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行業(yè)產(chǎn)品

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北京元中銳科集成檢測技術(shù)有限公司>>光電一體化>>反射率測定儀>> USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀

鏡片反射率測定儀

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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) USPM-RUⅢ
  • 品牌 OLYMPUS/奧林巴斯
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市
在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品

更新時(shí)間:2017-07-09 01:44:07瀏覽次數(shù):1584

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產(chǎn)品簡介

USPM-RUⅢ是在原USPM-RU儀器上開發(fā)出的換代產(chǎn)品,是鏡片反射率測定儀的新機(jī)型。薄鏡片也不受背面反射光的影響,能實(shí)現(xiàn)高速、高精度的分光測定。

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹:

消除背面反射光
  采用特殊光學(xué)系,消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。

可測定微小領(lǐng)域的反射率

  用對物鏡對焦于被測面的微小區(qū)域(φ60μm),可測定鏡片曲面及鍍膜層脫落。

測定時(shí)間短 
  使用Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測定,可迅速實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。

XY色度圖、L*a*b*測定可能
  以分光測定法為基準(zhǔn),從分光反射率情況可測定物體顏色。

Hard Coat(高強(qiáng)度鍍膜)膜厚測定可能
  用干涉光分光法,可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚(單層膜)。

主要用途
        · 各種透鏡(眼鏡透鏡、光讀取頭鏡片等) 
        · 反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定(單層膜)

與原產(chǎn)品的主要區(qū)別 
        · 采用全新的USPM-RUⅢ框架及設(shè)計(jì),提高了操作性能。 
        · 受臺(tái)Z方向的移動(dòng)范圍從35mm(原產(chǎn)品)擴(kuò)大到了85mm。 
        · 電源規(guī)格可對應(yīng)AC100V以及AC220V。 (請您在下訂單時(shí)注明電源規(guī)格。) 
        · 優(yōu)化了軟件的功能。(可顯示10次測定的功能等) 
        · XY受臺(tái)移動(dòng)方向增加了比例尺。 
        · 更換鹵燈時(shí)不需調(diào)整燈的位置。 
        · PC與Interface采用了USB式連接。
       

產(chǎn)品規(guī)格 

測定波長 380nm~780nm
測定方法 與參照試料的比較測定
被測物N.A. 0.12(使用10×對物鏡時(shí))
0.24(使用20×對物鏡時(shí))
※與對物鏡的N.A不同
被測物W.D. 10.1mm(使用10×對物鏡時(shí))
3.1mm(使用20×對物鏡時(shí))
被測物的曲率半徑 -1R~-∞、+1R~∞
被測物的測定范圍 約φ60μm(使用10×對物鏡時(shí))
約φ30μm(使用20×對物鏡時(shí))
被測物再現(xiàn)性 ±0.1%以下(2σ)(380nm~410nm測定時(shí))
±0.01%以下(2σ)(410nm~700nm測定時(shí))
表示精度 1nm
測定時(shí)間 數(shù)秒~十?dāng)?shù)秒(因取樣時(shí)間各異)
光源規(guī)格 鹵燈 12V100W
裝置重量 本體:約20kg(電腦、打印機(jī)除外)
光源用電源:約3kg、控制器:約8kg
裝置尺寸 本體:300(W)×550(D)×570(H)mm
光源用電源:150(W)×250(D)×140(H)mm
控制器盒:220(W)×250(D)×140(H)mm
電源規(guī)格 光源用電源:100V (2.8A)/220V AC
控制器盒:100V(0.2A)/220V AC
使用環(huán)境 水平且無振動(dòng)的場所
溫度:23±5℃
濕度:60%以下、無結(jié)露
軟件 ■測定參數(shù)設(shè)定

保存環(huán)境文檔、可讀取
■分光反射率測定

設(shè)定參考值(固定值、分散式、可選擇文檔數(shù)據(jù))
取樣時(shí)間設(shè)定
判定是否合格
波長方向刻度
■物體顏色測定

XY色度圖、L*a*b*色度圖
標(biāo)準(zhǔn)光源設(shè)定(A、B、C、D65)
視野設(shè)定(2°視野、10°視野)
■膜厚(單層膜)測定

鍍膜材料折射率
*作為特別訂貨,可對應(yīng)測定波長為440nm~840nm。  
· 本裝置不保證為Traceability體系中的精度。
· 如規(guī)格及外觀發(fā)生變更恕不另行通知,敬請諒解。

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