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目錄:北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司>>弱吸收儀>>LID光熱偏轉(zhuǎn)技術弱吸收儀>> LID光熱偏轉(zhuǎn)技術弱吸收儀

LID光熱偏轉(zhuǎn)技術弱吸收儀
  • LID光熱偏轉(zhuǎn)技術弱吸收儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時間:2022-09-27 15:49:18瀏覽次數(shù):1632評價

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產(chǎn)地類別 進口 應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子,交通
LID光熱偏轉(zhuǎn)技術弱吸收儀采用光熱偏轉(zhuǎn)技術,用于測量透明光學材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強激光照射下,材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象(熱透鏡效應),當一束探測光經(jīng)過“熱透鏡"效應區(qū)域時發(fā)生位置偏移,通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。



LID光熱偏轉(zhuǎn)技術弱吸收儀測量意義

在高功率激光系統(tǒng)中,光學鏡片的膜層及體材料吸收較大的話會引起以下熱透鏡效應進而產(chǎn)生一系列問題:
1.如下圖所示的焦距發(fā)生變化
2.波前畸變
3.退偏
4.膜層吸收是影響薄膜損傷閾值 的一個重要指標


1.PNG

原理示意圖

此系統(tǒng)采用光熱偏轉(zhuǎn)技術,用于測量透明光學材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強激光照射下,材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象(熱透鏡效應),當一束探測光經(jīng)過“熱透鏡"效應區(qū)域時發(fā)生位置偏移,通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。

13.jpg





LID技術參數(shù)一覽表

項目LID
儀器原理光熱偏轉(zhuǎn)技術
Pump激光器UV到IR常見激光波長任選
           光束質(zhì)量要求不高,可以同時配置多臺激光器
           不同波長光路切換簡單
Probe激光器LD 640nm
儀器校準電極校準 體吸收:樣品中間鉆孔放置棒型熱敏電 面吸收:表面放置熱敏電阻
測試項目體吸收、HR及AR膜吸收

LID與PCI比較一覽表

項目LID
樣品屬性要求任何未知樣品或已知樣品
測試結(jié)果吸收系數(shù)是絕對值
區(qū)分面、體吸收可以
樣品規(guī)格方形,且四面拋光(采用sandwich模塊只需兩面拋光);
           圓形:厚度1mm,φ25.4mm min:3x3x3mm(采用sandwich模塊)
           通常:20x20x10mm
靈敏度面吸收:0.1ppm 體吸收:0.1ppm/cm
測量速度40min/片

LID校準-電極校準

LID光熱偏轉(zhuǎn)技術弱吸收儀

采用電極校準得出校正因子Fcal, Ilid 為信號強度,Pl 為pump光功率。

特點:是無需了解樣品材料的特性,便可提供獨立校準。如果改變光熱偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)裝置,需要客戶自己插入和連接校準樣品,利用軟件完成自動校準。



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