SYPT-2平行平晶（千分尺計量建標(biāo)專用）

一．產(chǎn)品簡介：

SYPT-2平行平晶（檢測千分尺計量建標(biāo)專用）是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。平行平晶用用于干涉法測量檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。適用于光學(xué)加工廠、廠礦企業(yè)計量室、精密加工車間、閥門密封面現(xiàn)場檢測使用，也適用于高等院校、科學(xué)研究等單位做平面度等檢測。

二．功能特點：
1.具有高精度的平面性和平行性。

2.采用A級光學(xué)玻璃，穩(wěn)定性好，無色透明。

3.壽命長、不受環(huán)境溫度影響。

三．技術(shù)指標(biāo)：
 每組平行平晶共四塊，分四個尺寸系列組
 測量面上平面度偏差： <0.1μm
 平面度局部偏差： 　  >0.03μm
 測量面平行度誤差：  組Ⅰ系列允差值：0.06μm
                     組Ⅱ、Ⅲ系列允差值：0.08μm
                     組Ⅳ系列允差值：0.1μm

四．平行平晶規(guī)格分類：

平行平晶共分四個系列，每組四塊。

平行平晶尺寸系列表

五．工作原理：

平晶是利用光波干涉現(xiàn)象測量平行度誤差的，故其測量方法稱為平晶干涉法（圖2）,也稱技術(shù)光波干涉法。測量時,把平晶放在被測表面上,且與被測表面形成一個很小的楔角 θ，以單色光源照射時會產(chǎn)生干涉條紋。干涉條紋的位置與光線的入射角有關(guān)。如入射光線垂直于被測表面，且平晶與被測表面間的間隙很小,則由平晶測量面P反射的光線與被測表面反射的光線在測量面 P發(fā)生干涉而出現(xiàn)明或暗的干涉條紋。若在白光下，則出現(xiàn)彩色干涉條紋。如干涉條紋平直，相互平行,且分布均勻,則表示被測表面的平面度很好；如干涉條紋彎曲，則表示平面度不好。其誤差值為f= (v/ω)×(λ/2)

λ為光波波長，白光的平均波長為0.58μm,ν為干涉帶彎曲量，ω為干涉帶間距。