電離層測高儀用于測試電離層特性參量及其變化，從而判斷空間電場、電子密度等信息。主要特性參量包括組成成分、總電子含量、電子密度、電子溫度、離子密度、離子溫度、電場強度、磁場強度、不均勻結構的尺度、高度分布和漂移運動等。
電離層測高儀
電離層測高儀用于測試電離層特性參量及其變化，從而判斷空間電場、電子密度等信息。主要特性參量包括組成成分、總電子含量、電子密度、電子溫度、離子密度、離子溫度、電場強度、磁場強度、不均勻結構的尺度、高度分布和漂移運動等。
這種探測方法是美國G.布賴特和 M.A.圖夫二人于1925年發(fā)明的，至今仍是的基本的手段。以前，世界只有少量電離層垂測站。大戰(zhàn)期間,為了改善短波通信,在*建立了大量的垂測站。在期間,這種觀測站已有150處以上。中國在1949年前有重慶、武漢、蘭州三個站，1949年以后，先后增設了滿洲里、烏魯木齊、長春、北京、廣州、?？诘日荆纬闪艘粋€較完整的協(xié)同觀測的垂測網，積累了兩個太陽黑子周期以上的資料。
此設備實質上是一臺短波脈沖雷達，通常由發(fā)射機、接收機、天線、、顯示記錄器、程序控制器等組成。其工作頻率可在整個短波波段的頻率范圍 （0.5～30兆赫）內連續(xù)改變。此設備進行探測時，發(fā)射機的高頻脈沖振蕩通過天線垂直向上輻射，不計碰撞和地磁場的影響,根據(jù)阿普頓-哈特里公式（見磁離子理論），電離層介質的折射指數(shù)為
式中稱為;f為發(fā)射頻率（兆赫）。對應于電離層中某一高度的電子密度值N(單位為米-3)各有一個fN值。利用測高儀對電離層某層進行探測時，將發(fā)射機頻率f由低值逐漸增高,當f=fN時，n=0，電波就從與N 相對應的高度反射回來。如果該層大電子密度值為Nm，則從該層反射的電波頻率為
式中fC為該層的臨界頻率。如果f>fC,電波將穿過該層入射到更高的電離層次。當 f的值足夠高而使電波能穿過的層次時，這個頻率即為整個電離層的穿透頻率。
假設脈沖波群在電離層介質中的傳播速度同在自由空間中一樣，那么，根據(jù)反射下來的回波脈沖與發(fā)射脈沖之間的時延t，即可決定反射點的高度為
式中 c為真空中的光速。但實際上電離層介質中電波的群速度小于光速c。因此，由上式算出的 h′不是反射點的真正高度 h，它可能比h高得多。通常稱h′為等效高度或虛高。
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