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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
UV762紫外可見分光光度計(jì)應(yīng)用
UV762紫外可見分光光度計(jì)應(yīng)用
廣泛用于檢驗(yàn)、衛(wèi)生、生物化學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、商品檢驗(yàn)、石油化工、黑色和有色冶金等領(lǐng)域，是質(zhì)量控制、技術(shù)鑒定和科學(xué)研究所基本設(shè)備。
該是一種雙光束自動(dòng)掃描紫外可見分光光度計(jì)。采用了光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)、微機(jī)控制和處理數(shù)據(jù)、大屏幕LCD中文窗顯示操作菜單、光譜圖和分析測(cè)試數(shù)據(jù)。具有光度測(cè)量、自動(dòng)掃描測(cè)量光譜、定量分析、動(dòng)力學(xué)分光光度分析等多項(xiàng)功能。分析靈敏度和度高；光譜數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)；采用中文人機(jī)對(duì)話、操作方便；儀器外形美觀大方。
◆光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，使儀器的主機(jī)具有光學(xué)性能和測(cè)光性能，雜散光和噪聲低，測(cè)光度和穩(wěn)定可靠性高。
◆軟件設(shè)計(jì)和編制，使儀器有光譜數(shù)據(jù)處理功能：自動(dòng)掃描測(cè)量光譜、多波長（1-3λ）測(cè)定、動(dòng)力學(xué)測(cè)定、1-3次曲線擬合、1-4階導(dǎo)數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。
性能指標(biāo)：
◆波長允許誤差：≤±0.5nm
◆透射比允許誤差：±0.5％（τ）
◆光譜帶寬：2nm
◆漂移：0.004A/h（500nm處,預(yù)熱2小時(shí)）
◆雜光：0.15%（在220nm處，以Nal測(cè)定） （在360nm處，以NaNO2測(cè)定）
紫外可見分光光度計(jì)的故障分析：
（1）不使用氘燈時(shí)如何關(guān)閉氘燈
當(dāng)連接儀器時(shí)，選擇儀器＞配置＞保養(yǎng)標(biāo)簽，然后點(diǎn)擊氘燈邊上的燈狀態(tài)框，除去復(fù)選標(biāo)記。只要掃描范圍和固定波長測(cè)定不在氘燈的范圍之內(nèi)時(shí)，氘燈將處于關(guān)閉狀態(tài)。
（2）燈是如何進(jìn)行準(zhǔn)直的
實(shí)際上燈并不移動(dòng)。在初始化時(shí)，驅(qū)動(dòng)燈反光鏡的步進(jìn)馬達(dá)連接有傳感器，當(dāng)檢測(cè)器發(fā)現(xiàn)能量時(shí)，反饋信號(hào)到燈室，步進(jìn)馬達(dá)的傳感器自動(dòng)記憶此時(shí)的反光鏡位置。當(dāng)檢查所有的位置后，反光鏡自動(dòng)返回到記憶的位置。
（3）紫外區(qū)讀數(shù)漂移的原因
確認(rèn)氘燈是否點(diǎn)亮。氘燈的使用時(shí)間是否超過了預(yù)期的500h壽命，一旦超過，光強(qiáng)減弱，也許需要新。此外可檢查夾縫寬度的設(shè)置是否太小。
（4）為什么有時(shí)在儀器初始化中會(huì)出現(xiàn)氘燈能量或波長正確度故障
出現(xiàn)上述現(xiàn)象的原因可能如下:
①樣品盒參比池中有樣品池
②使用某些附件，如池定位裝置、抽吸單元等，沒有坐落在正確的位置上或未準(zhǔn)直。
③如果安裝了抽吸單元，流通池臟了、空了或沒有準(zhǔn)直。
④氘燈的使用時(shí)間接近或超過預(yù)期的500h壽命，燈的能量降低乃至不能通過能量檢查，并且由于噪聲增加，使波長正確度的檢查也失敗。此時(shí)，換新的燈一切問題迎刃而解。