1、 性能參數(shù)及指標(biāo)
分析元素范圍：S-U；
元素含量分析范圍：0.0001%-99.99%（采用1024道多道分析器）；
采用美國(guó)航天的Si (PIN) 半導(dǎo)體探測(cè)器計(jì)數(shù)，能量分辨率160eV；
測(cè)量范圍：2－30KeV；
測(cè)量下限：Cd:15ppm;Pb、Hg:10ppm;Br:10ppm;Cr:30ppm;(以塑膠標(biāo)樣為例）；
測(cè)量物質(zhì)狀態(tài)：固體、粉末、液體均可檢測(cè)，制樣簡(jiǎn)單；
校正方式：采用歐盟RoHS塑膠標(biāo)樣校準(zhǔn)數(shù)據(jù)；
重復(fù)性：<0.1%；
穩(wěn)定性：< 0.01%；
高壓：5kV-40kV（激發(fā)源40KV-鎢靶微型X射線管）；
管流：10μA-100μA；
整機(jī)能量分辨率：180-190eV；
檢測(cè)時(shí)間：120S～240S；
額定功率：50W；
儀器重量：25Kg；
一體化，性能穩(wěn)定，運(yùn)行可靠，性?xún)r(jià)比高；全中文應(yīng)用軟件，操作簡(jiǎn)單，測(cè)量時(shí)間短；同時(shí)配備PC機(jī)，分析儀通過(guò)無(wú)線藍(lán)牙可單獨(dú)和PC進(jìn)行通信測(cè)試，方便使用；
適用于電子產(chǎn)品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、Cd、Cr）檢測(cè)；
2 、儀器硬件配置
40KV小型X光管；
美國(guó)航天的Si（PIN）半導(dǎo)體探測(cè)器計(jì)數(shù)，能量分辨率160eV；
自制放大電路及分析主機(jī)；
樣杯兩套；
制樣機(jī)一臺(tái)；
制樣模具一套；
計(jì)算機(jī)一臺(tái)（P4，液晶顯示屏）；
打印機(jī)一臺(tái)（噴墨打印機(jī)）；
分析軟件一套；