背光
  尺寸153mmx89mm32mm
  重量310g；(主機(jī)包括電池)

探頭參數(shù)

注：HD探頭是針對(duì)于油漆或粉塵污染等惡劣環(huán)境設(shè)計(jì)的堅(jiān)固探頭，F(xiàn)2HD特別適用于粗糙表面。

德國EPK MiniTest7400高精度涂層測(cè)厚儀（Elektrophysik）
特點(diǎn)
- 高精度涂層測(cè)厚儀
- 所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量
- 多種圖形顯示選項(xiàng)
- 菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理
- 用于簡易配置評(píng)估和數(shù)據(jù)設(shè)置報(bào)告的PC軟件
- 測(cè)量厚度高達(dá)35mm的各種耐磨探頭
- SIDSP技術(shù)提升JING確度和重現(xiàn)性

標(biāo)準(zhǔn)探頭HD探頭量程低端
分辨率		誤差重復(fù)性
(標(biāo)準(zhǔn)偏差)		Z小曲率
半徑
(凸/凹)		Z小測(cè)量
區(qū)域直徑(無測(cè)量標(biāo)準(zhǔn))

Z小測(cè)量
區(qū)域直徑(有測(cè)量標(biāo)準(zhǔn))

Z小基
體厚度
F05F05HD0~0.5mm0.02μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)1/7.5mm14mm5mm0.3mm
F1.5F1.5HD0~1.5mm0.05μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)1/7.5mm14mm5mm0.3mm
F1.5-90 0~1.5mm0.05μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)平面/5mm10mm5mm0.3mm
 F2HD0~2mm0.1μm±(1.5μm±0.75%)±(0.8μm±0.5%)1.5/10mm14mm-0.5mm
F5F5HD0~5mm0.1μm±(1.5μm±0.75%)±(0.8μm±0.5%)1.5/10mm14mm10mm0.5mm
F15 0-15mm1μm±(5μm±0.75%)±(2.5μm±0.5%)5/25mm25mm25mm1.0mm
F35 0-35mm5μm±(20μm±0.75%)±(10μm±0.5%)50/50mm100mm-1.5mm
N0.2N0.2HD0~0.7mm0.02μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)1/7.5mm14mm5mm40μm
N0.7N0.7HD0~0.7mm0.05μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)1/7.5mm14mm5mm40μm
N0.7-90 0~0.7mm0.05μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)平面/5mm10mm5mm40μm
N2.5N2.5HD0~2.5mm0.1μm±(1.5μm±0.75%)±(0.8μm±0.5%)1.5/10mm14mm10mm40μm
N7 0~2.5mm1μm±(5μm±0.75%)±(0.8μm±0.5%)15/25mm23mm20mm40μm
FN1.5
 		FN1.5HDF：0~1.5mm
N：0~0.7mm		0.05μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)1/7.5mm14mm5mmF：0.3mm
N：40μm
FN1.5-90 F：0~1.5mm
N：0~0.7mm		0.05μm±(1μm±0.75%)±(0.5μm±0.5%)平面/5mm10mm5mmF：0.3mm
N：40μm
FN5FN5HDF：0~5mm
N：0~2.5mm		0.1μm±(1.5μm±0.75%)±(0.8μm±0.5%)1.5/10mm14mm10mm

F：0.5mm
N：40μm

 

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