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當前位置:北京恒奧德科技有限公司>>行業(yè)專用儀器>>專用儀器儀表>> HY-FD-3019閃爍γ測井儀 (數字傳輸型)
產地類別 | 國產 | 應用領域 | 電子 |
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閃爍γ測井儀 型號:HY-FD-3019
HY-FD-3019改進型閃爍γ測井儀主要對操作臺進行改進,除保留原功能外,增加了數據儲存等功能。探管除電壓由操作臺供電,其他方法等保持不變(符合核工業(yè)γ測井儀規(guī)范。操作臺采用微計算機電路。整套儀器集成度高,操作簡單??梢耘渲秒娔X及測井數據處理程序,現場獲取結果。儀器主要用于地面鉆孔中的放射性γ強度測量。確定鈾礦床的礦石品位。也可用于放射性方法測量地下水情等。
主要性能
1、測量范圍:本底~20000-6(2%鈾當量)大達4%鈾當量。
2、靈敏度:262±12S-1/100×10-6(在標準飽和模型中)。
3、精度:儀器讀數以置信度為99%;一次讀數均方差為≤±5%。
4、含量線性:100×10-6~20000×10-6相對誤差≤±5%。
5、使用環(huán)境:探棒-10℃~+60℃。操作臺-10℃~+45℃。
濕度(66±15%)相比極限條件下的附加誤差≤10% 。
6、測井深度:儀器可以根據用戶需要匹配1000m之內不同長度的電纜。
7、儀器采用微計算機電路,背光液晶顯示,觸摸鍵操作。可預制系數,讀數ppm、cps,數據儲存2000個。有標準接口可與計算機相聯。
8、供電:操作臺采用12v充電電池;探棒由操作臺3節(jié)充電電池 供電,可連續(xù)工作24小時。
9、儀器根據需要可配FD-61K輕便絞車作地面深井測量。
10、尺寸及重量:操作臺:300×200×210mm, 探棒:φ40×755mm 。
注:HY-FD-3019改進型閃爍γ測井儀(系統(tǒng))有主機、探管還包括手提電腦、γ測井數據處理軟件.
便攜式懸浮物測試儀 型號 HAD-SS-2A
一、產品概述
適用于大、中、小型水廠及工礦企業(yè)、生活或工業(yè)用水的懸浮物濃度檢測,以便控制水的懸浮物達到規(guī)定的水質標準。
二、產品原理:
本儀器應用微電腦光電子比色檢測原理取代傳統(tǒng)的目視比色法。消除了人為誤差,因此測量分辨率大大提高。
參數
測量范圍 | 0-1000mg/L |
小示值 | 0.01mg/L |
重復性 | ≤2% |
精度 | ±5%FS±1個字 |
充電器 | AC 220V 50Hz |
三.特點:
1.全中文菜單、微電腦,輕觸式鍵盤,LCD液晶數字清晰顯示,使用方便。
2.采用分光光度的光電比色原理,水樣放入儀器后即可讀數,數字顯示測定值。
3.本公司特制的LED光源自動控制電路,光源穩(wěn)定,解決了開機預熱問題。其光源壽命長達20年,開機時無需預熱,可直接使用。
4.主機內置打印機及大功率電池,可用于野外現場定量測量,充電4小時可連續(xù)使用4小時,即充即用。
5.儀器內存儲有全量程范圍內的標定曲線 ,具有斷電保護,標定數據不會丟失??勺詣诱{零和5點自動校正,數據有非線性處理及數據平滑功能,儀表小讀數為0.01mg/L。
6.融合多項自主成果,,符合國標《重量法》。
懸浮物測定儀 臺式懸浮物測試儀 型號 HAD-LSS-200
指標
1. 測量范圍:0-1000mg/L (含0-100和100-1000兩個量程)
2. 示值誤差:≤± 2% (F.S) ±1個字
3. 重現性 :≤ ± 2 %
4. 小分辨率:0.01 mg/L
5. 每小時漂移:< 0.1 mg/L
6. 外形尺寸:266×200×130mm
7. 重量:1kg
8. 儀器在開機通電半小時后可在下列環(huán)境下連續(xù)運行:
⑴環(huán)境溫度: 5~40℃ ⑵相對濕度: ≤70%
⑶供電電源: AC(220±10%)V; 50Hz
⑷避免強光直接照射,無顯著的振動及強電磁干擾
儀器特點
1、利用進口高性能、長壽命(10萬小時)、高亮度光源,配以窄帶濾光系統(tǒng),
光學穩(wěn)定性*,不易受到各種光的干擾,因而儀器精度高、穩(wěn)定性好。
2、大屏幕LCD中文顯示,中文菜單操作,簡便、直觀。
3、可保存標準曲線10條及500個測定值,斷電不丟失。
4、主機機殼采用模后ABS材料,防腐蝕性好。
5、采用高性能、低功耗16位單片機系統(tǒng),性能。
配置清單
主機1臺、電源線一根、比色皿2只,使用說明書1份,產品合格證1份及保修卡1份。
產品名稱:便攜式粉塵檢測儀 便攜式激光粉塵檢測儀 |
1.
產品介紹
2.
HAD-JCF-5C便攜式激光粉塵檢測儀是新一代粉塵濃度檢測儀器,可實時快速測量空氣中不同粒徑的顆粒物濃度。聚創(chuàng)環(huán)保儀器符合工業(yè)企業(yè)衛(wèi)生標準(GBZ1-2002)、工作場所有害因素接觸限值(GBZ2-2002)標準、衛(wèi)生部WS/T206-2001《公共場所空氣中可吸入顆粒物(PM10)測定法-光散射法》標準、勞動部LD98-1996《空氣中粉塵濃度的光散射式測定法》標準以及衛(wèi)生部衛(wèi)監(jiān)督發(fā)〔2006〕58號文件頒布實施的《公共場所集中空調通風系統(tǒng)衛(wèi)生規(guī)范》。
JCF-5C便攜式激光粉塵檢測儀可廣泛應用于疾病控制中心、衛(wèi)生監(jiān)督、環(huán)境監(jiān)測、各企業(yè)等對環(huán)境中PM2.5、可吸入顆粒物進行快速監(jiān)測。適用于公共場所、中央空調排氣口可吸入顆粒物濃度的快速測定,以及用于空氣凈化器凈化效率評價等。
二、產品參數
1、★測量原理:激光散射,佩戴切割器
2、★測量粒徑:同時檢測并顯示PM2.5、PM10、TSP濃度,可根據用戶要求定制其他粒徑
3、測量范圍:PM2.5、PM10測量范圍0.001~10 mg/m³;TSP測量范圍0.001~100 mg/m³;根據用戶要求定制其他測量范圍
4、測量靈敏度:0.001mg/m³
5、采樣時間:標準時間為1分鐘,用戶可根據自己的實際需求自由設定
6、電源:220VAC/12VDC 電源適配器、可充電電池組
7、★連續(xù)測量:可自行設定間隔時間并進行連續(xù)測量
8、★零值校準:儀器可對零點誤差進行校準。
9、★K值設定:可根據用戶的需求調節(jié)K 值,出廠調試默認K值。
10、數據處理:可連接電腦,可連接打印機,打印機為選配件
11、★購買儀器可贈送檢定報告復印件一份。
三、產品特點
1、人體工程學,輕便小巧,便于攜帶
2、儀器內置實時時鐘,測量數據和時間一一對應,方便用戶查看和使用數據
3、一機多用,可同時測量并顯示PM2.5、PM10和TSP的濃度
4、測量時間可自由設置,便于滿足不同種類用戶不同場地的測量需求
5、大容量存儲空間,便于測量數據的存儲和查看
6、★佩戴數據處理軟件,便于用戶的統(tǒng)計與分析
7、內置電池,交直流兩用,使用更加便捷
產品名稱:薄膜測厚儀 測厚儀 |
儀器介紹
HAD-SGC-10薄膜測厚儀,適用于介質,半導體,薄膜濾光片和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該薄膜測厚儀,是我公司與美國new-span公司合作研制的,采用new-span公司的薄膜測厚,基于白光干涉的原理來測定薄膜的厚度和光學常數(折射率n,消光系數k)。通過分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜,用軟件來擬合運算,得到單層或多層膜系各層的厚度d,折射率n,消光系數k。該設備關鍵部件均為國外進口,也可根據客戶需要*。
- 強大的軟件功能
界面友好,操作簡便,用戶點擊幾下鼠標就可以完成測量。便捷快速的保存、讀取測量得到的反射譜數據數據處理功能強大,可同時測量多達四層的薄膜的反射率數據。一次測量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學常數等數據。材料庫中包含了大量常規(guī)的材料的光學常數數據。用戶可以非常方便地自行擴充材料數據庫。
- 產品功能適用性
該儀器適用于多種介質,半導體,薄膜濾光片和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。
- 典型的薄膜材料為
SiO2、CaF2、MgF、光刻膠、多晶硅、非晶硅、SiNx、TiO2、聚酰亞胺、高分子膜。
- 典型的基底材料為
SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、鋁丙烯酸、藍寶石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。
儀器具有開放性,儀器的光纖探頭可很方便地取出,通過儀器附帶的光纖適配器(如圖所示)連接到帶C-mount適用于微區(qū)(>10μm,與顯微鏡放大率有關)薄膜厚度的顯微鏡(顯微鏡需另配),就可以使本測量儀測量。
基本配置及參數
產品名稱:薄膜測厚儀 測厚儀 貨 號:29204 產品型號:HAD-SGC-10 |
HAD-SGC-10薄膜測厚儀,適用于介質,半導體,薄膜濾光片和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該薄膜測厚儀,是我公司與美國new-span公司合作研制的,采用new-span公司的薄膜測厚,基于白光干涉的原理來測定薄膜的厚度和光學常數(折射率n,消光系數k)。通過分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜,用軟件來擬合運算,得到單層或多層膜系各層的厚度d,折射率n,消光系數k。該設備關鍵部件均為國外進口,也可根據客戶需要*。
- 強大的軟件功能
界面友好,操作簡便,用戶點擊幾下鼠標就可以完成測量。便捷快速的保存、讀取測量得到的反射譜數據數據處理功能強大,可同時測量多達四層的薄膜的反射率數據。一次測量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學常數等數據。材料庫中包含了大量常規(guī)的材料的光學常數數據。用戶可以非常方便地自行擴充材料數據庫。
- 產品功能適用性
該儀器適用于多種介質,半導體,薄膜濾光片和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。
- 典型的薄膜材料為
SiO2、CaF2、MgF、光刻膠、多晶硅、非晶硅、SiNx、TiO2、聚酰亞胺、高分子膜。
- 典型的基底材料為
SiGe、GaAs、ZnS、ZnSe、鋁丙烯酸、藍寶石、玻璃、聚碳酸酯、聚合物、石英。
儀器具有開放性,儀器的光纖探頭可很方便地取出,通過儀器附帶的光纖適配器(如圖所示)連接到帶C-mount適用于微區(qū)(>10μm,與顯微鏡放大率有關)薄膜厚度的顯微鏡(顯微鏡需另配),就可以使本測量儀測量。
基本配置及參數
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