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目錄:北京利曼科技有限公司>>全反射X熒光光譜儀>> TX 2000全反射X熒光光譜儀

全反射X熒光光譜儀
  • 全反射X熒光光譜儀
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 品牌 GNR/津鈉
  • 型號 TX 2000
  • 廠商性質 代理商
  • 所在地 北京市
屬性

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更新時間:2024-03-06 09:19:06瀏覽次數:12957評價

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價格區(qū)間 100萬-150萬 行業(yè)專用類型 通用
儀器種類 臺式/落地式 應用領域 綜合
TXRF全反射X熒光光譜儀分析原理是基于X熒光能譜法,但與X射線能譜形成對比的是,傳統(tǒng)能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品,而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角,原級X光束幾乎可以全部被反射,照射在樣品表面后,可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生,同時減小了載體的背景和噪聲,亦可減少樣品使用量。


  TXRF(全反射X熒光)分析原理是基于X熒光能譜法,但與X射線能譜形成對比的是,傳統(tǒng)能譜采用原級X光束以45°角轟擊樣品,而TXRF采用毫弧度的臨界角(接近于零度角)入射。由于采用此種近于切線方向的入射角,原級X光束幾乎可以全部被反射,照射在樣品表面后,可以很大程度上避免樣品載體吸收光束和減小散射的發(fā)生,同時減小了載體的背景和噪聲,亦可減少樣品使用量。
  TX2000 將全反射和傳統(tǒng)的能量色散集成在同一臺儀器上,創(chuàng)新光學編碼器的步進電機,角度測量,軟件控制Mo/W靶可自由切換,采用高分辨、低背景的帕爾貼控溫硅漂移檢測器。
  全反射X熒光光譜儀應用范圍
  TX2000 可檢測從鈉Na到钚Pu所有元素含量,可進行痕量或超痕量元素分析(ppt或pg),廣泛的應用在環(huán)境分析(水、灰塵、沉積物、大氣懸浮物),制藥分析(生物體液和組織樣品中的有害元素),法醫(yī)學(微小證據分析),化學純度分析(酸、堿、鹽、溶劑、水、超純試劑),油品分析(原油、輕質油、燃料油),染料分析(墨水、油漆、粉末),半導體材料分析(揮發(fā)相分解),核材料工業(yè)(放射性元素分析)。
  全反射X熒光光譜儀主要特點
  1、單內標校正,有效簡化了定量分析,無基體影響;
  2、對于任何基體的樣品可單獨進行校準和定量分析;
  3、多元素實時分析,可進行痕量和超痕量分析;
  4、不受樣品的類型和不同應用需求影響;
  5、*的液體或固體樣品的微量分析,分析所需樣品量??;
  6、優(yōu)良的檢出限水平,元素分析范圍從鈉覆蓋到钚;
  7、動態(tài)線性范圍;
  8、無需任何化學前處理,無記憶效應;
  9、非破壞性分析,運行成本低廉。
  根據分光系統(tǒng)的不同,XRF光譜儀主要有波長色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)兩種,二者結構示意如下圖:


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