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海洋光學(xué)SpecEl-2000-VIS橢偏儀,海洋光學(xué)

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更新時(shí)間:2016-11-28 15:02:41瀏覽次數(shù):2404

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產(chǎn)品簡介

橢偏儀測膜厚的優(yōu)點(diǎn)?1.測量對象廣泛:可測透明膜,多層膜和其他性能不同厚度不同的膜。?2.被測量的薄膜尺寸可以很小。?3.測量速度快。(7-13s檢測時(shí)間)?4.光學(xué)測量方法對樣品表面損傷Z小。?5.測量精度高,海洋光學(xué)橢偏儀可以達(dá)到0.1nm的精度,而國內(nèi)同類型產(chǎn)品只能達(dá)到1nm精度.?6.非苛刻性測量,樣品可是塊狀固體或薄膜

詳細(xì)介紹

 

海洋光學(xué)SpecEl 橢偏儀基本原理:測量光在反射或者穿透待測樣品時(shí)其偏振性質(zhì)的改變。而偏振性質(zhì)的改變主要是由樣品的性質(zhì),如厚度d、折射率n或消光系數(shù)k決定。

•偏振態(tài)的改變主要表現(xiàn)為振幅tan(Psi)和相位cos(Delta)的變化,而相位的變化會(huì)導(dǎo)致干涉條紋的產(chǎn)生,橢偏儀就是根據(jù)干涉光譜的分析來得出n,k,d.
•橢偏儀優(yōu)勢:非破壞性、非苛刻性、高精度和高靈敏度

海洋光學(xué)SpecEl 橢偏儀


 

SpecEl-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光,進(jìn)而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEl通過PC控制來實(shí)現(xiàn)折射率,吸光率及膜厚的測量。

集成的精確測量系統(tǒng)

SpecEl由一個(gè)集成的光源,一個(gè)光譜儀及兩個(gè)成70°的偏光器構(gòu)成,并配有一個(gè)32位操作系統(tǒng)的PC.該橢偏儀可測量0.1nm-5um厚的單膜,并且折射率測量可達(dá)0.005%。

SpecEl軟件及Recipe配置文件

通過SpecEI軟件,你可以配置及存貯實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)方法實(shí)現(xiàn)一鍵分析,所有的配置會(huì)被存入recipe文件中。創(chuàng)建recipe后,你可以選擇不同的recipe來執(zhí)行你的實(shí)驗(yàn)。

 

SpecEI軟件截圖顯示的Psi及Delta值可以用來計(jì)算厚度,折射率及吸光率。

配置說明

波長范圍:380-780 nm (標(biāo)準(zhǔn)) 或450-900 nm (可選)
光學(xué)分辨率:4.0 nm FWHM
測量精度:厚度0.1 nm ; 折射率 0.005%
入射角:70°
膜厚:單透明膜1-5000 nm
光點(diǎn)尺寸:2 mm x 4 mm (標(biāo)準(zhǔn)) 或 200 µm x 400 µm (可選)
采樣時(shí)間:3-15s (zui小)
動(dòng)態(tài)記錄:3 seconds
機(jī)械公差 (height):/- 1.5 mm, 角度 /- 1.0°
膜層數(shù):至多32層
參考:不用

 

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