紅外屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)，紅外屏綜合測(cè)試儀，紅外屏測(cè)試儀，電容屏測(cè)試儀，電容屏綜合測(cè)試儀主要參數(shù)：

紅外屏點(diǎn)擊劃線試驗(yàn)機(jī)，紅外屏綜合測(cè)試儀，紅外屏測(cè)試儀，電容屏測(cè)試儀，電容屏綜合測(cè)試儀儀器特點(diǎn)：

1. 客戶提供觸摸數(shù)控IC 之工作通信協(xié)議，即可采集、分析、統(tǒng)計(jì)紅外觸摸屏之點(diǎn)擊精度、劃線精度、靈敏度、坐標(biāo)抖動(dòng)、報(bào)點(diǎn)頻率、響應(yīng)時(shí)間等性能，客戶提供觸摸數(shù)控IC 之底層通信協(xié)議，即可完成信噪比測(cè)試測(cè)試，兼容多家品牌IC，如Cypress（賽普拉斯）、Atmel（愛*）、敦泰（Focaltech）、melfas、pixcir、Elan、leadis、SSL、Avago、seni、Hiamx、Synopsys、匯頂科技等；

2. 滿足CTP 屏精度測(cè)試、抖動(dòng)測(cè)試、線性度測(cè)試、靈敏度測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間劃線測(cè)試、長(zhǎng)時(shí)間點(diǎn)擊測(cè)試；

3. 運(yùn)動(dòng)軌跡及測(cè)試：方便的坐標(biāo)找點(diǎn)功能，只需于[教導(dǎo)程序]上任取三點(diǎn)可生成圓、三角等運(yùn)動(dòng)軌跡，任取二點(diǎn)可劃線，任取四點(diǎn)劃矩形，并可根據(jù)測(cè)試屏規(guī)格存儲(chǔ)運(yùn)動(dòng)軌跡便于下次調(diào)用；

4. 強(qiáng)大的存儲(chǔ)功能： 由于測(cè)試文件存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)內(nèi)，不限組數(shù)，測(cè)試數(shù)據(jù)，方便調(diào)用；

5. 可實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前X、Y、Z 軸坐標(biāo)值，電機(jī)驅(qū)動(dòng)速度、實(shí)時(shí)位置變化等；

6. 強(qiáng)大的測(cè)試軟件：軟件根據(jù)觸摸屏常用的測(cè)試方法，預(yù)置了多種測(cè)試方法，客戶只需要輸入觸摸屏的尺寸W&L，選擇測(cè)試方法（如精度測(cè)試、線性度測(cè)試等）即可測(cè)試，無(wú)需每次編輯；

7. 機(jī)臺(tái)采用高剛性鋁制表面經(jīng)陽(yáng)極氧化處理，富有質(zhì)感；

8. XYZ 三軸采用日本松下伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)，日本THK 精密滾珠螺桿+雙THK 線性導(dǎo)軌傳動(dòng)，高速低噪聲，耐久使用；定位精準(zhǔn)，重復(fù)精度≤0.01mm 為業(yè)內(nèi)zui高；

9. 軟件精準(zhǔn)定位功能：可通過X1、X2、Y2 三個(gè)點(diǎn)精準(zhǔn)定位試樣，一次設(shè)定保存后，同規(guī)格樣品無(wú)需再次校對(duì)定位，效率更率，精度更高；

10. 雙工位輪流測(cè)試式設(shè)計(jì)，可選用真空吸附CTP 屏，加快了測(cè)試速度，節(jié)省換屏和夾裝時(shí)間；

11. 設(shè)備結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，充分考慮到人體工程易操作性，布局合理，將干擾源降到zui低。

電容屏綜合測(cè)試儀測(cè)試項(xiàng)目：

1. 滿足CTP 屏廠產(chǎn)線測(cè)試---更換不同通信協(xié)議端口，可快速實(shí)現(xiàn)不同IC 之屏測(cè)試；滿足手機(jī)、平板電腦等整機(jī)測(cè)試，通過WIFI 傳輸測(cè)試數(shù)據(jù)給電腦軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集、分析、統(tǒng)計(jì)，并生成PDF測(cè)試報(bào)表；

2. 點(diǎn)擊精度測(cè)試---根據(jù)客戶不同要求，在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置設(shè)置多點(diǎn)點(diǎn)擊，測(cè)試每個(gè)點(diǎn)的位置偏差，并支持兩點(diǎn)同時(shí)點(diǎn)擊，真實(shí)地檢測(cè)出產(chǎn)品的處理能力及精準(zhǔn)度；

3. 劃線線性度測(cè)試---支持平行線、垂直線、對(duì)角線、圓弧等多種圖像來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品的線性偏差?？稍跍y(cè)試區(qū)域內(nèi)任意設(shè)置線距、線數(shù)及弧度的大小，并支持兩點(diǎn)同時(shí)劃線、兩點(diǎn)劃圓等多種測(cè)試方式，達(dá)到更精確的體現(xiàn)產(chǎn)品的特性；

4. 靈敏度測(cè)試---可設(shè)定不同的劃線軌跡，實(shí)現(xiàn)接觸式劃線或非接觸式劃線，觸筆離產(chǎn)品的高度可按設(shè)定調(diào)節(jié)，并能自動(dòng)找出觸控高度；

5. 坐標(biāo)抖動(dòng)測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域內(nèi)可設(shè)置多種測(cè)試圖形，并對(duì)每個(gè)點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行多次讀取，并計(jì)算出偏差值；

6. 劃線可靠性測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域內(nèi)設(shè)置多種測(cè)試圖形，并按特定的時(shí)間及順序進(jìn)行劃線，判定在測(cè)試過程中是否有斷線現(xiàn)象；

7. 信噪比測(cè)試---通過對(duì)產(chǎn)品多點(diǎn)點(diǎn)擊測(cè)試，采集IC 采集的信號(hào)值并計(jì)算信噪比（需IC 協(xié)議支持）；

8. 報(bào)點(diǎn)頻率測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域中心位置觸控產(chǎn)品，多次采集數(shù)據(jù)，計(jì)算出產(chǎn)品發(fā)出數(shù)據(jù)的頻率；

9. 響應(yīng)時(shí)間測(cè)試---在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意位置點(diǎn)擊，通過控制觸控并采集計(jì)算出產(chǎn)品的響應(yīng)時(shí)間，支持多點(diǎn)響應(yīng)時(shí)間測(cè)試；

10. 功耗測(cè)試---通過高精度毫瓦級(jí)功耗測(cè)試模塊測(cè)試出產(chǎn)品的靜態(tài)及動(dòng)態(tài)功耗（需IC 協(xié)議支持）；

11. 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫(kù)功能，能快速的對(duì)采集回來(lái)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析統(tǒng)計(jì)，實(shí)現(xiàn)圖形與數(shù)據(jù)鏈接，自動(dòng)生成各種測(cè)試報(bào)告，此報(bào)告格式可能要根據(jù)不同客戶要求改動(dòng)；

12. 軟件防呆能力、權(quán)限設(shè)置、一鍵式測(cè)試，操作簡(jiǎn)易，測(cè)試完畢可根據(jù)設(shè)定指標(biāo)（偏差值）自動(dòng)判定PASS OR FAIL。

紅外屏綜合測(cè)試儀，紅外屏測(cè)試儀，電容屏測(cè)試儀，電容屏綜合測(cè)試儀精度測(cè)試：

1. 測(cè)試方法：參照下圖所示的區(qū)域?qū)?3個(gè)圓形區(qū)域用接地的標(biāo)準(zhǔn)銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）進(jìn)行觸摸，測(cè)試觸摸要20次以上，每次觸摸100ms，然后抬起500ms。記錄下TP報(bào)出的坐標(biāo)，圖2中區(qū)域劃分成4×4，長(zhǎng)寬計(jì)算如圖所示（W-5）/4，青色為非邊緣區(qū)（觸摸點(diǎn)1、2、3、4、5），藍(lán)色為邊緣區(qū)（觸摸點(diǎn)6、7、8、9、10、11、12、13）。

2. 判定標(biāo)準(zhǔn)：記錄下的坐標(biāo)有無(wú)超出±1mm（非邊緣區(qū)），±2mm（邊緣區(qū)），超出結(jié)論為NG，不超出結(jié)論為OK。

電容屏測(cè)試儀，電容屏綜合測(cè)試儀抖動(dòng)測(cè)試：

3. 測(cè)試方法：參照上面精度測(cè)試中圖所示，對(duì)每個(gè)點(diǎn)用接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）進(jìn)行觸摸，不支放置5S，記錄下坐標(biāo)。

4. 判定標(biāo)準(zhǔn)：記錄下的坐標(biāo)有無(wú)超出±1mm（非邊緣區(qū)），±1.5mm（邊緣區(qū)），超出結(jié)論為NG，不超出結(jié)論為OK。

紅外屏綜合測(cè)試儀，紅外屏測(cè)試儀，電容屏測(cè)試儀，電容屏綜合測(cè)試儀線性度測(cè)試：

1. 測(cè)試方法：參照下圖中左邊三個(gè)所示的路徑用接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）分別以5mm/S和50mm/S畫線，記錄下坐標(biāo)的偏離度，其中豎線路徑從左到右分別為豎1到豎5，從上到下為橫1到橫5，從左上角到右下角為左對(duì)角，從右上角到左下角為右對(duì)角。

2. 判定標(biāo)準(zhǔn)：坐標(biāo)的偏離度如上右圖所示偏離超出±1mm的為NG，不超出的為OK

，紅外屏綜合測(cè)試儀，紅外屏測(cè)試儀，電容屏測(cè)試儀，電容屏綜合測(cè)試儀靈敏度測(cè)試：

1. 測(cè)試方法：參照右圖對(duì)TP屏幕進(jìn)行劃分Nx×Ny，Nx=W/1mm，Ny=H/1mm，按所示的路徑有接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）以5mm/S畫線，觀察是否有斷線。

2. 判定標(biāo)準(zhǔn)：若有斷線為NG，否則為OK。

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1. 測(cè)試方法：參照下圖所示對(duì)TP進(jìn)行分觸摸點(diǎn)定位，用銅柱（具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）分別以高速1S/點(diǎn)，中速1.5S/點(diǎn)，低速2S/點(diǎn)依次觸點(diǎn)，其中先以高速觸完所有屏幕點(diǎn)后停4分鐘，再接著從頭開始，如此反復(fù)4小時(shí)，接著以中速進(jìn)行4小時(shí)，接著再以低速進(jìn)行4小時(shí)。觀察報(bào)點(diǎn)坐標(biāo)超出范圍。

2. 判定標(biāo)準(zhǔn)：測(cè)試過程中不應(yīng)有斷線。

，紅外屏綜合測(cè)試儀，紅外屏測(cè)試儀，電容屏測(cè)試儀，電容屏綜合測(cè)試儀主要配置：